2018年8月28日
2D‐FDTD法による表面回折格子の散乱係数解析とその薄膜DRレーザ特性への影響
電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM)
- ,
- ,
- ,
- ,
- ,
- 巻
- 2018
- 号
- 開始ページ
- ROMBUNNO.C‐4‐16
- 終了ページ
- 記述言語
- 日本語
- 掲載種別
- リンク情報
- ID情報
-
- ISSN : 1349-144X
- J-Global ID : 201802285681515957