共同研究・競争的資金等の研究課題

2011年 - 2012年

低温・高密度プラズマ中の輸送特性解明に向けた直接AC-DC導電率計測法の開発

日本学術振興会  科学研究費助成事業 若手研究(B)  若手研究(B)

課題番号
23740406
体系的課題番号
JP23740406
配分額
(総額)
4,680,000円
(直接経費)
3,600,000円
(間接経費)
1,080,000円

低温・高密度プラズマは,固体やプラズマと異なる特性を持つため,その輸送特性の解明が必要不可欠である.本研究課題は,低温・高密度プラズマの特性の一つである電気伝導度に着目し,直流及び可視光領域の交流導電率を定量的に評価するため,定積パルスパワー放電法を用いた導電率の直接計測法の構築を行った.従来の導電率モデルや過去に実施された電気伝導率の結果を比較すると,本装置で得られる直流導電率は銅の場合にはおおよそ一致していたが,金の場合には従来のモデルと異なることが明らかとなった.また,可視光領域の導電率を評価するために,エリプソメトリックな計測システムの構築を行い,低温・高密度プラズマの偏光状態を評価した.

リンク情報
URL
https://kaken.nii.ac.jp/file/KAKENHI-PROJECT-23740406/23740406seika.pdf
KAKEN
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-23740406
ID情報
  • 課題番号 : 23740406
  • 体系的課題番号 : JP23740406