Industrial Property Rights

Patent

質量分析装置及び質量分析方法、並びに解析装置及び解析方法

国立大学法人山梨大学
  • 吉村 健太郎
    • ,
  • チェン リーチュイン
    • ,
  • 二宮 啓
Application no.
特願2017-079391
Date applied
Apr 13, 2017
Announcement no.
特開2018-181600
Date announced
Nov 15, 2018
Patent/Registration no.
特許7025621号
Date registered
Feb 16, 2022
Date issued
To Industrial Property Rights list