MISC

2016年

Rapid specimen preparation to improve throughput of electron microscopic volume imaging

日本顕微鏡学会関東支部講演会予稿集

THAI Truc Quynh
NGUYEN Huy Bang
SAITOH Sei
SAITOH Yurika
SHIMO Satoshi
ELEWA Yaser
Hosny Ali
ICHII Osamu
KON Yasuhiro
TAKAKI Takashi
JOH Kensuke
OHNO Nobuhiko

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巻: 40th
号
開始ページ: 26
終了ページ
記述言語: 英語
掲載種別

リンク情報

J-GLOBAL: https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201602202796406436
URL: http://jglobal.jst.go.jp/public/201602202796406436

ID情報

J-Global ID : 201602202796406436

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