Bolotov Leonid
ボロトフ レオニード (Leonid Bolotov)
更新日: 01/17
論文
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Microelectronic Engineering 258 2022年4月
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Materials Science in Semiconductor Processing 121 105396-105396 2021年1月
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2019 SILICON NANOELECTRONICS WORKSHOP (SNW) 47-48 2019年
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Applied Physics Express 12(1) 015504 2019年1月 査読有り
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AIP Advances 2018年12月 査読有り
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Materials Science in Semiconductor Processing 83 107-114 2018年8月15日 査読有り
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APPLIED PHYSICS EXPRESS 10(12) 2017年12月 査読有り
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Scientific Reports 6(2016) 2016年9月13日 査読有り
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Japanese Journal of Applied Physics 55(4) 2016年4月 査読有り
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AIP Advances 6(4) 045220 2016年4月 査読有り
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Jpn. J. Appl. Phys. 55(4) 04EK02 2016年3月9日
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MRS Advances 1(5) 375-380 2016年 査読有り
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Microscopy and Analysis 2016年 査読有り
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AIP ADVANCES 5(10) 107219 2015年10月 査読有り
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JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 117(20) 205303 2015年5月 査読有り
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JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 54(4) 2015年4月 査読有り
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JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 116(2) 2014年7月 査読有り
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2014 INTERNATIONAL CONFERENCE ON SIMULATION OF SEMICONDUCTOR PROCESSES AND DEVICES (SISPAD) 129-132 2014年 査読有り
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Japanese Journal of Applied Physics 52(4) 2013年4月 査読有り
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Transactions of the Materials Research Society of Japan 38(2) 257-260 2013年
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Transactions of the Materials Research Society of Japan 38(2) 265-268 2013年
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JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 51(8) 2012年8月 査読有り
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JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 50(4) 2011年4月 査読有り
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e-Journal of Surface Science and Nanotechnology 9 117-121 2011年3月26日 査読有り
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Journal of the Vacuum Society of Japan 54(7-8) 412-419 2011年 査読有り
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International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, SISPAD 259-262 2011年 査読有り
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ADVANCED GATE STACK, SOURCE/DRAIN, AND CHANNEL ENGINEERING FOR SI-BASED CMOS 5: NEW MATERIALS, PROCESSES, AND EQUIPMENT 19(1) 117-126 2009年 査読有り
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SECOND INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ATOMIC TECHNOLOGY 106(1) 12002-12002 2008年 査読有り
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JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B 26(1) 415-419 2008年1月 査読有り
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Applied Physics Letters 91(6) 2007年8月 査読有り
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APPLIED PHYSICS LETTERS 90(12) 2007年3月 査読有り
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FRONTIERS OF CHARACTERIZATION AND METROLOGY FOR NANOELECTRONICS: 2007 931 535-+ 2007年 査読有り
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Japanese Journal of Applied Physics, Part 2: Letters 44(46-49) L1436-L1438 2005年 査読有り
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CHARACTERIZATION AND METROLOGY FOR ULSI TECHNOLOGY 2005 788 232-235 2005年 査読有り
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Applied Physics Letters 85(23) 5791-5791 2004年12月 査読有り
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Surface Science 572(2-3) 521 2004年11月20日 査読有り
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JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B 22(6) 2863-2863 2004年11月 査読有り
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JOURNAL OF PHYSICS-CONDENSED MATTER 15(42) S3065-S3081 2003年10月 査読有り
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Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics 68(3) 334041-334044 2003年7月 査読有り
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Japanese Journal of Applied Physics, Part 2: Letters 42(2 B) L204-L207 2003年2月15日 査読有り
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Molecular Crystals and Liquid Crystals Science and Technology Section A: Molecular Crystals and Liquid Crystals 386(PART 1) 129-133 2002年 査読有り
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European Physical Journal D 16(1-3) 271-274 2001年9月 査読有り
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Applied Physics Letters 78(23) 3720-3722 2001年6月 査読有り
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表面科学 22(4) 225-231 2001年4月10日
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APPLIED PHYSICS LETTERS 77(26) 4368-4370 2000年12月 査読有り
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JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B 18(6) 3497-3500 2000年11月 査読有り
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Surface Science 462(1-3) 85-89 2000年8月 査読有り
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SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 27(5-6) 533-536 1999年5月 査読有り