岡崎壮平 (Souhei Okazaki) - マイポータル - researchmap

基本情報

所属: 旧所属東京大学理学部化学科大学院生

J-GLOBAL ID: 200901042390398720
researchmap会員ID: 5000090935

研究キーワード

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MISC

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High-throughput characterization of local conductivity of Nd0.9Ca0.1. Ba2CU3O7-delta thin film by the low-temperature scanning microwave microscope

S Okazaki, N Okazaki, XR Zhao, H Sugaya, S Yaginuma, R Takahashi, M Murakami, Y Matsumoto, T Chikyow, H Koinuma …

APPLIED SURFACE SCIENCE 252(7) 2615-2621 2006年1月
The Development of Scanning Microwave Microscope for High-Throughput Characterization of Dielectric and Conducting Materials at Low Temperatures

Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 804, 249-254 2004年

所属学協会

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応用物理学会