産業財産権

特許権

質量分析装置、質量分析方法、質量分析システム、及び質量分析解析プログラム

国立大学法人山梨大学
  • 吉村 健太郎
  • ,
  • 石井 裕貴
  • ,
  • チェン リーチュイン

出願番号
特願2018-004860
出願日
2018年1月16日
公開番号
特開2019-124563
公開日
2019年7月25日