産業財産権

特許権

質量分析装置及び質量分析方法、並びに解析装置及び解析方法

  • 吉村 健太郎
  • ,
  • チェン リーチュイン
  • ,
  • 二宮 啓

出願番号
特願2017-079391
出願日
2017年4月13日
公開番号
特開2018-181600
公開日
2018年11月15日
特許番号/登録番号
特許7025621号
登録日
2022年2月16日
発行日