二川 清

1949年大阪市生まれ。
大阪大学大学院基礎工学研究科物理系修士課程 修了。工学博士。
1974年－2009年、NEC、NECエレクトロニクスにて半導体の信頼性・故障解析技術の研究開発と実務に従事。その間、日本信頼性学会副会長、理事、評議員など。
現在、大阪大学大学院 特任教授、金沢工業大学大学院 客員教授、芝浦工業大学、東京理科大学 非常勤講師。電子情報技術産業協会・半導体技術ロードマップ委員会・故障解析技術SWGリーダー、日本信頼性学会LSI故障解析研究会主査。
主な著書に、『LSIの信頼性』（編著、日科技連出版社、2010年）、『信頼性問題集』（編著、日科技連出版社、2009年）、『LSIテスティングハンドブック』（編著、オーム社、2008年）、『故障解析技術』（日科技連出版社、2008年）、『はじめてのデバイス評価技術』（工業調査会、2000年）がある。
信頼性技術功労賞（IEEE信頼性部門日本支部）、推奨報文賞、奨励報文賞（日科技連信頼性･保全性シンポジウム）、論文賞（レーザ学会）。