論文

査読有り
2018年12月

Accurate Defect Detection in Thin-Wall Structures with Transducer Networks via Outlier Elimination

IEEE Sensors Journal
  • Xiang Li
    • ,
  • Shuxue Ding
    • ,
  • Benying Tan
巻
18
号
23
開始ページ
9619
終了ページ
9628
記述言語
英語
掲載種別
研究論文（学術雑誌）
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