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2013年9月8日

S133012 Siのエッチング援用スライスにおける切断特性の向上([S133]先進砥粒加工技術)

年次大会 : Mechanical Engineering Congress, Japan
  • 村田 順二
  • ,
  • 土田 剛史
  • ,
  • 谷 泰弘
  • ,
  • 張 宇
  • ,
  • 桐野 宙治
  • ,
  • 川波多 裕司

2013
開始ページ
"S133012
終了ページ
1"-"S133012-3"
記述言語
日本語
掲載種別
出版者・発行元
一般社団法人日本機械学会

Si wafers for solar cells are fabricated by slicing ingot using mechanical slicing method such as multi-wire sawing. Recently, the slicing method for achieving low kerf loss and thin wafer without generating subsurface damage is strongly required because of the increasing demand of low-cost Si wafers. The etching-assisted slicing method is abrasive free machining process employing chemical etching of Si. The method can achieve a lower kerf loss than the mechanical slicing and damage-free Si surface. In this paper, the removal characteristics of Si ingot are discussed under the different slicing conditions.

リンク情報
CiNii Articles
http://ci.nii.ac.jp/naid/110009934244
CiNii Books
http://ci.nii.ac.jp/ncid/AA12588255
ID情報
  • CiNii Articles ID : 110009934244
  • CiNii Books ID : AA12588255

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