産業財産権

特許権

分離装置及び分離方法、並びに検査装置及び検査方法

  • 浮田 芳昭
  • ,
  • 内藤 大揮
  • ,
  • 二宮 啓
  • ,
  • 岩野 智彦
  • ,
  • 吉村 健太郎

出願番号
特願2020-118417
出願日
2020年7月9日
公開番号
特開2022-015517
公開日
2022年1月21日
特許番号/登録番号
特許7464271号
登録日
2024年4月1日
発行日