2017年8月9日
断熱型磁束量子パラメトロンを用いた9万接合回路の歩留まり評価 (超伝導エレクトロニクス)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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- 巻
- 117
- 号
- 171
- 開始ページ
- 13
- 終了ページ
- 18
- 記述言語
- 日本語
- 掲載種別
- 出版者・発行元
- 電子情報通信学会
- リンク情報
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- CiNii Articles
- http://ci.nii.ac.jp/naid/40021317475
- CiNii Books
- http://ci.nii.ac.jp/ncid/AN10012885
- URL
- http://id.ndl.go.jp/bib/028511930
- ID情報
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- ISSN : 0913-5685
- CiNii Articles ID : 40021317475
- CiNii Books ID : AN10012885