2019年10月22日
Useful ion yields estimated from secondary ion and sputtering yields produced by vacuum electrospray droplet ion beams
22th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS-22)
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- 開催年月日
- 2019年10月20日 - 2019年10月25日
- 記述言語
- 英語
- 会議種別
- 口頭発表（一般）
- 主催者
- Chair: Jiro Matsuo
- 開催地
- Miyako Messe, Kyoto
- 国・地域
- 日本
- リンク情報
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- 共同研究・競争的資金等の研究課題
- 真空型エレクトロスプレー液滴イオンビームによる二次イオン質量分析の高性能化