藤原幸雄 (Yukio Fujiwara) - マイポータル

基本情報

所属: 国立研究開発法人産業技術総合研究所計量標準総合センター分析計測標準研究部門

学位: 博士（工学）

J-GLOBAL ID: 200901059704544165
researchmap会員ID: 5000086790

研究分野

ナノテク・材料 / 分析化学 /

論文

Significant decrease in surface charging of electrically isolated ionic liquid by cluster ion bombardment

Yukio Fujiwara

Journal of Vacuum Science & Technology A 2024年5月1日
Temperature effects on electrospray current from an externally wetted EMI-Im ionic liquid ion source

Yukio Fujiwara

Journal of Vacuum Science & Technology B 2023年12月1日
Effects of the temperature of a protic ionic liquid on ion beam production by vacuum electrospray

Yukio Fujiwara

Journal of Vacuum Science & Technology B 2023年3月1日
Negative ion beam bombardment of a protic ionic liquid: Alleviating surface charging and damage and analyzing the surface of organic insulating materials

Yukio Fujiwara, Naoaki Saito

Journal of Vacuum Science & Technology A 2022年9月1日
Negative-cluster ion beam production from the tip of a sharp needle: Suppression of surface charging and surface analysis of an insulated sample

Yukio Fujiwara, Naoaki Saito

Journal of Vacuum Science & Technology A 39(6) 063218-063218 2021年12月査読有り筆頭著者責任著者
Evaluation of Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry Spectra of Peptides by Random Forest with Amino Acid Labels: Results from a Versailles Project on Advanced Materials and Standards Interlaboratory Study

Satoka Aoyagi, Yukio Fujiwara, Akio Takano, Jean-Luc Vorng, Ian Gilmore, Yung-Chen Wang, Elke Tallarek, Birgit Hagenhoff, Shin-ichi Iida, Andreas Luch …

Analytical Chemistry 2021年3月9日
Electrochemical Reactions of Ionic Liquid in Vacuum and Their Influence on Ion-Beam Production by Electrospray

Yukio Fujiwara

Journal of The Electrochemical Society 167(16) 166504-166504 2020年11月27日査読有り筆頭著者責任著者
Ion beam generation from a protic ionic liquid source with an externally wetted tungsten needle

Yukio Fujiwara, Naoaki Saito

Journal of Applied Physics 126 244901 2019年12月査読有り
イオン液体を用いた有機試料の二次イオン質量分析（SIMS）

藤原幸雄, 齋藤直昭

表面と真空 61(7) 446-451 2018年7月査読有り
Cluster ion beam generation from a wetted needle emitter for organic secondary ion mass spectrometry (organic SIMS) using a protic ionic liquid, propylammonium nitrate

Fujiwara, Y., Saito, N.

Rapid Communications in Mass Spectrometry 32(21) 1867-1874 2018年査読有り
Time-of-flight secondary ion mass spectrometry using a new primary ion beam generated by vacuum electrospray of a protic ionic liquid, propylammonium nitrate

Yukio Fujiwara, Naoaki Saito

RAPID COMMUNICATIONS IN MASS SPECTROMETRY 31(22) 1859-1867 2017年11月査読有り
Effects of a proton-conducting ionic liquid on secondary ion formation in time-of-flight secondary ion mass spectrometry

Yukio Fujiwara, Naoaki Saito

RAPID COMMUNICATIONS IN MASS SPECTROMETRY 30(1) 239-249 2016年1月査読有り
Increasing the intensity of protonated secondary ions in time-of-flight secondary ion mass spectrometry using a proton-conducting ionic liquid, diethylmethylammonium trifluoromethanesulfonate

Yukio Fujiwara, Naoaki Saito

APPLIED PHYSICS EXPRESS 8(7) 2015年7月査読有り
Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) using an ionic-liquid primary ion beam source

Yukio Fujiwara, Naoaki Saito

SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 46 348-352 2014年11月査読有り
Development of an ionic-liquid ion beam Source for Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)

Yukio Fujiwaray, Naoaki Saito

e-Journal of Surface Science and Nanotechnology 12 119-123 2014年3月15日査読有り
Stabilities and dissociation reactions of the Irm(CO) n+ ions observed in TOF-SIMS of Ir4(CO) 12 thin layer

Taisuke Nakanaga, Hidekazu Nagai, Naoaki Saito, Yukio Fujiwara, Hidehiko Nonaka

Chemical Physics Letters 556 44-48 2013年1月29日査読有り
Emission characteristics of a charged-droplet beam source using vacuum electrospray of an ionic liquid

Yukio Fujiwara, Naoaki Saito, Hidehiko Nonaka, Shingo Ichimura

Surface and Interface Analysis 45(1) 517-521 2013年1月査読有り
Component analysis of a mixed beam generated by vacuum electrospray of an ionic liquid

Yukio Fujiwara, Naoaki Saito, Hidehiko Nonaka, Shingo Ichimura

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 111(6) 2012年3月査読有り
Beam Characteristics of Positively and Negatively Charged Droplets Generated by Vacuum Electrospray of an Ionic Liquid

Yukio Fujiwara, Naoaki Saito, Hidehiko Nonaka, Shingo Ichimura

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 51(3) 2012年3月査読有り
Mass shift in the mass spectra of TOF-SIMS and the analysis of kinetic energies of the ions

Taisuke Nakanaga, Hidekazu Nagai, Naoaki Saito, Yukio Fujiwara, Hidehiko Nonaka

INTERNATIONAL JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY 311 24-30 2012年2月査読有り

もっとみる

MISC

Cluster Ion Beam Source Using Vacuum Electrospray of Ionic Liquids for Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)

Yukio Fujiwara, Naoaki Saito, Hidehiko Nonaka, Taisuke Nakanaga, Shingo Ichimura

7th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '09 471-474 2009年12月
キャピラリーによるイオンビームの収束

渡辺幸次, 近藤貢二, 藤原幸雄, 齋藤直昭, 野中秀彦, 一村信吾

J Vac Soc Jpn 52(3) 117-120 (J-STAGE)-120 2009年
Observation of a sputtered Si surface irradiated by metal cluster complex ions

Y. Teranishi, K. Kondou, Y. Fujiwara, H. Nonaka, K. Yamamoto, T. Fujimoto, S. Ichimura

Digest of Papers - Microprocesses and Nanotechnology 2005: 2005 International Microprocesses and Nanotechnology Conference 2005 146-147 2005年12月1日
Beamlet-beamlet interaction in a multi-aperture negative ion source

Yukio Fujiwara, Masaya Hanada, Yoshikazu Okumura, Kazuhiro Watanabe, Kenichi Kawai

Review of Scientific Instruments 71(8) 3059-3064 2000年

共同研究・競争的資金等の研究課題

新規クラスター負イオンビーム源の開発：反応性プロトン含有ＦＩＢ技術のＳＩＭＳ展開

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 2022年4月 - 2025年3月

藤原幸雄
高感度・高面分解能な有機系二次イオン質量分析の実現：新規クラスタービーム源の開発

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 2019年4月 - 2023年3月

藤原幸雄
プロトン性イオン液体を用いたビーム源の開発：有機系ＳＩＭＳの感度と面分解能の向上

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 2016年4月 - 2019年3月

藤原幸雄
イオン液体を用いた高集束性液滴ビーム源の開発：有機系試料の高精度SIMSへの展開

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 2013年4月 - 2016年3月

藤原幸雄
溶液中の大質量陰イオンの負イオンビーム化と二次イオン質量分析(SIMS)への展開

日本学術振興会科学研究費助成事業若手研究(B) 2007年 - 2008年

藤原幸雄

藤原幸雄

基本情報

研究分野

論文

MISC

共同研究・競争的資金等の研究課題

メニュー

共著者の一覧