特許権 質量分析装置、質量分析方法、質量分析システム、及び質量分析解析プログラム 国立大学法人山梨大学 吉村 健太郎, 石井 裕貴, チェン リーチュイン 出願番号 特願2018-004860 出願日 2018年1月16日 公開番号 特開2019-124563 公開日 2019年7月25日
