産業財産権

特許権

質量分析装置及び質量分析システム

  • 吉村 健太郎
  • ,
  • 石井 裕貴
  • ,
  • チェン リーチュイン

出願番号
特願2018-004860
出願日
2018年1月16日
公開番号
特開2019-124563
公開日
2019年7月25日
特許番号/登録番号
特許7158642号
登録日
2022年10月14日
発行日