黒田 理人

J-GLOBALへ         更新日: 18/09/03 09:43
 
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研究者氏名
黒田 理人
 
クロダ リヒト
URL
http://db.tohoku.ac.jp/whois/detail/923257bb295b463e9260860bcdb93eee.html
所属
東北大学
部署
大学院工学研究科・工学部 技術社会システム専攻 実践技術経営融合講座 技術適応計画分野
職名
准教授
学位
博士(工学)(東北大学), 修士(工学)(東北大学)

研究キーワード

 
 

研究分野

 
 

委員歴

 
2014年4月
 - 
現在
電子情報通信学会 エレクトロニクス ソサイエティ シリコン材料・デバイス研究会  幹事
 
2013年4月
 - 
現在
映像情報メディア学会 情報センシング研究会  委員
 
2017年4月
 - 
2018年3月
2017 International Electron Device Meeting  Sub-committee Chair, Optoelectronics, Displays and Imagers
 
2017年3月
 - 
2018年2月
IS&T Electronic Imaging 2018, Image Sensors and Imaging Systems 2018  Program Committee Member
 
2017年4月
 - 
2017年9月
International Conference on Solid State Devices and Materials  Vice-chair (Area 5 Advanced Circuits and Systems)
 

受賞

 
2016年11月
International Selection Committee of 2016 nac High Speed Imaging Award The 2016 nac High Speed Imaging Award for their development of an Ultra High Speed CMOS Image Sensor with improved light sensitivity that is capable of capturing 20 million frames per second with a significant reduction in power consumption. This sensor is now commercially employed in the Shi
受賞者: Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
 
2015年6月
International Image Sensor Workshop, Organizing Committee 2015 International Image Sensor Workshop, Best Poster Award
受賞者: Fumiaki Kusuhara, Shunichi Wakashima, Satoshi Nasuno, Rihito Kuroda, and Shigetoshi Sugawa
 
2013年12月
一般社団法人映像情報メディア学会 一般社団法人映像情報メディア学会第16回・平成25年度優秀研究発表賞 200-1000nmの広光波長帯域に感度を有する高紫外光照射耐性CMOSイメージセンサ (2013年9月研究会)
 
2012年9月
2012 年国際固体素子・材料コンファレンス(SSDM2012) SSDM2012 Young Researcher Award On the Si Surface Flattening Effect and Gate Insulator Breakdown Characteristic
受賞者: Rihito Kuroda
 
2012年9月
電気学会 電気学会 平成23年度電子・情報・システム部門研究会 優秀論文発表賞 デュアルシリサイドを用いた低直列抵抗CMOSソース/ドレイン電極形成技術
 
2011年12月
財団法人青葉工学振興会 第17回青葉工学研究奨励賞 原子オーダー平坦ゲート絶縁膜/シリコン界面を有する金属-絶縁膜-半導体デバイスの高性能化
 
2007年6月
2007 International Image Sensor Workshop 2007 International Image Sensor Workshop Best Poster Award Analysis of Source Follower Random Telegraph Signal Using nMOS and pMOS Array TEG
受賞者: Kenichi Abe, Shigetoshi Sugawa, Rihito Kuroda, Shunichi Watabe, Naoto Miyamoto, Akinobu Teramoto, Tadahiro Ohmi
 
2007年3月
東北大学 東北大学 工学研究科長賞
 
2006年1月
IEEE Electron Device Society Japan Chapter IEEE Electron Device Society Japan Chapter Student Award
 

論文

 
Yasuyuki Fujihara, Yusuke Aoyagi, Maasa Murata, Satoshi Nasuno, Shunichi Wakashima, Rihito Kuroda, Kohei Terashima, Takahiro Ishinabe, Hideo Fujikake, Kazuhiro Wako and Shigetoshi Sugawa
ITE Transactions on Media Technology and Applications   6(3) 187-194   2018年7月   [査読有り]
Rihito Kuroda, Akinobu Teramoto and Shigetoshi Sugawa
ITE Transactions on Media Technology and Applications   6(3) 171-179   2018年7月   [査読有り]
ITE Transactions on Media Technology and Applications   6(3) 163-170   2018年7月   [査読有り]
A High Sensitivity and Compact Real Time Gas Concentration Sensor for Semiconductor and Electronic Device Manufacturing Process
Hidekazu Ishii, Masaaki Nagase, Nobukazu Ikeda, Yoshinobu Shiba, Yasuyuki Shirai, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
233rd ECS Meeting Abstracts   MA2018-01 2416-2416   2018年4月   [査読有り]
Shinya Ichino, Takezo Mawaki, Akinobu Teramoto, Rihito Kuroda, Hyeonwoo Park, Shunichi Wakashima, Tetsuya Goto, Tomoyuki Suwa, Shigetoshi Sugawa
Japanese Journal of Applied Physics   57(4S) 04FF08-1-04FF08-6   2018年3月   [査読有り]
Hyeonwoo Park, Akinobu Teramoto, Rihito Kuroda, Tomoyuki Suwa and Shigetoshi Sugawa
Japanese Journal of Applied Physics   57(4S) 04FE11-1-04FE11-5   2018年3月   [査読有り]
Manabu Suzuki, Masashi Suzuki, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
IS&T International Symposium on Electronic Imaging, Image Sensors and Imaging Systems 2018   398-1-398-4   2018年1月   [査読有り]
High-speed multi-bandpass liquid-crystal filter using dual-frequency liquid crystal for real-time spectral imaging system
Takahiro Ishinabe, Kohei Terashima, Kazuhiro Wako, Yasuyuki Fujihara, Yusuke Aoyagi, Maasa Murata, Satoshi Nasuno, Shunichi Wakashima, Rihito Kuroda, Yosei Shibata, Shigetoshi Sugawa, Hideo Fujikake
International Display Workshops   10555-29-10555-29   2018年1月   [査読有り]
Narrow-Bandpass Liquid Crystal Filter for Real-Time Multi Spectral Imaging Systems
Kohei Terashima, Takahiro Ishinabe, Kazuo Wako, Yasuyuki Fujihara, Yusuke Aoyagi, Maasa Murata, Satoshi Nasuno, Shunichi Wakashima, Rihito Kuroda, Yosei Shibata, Shigetoshi Sugawa, Hideo Fujikake
International Display Workshops   259-261   2017年12月   [査読有り]
Impact of Drain Current to Appearance Probability and Amplitude of Random Telegraph Noise in Low Noise CMOS Image Sensors
Shinya Ichino, Takezo Mawaki, Akinobu Teramoto, Rihito Kuroda, Hyeonwoo Park, Takeru Maeda, Shunichi Wakashima, Tetsuya Goto, Tomoyuki Suwa, Shigetoshi Sugawa
Extended Abstracts of the 2017 International Conference on Solid State Devices and Materials   331-332   2017年9月   [査読有り]
Analysis of Random Telegraph Noise Behaviors of nMOS and pMOS toward Back Bias Voltage Changing
Takezo Mawaki, Akinobu Teramoto, Rihito Kuroda, Shinya Ichino, Shigetoshi Sugawa
Extended Abstracts of the 2017 International Conference on Solid State Devices and Materials   333-334   2017年9月   [査読有り]
Experimental Investigation of Localized Stress Induced Leakage Current Distribution in Gate Dielectrics Using Array Test Circuit
Hyeonwoo Park, Tomoyuki Suwa, Rihito Kuroda, Akinobu Teramoto, Shigetoshi Sugawa
Extended Abstracts of the 2017 International Conference on Solid State Devices and Materials   785-786   2017年9月   [査読有り]
Kiichi Furukawa, Akinobu Teramoto, Rihito Kuroda, Tomoyuki Suwa, Keiichi Hashimoto, Shigetoshi Sugawa, Daisuke Suzuki, Yuichiro Chiba, Katsutoshi Ishii, Akira Shimizu, and Kazuhide Hasebe
Japanese Journal of Applied Physics   56 105503-1-105503-8   2017年9月   [査読有り]
Akinobu Teramoto, Masaya Saito, Tomoyuki Suwa, Tetsuo Narita, Rihito Kuroda, and Shigetoshi Sugawa
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS   38(9) 1309-1312   2017年9月   [査読有り]
Philippe Gaubert, Alexandre Kircher, Hyeonwoo Park, Rihito Kuroda, Tetsuya Goto, Tomoyuki Suwa, Akinobu Teramoto, and Shigetoshi Sugawa
2017 International Conference on Noise and Fluctuations   7985986-1-7985986-4   2017年7月   [査読有り]
10Mfps 960 Frames Video Capturing Using a UHS Global Shutter CMOS Image Sensor with High Density Analog Memories
Manabu Suzuki, Masashi Suzuki, Rihito Kuroda, Yuki Kumagai, Akira Chiba, Noriyuki Miura, Naoya Kuriyama and Shigetoshi Sugawa
2017 International Image Sensor Workshop   308-311   2017年5月   [査読有り]
A Spectral Imaging System with an Over 70dB SNR CMOS Image Sensor and Electrically Tunable 10nm FWHM Multi-Bandpass Filter
Yasuyuki Fujihara, Yusuke Aoyagi, Satoshi Nasuno, Shunichi Wakashima, Rihito Kuroda, Kohei Terashima, Takahiro Ishinabe, Hideo Fujikake, Kazuhiro Wako and Shigetoshi Sugawa
2017 International Image Sensor Workshop   47-50   2017年5月   [査読有り]
Impact of Random Telegraph Noise with Various Time Constants and Number of States in CMOS Image Sensors
Rihito Kuroda, Akinobu Teramoto and Shigetoshi Sugawa
2017 International Image Sensor Workshop   43-46   2017年5月   [査読有り]
Statistical Analysis of Random Telegraph Noise in Source Follower Transistors with Various Shapes
Shinya Ichino, Takezo Mawaki, Shunichi Wakashima, Akinobu Teramoto, Rihito Kuroda, Phillipe Gaubert, Tetsuya Goto, Tomoyuki Suwa, Shigetoshi Sugawa
2017 International Image Sensor Workshop   39-42   2017年5月   [査読有り]
Hyeonwoo Park, Tetsuya Goto, Rihito Kuroda, Akinobu Teramoto, Tomoyuki Suwa, Daiki Kimoto, Shigetoshi Sugawa
Proceedings of the International Reliability Physics Symposium 2017   DG-7.1-DG-7.5   2017年4月   [査読有り]
R. Kuroda, S. Sugawa
Proceedings of SPIE   10328 1032802-1-1032802-6   2017年2月   [査読有り]
IS&T International Symposium on Electronic Imaging 2017, Image Sensors and Imaging Systems 2017   11 14-17   2017年1月   [査読有り]
Improvement in Electrical Characteristics of ALD Al2O3 Film by Microwave Excited Ar/O2 Plasma Treatment
Masaya Saito, Tomoyuki Suwa, Akinobu Teramoto, Yasumasa Koda, Rihito Kuroda, Yoshinobu Shiba, Shigetoshi Sugawa, Junichi Tsuchimoto, Marie Hayashi
232nd ECS Meeting Abstracts   MA2017-01 1249-1249   2017年6月   [査読有り]
Manabu Suzuki, Masashi Suzuki, Rihito Kuroda, Yuki Kumagai, Akira Chiba, Noriyuki Miura, Naoya Kuriyama, Shigetoshi Sugawa
2016 IEEE International Electron Devices Meeting Technical Digest   212-215   2016年12月   [査読有り]
190-1100 nm waveband multispectral imaging system using high UV-light resistance 94dB dynamic range CMOS image sensor
Yasuyuki Fujihara, Satoshi Nasuno, Shunichi Wakashima, Yusuke Aoyagi, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
3rd International Workshop on Image Sensors and Imaging Systems   37-38   2016年11月
A Dead-time free global shutter stacked CMOS image sensor with in-pixel LOFIC and ADC using pixel-wise connections
Rihito Kuroda, Hidetake Sugo, Shunichi Wakashima, Shigetoshi Sugawa
Proceedings of the 3rd International Workshop on Image Sensors and Imaging Systems   13-14   2016年11月   [査読有り][招待有り]
A High Sensitivity 20Mfps CMOS Image Sensor with Readout speed of 1Tpixel/sec for Visualization of Ultra-high Speed Phenomena
Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
Proceedings of the 31st International Congress on High-speed Imaging and Photonics   68-73   2016年11月   [査読有り][招待有り]
Yasuyuki Fujihara, Satoshi Nasuno, Shunichi Wakashima, Yusuke Aoyagi, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
Proceedings of IEEE Sensors 2016   283-285   2016年10月   [査読有り]
Hidekazu Ishii, Masaaki Nagase, Nobukazu Ikeda,Yoshinobu Shiba, Yasuyuki Shirai, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
Proceedings of IEEE Sensors 2016   877-879   2016年10月   [査読有り]
Formation Technology of Flat Surface after Selective Epitaxial Growth on Ion-Implanted (100) Oriented Thin SOI Wafers
Kiichi Furukawa, Akinobu Teramoto, Rihito Kuroda, Tomoyuki Suwa, Keiichi Hashimoto, Shigetoshi Sugawa, Daisuke Suzuki, Yoichiro Chiba, Katsutoshi Ishii, Akira Shimizu, Kazuhide Hasebe
Extended Abstracts of the 2016 International Conference on Solid State Devices and Materials   649-650   2016年9月   [査読有り]
Akinobu Teramoto, Hiroaki Tanaka, Tomoyuki Suwa, Tetsuya Goto, Rihito Kuroda, Tsukasa Motoya, Kazumasa Kawase, and Shigetoshi Sugawa
ECS Journal of Solid State Science and Technology   5(10) P608-P613   2016年9月   [査読有り]
On-Chip Optical Filter Technology with Low Extinction Coefficient SiN for Ultraviolet-Visible-Near Infrared Light Waveband Spectral Imaging
Yasumasa Koda, Yhang Ricardo Sipauba Carvalho da Silva, Loïc Julien, Daisuke Sawada, Tetsuya Goto, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
2016 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Applications of Advanced Semiconductor Devices   418-422   2016年7月   [査読有り]
Hidetake Sugo, Shunichi Wakashima, Rihito Kuroda, Yuichiro Yamashita, Hirofumi Sumi, Tzu-Jui Wang, Po-Sheng Chou, Ming -Chieh Hsu and Shigetoshi Sugawa
2016 Symposium on VLSI Circuits   224-225   2016年6月   [査読有り]
Takashi Kojiri, Tomoyuki Suwa, Keiichi Hashimoto, Akinobu Teramoto, Rihito Kuroda, and Shigetoshi Sugawa
229th Meeting of The Electrochemical Society   Abs. 1166   2016年5月   [査読有り]
Yasumasa Koda, Hisaya Sugita, Tomoyuki Suwa, Rihito Kuroda, Tetsuya Goto, Akinobu Teramoto and Shigetoshi Sugawa
229th Meeting of The Electrochemical Society   Abs. 1174   2016年5月   [査読有り]
T. Kojiri, T. Suwa, K. Hashimoto, A. Teramoto, R. Kuroda, and S. Sugawa
ECS Transactions   72(4) 23-30   2016年5月   [査読有り]
Yasumasa Koda, Hisaya Sugita, Tomoyuki Suwa, Rihito Kuroda, Tetsuya Goto, Akinobu Teramoto and Shigetoshi Sugawa
ECS Transactions   72(4) 91-100   2016年5月   [査読有り]
Advanced CMOS Image Sensors Development for High Sensitivity, High Speed and Wide Spectral Response
Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
International Workshop on Radiation Resistant Sensors and Related Technologies for Nuclear Power Plant   44-44   2016年4月   [招待有り]
Rihito Kuroda, Yasuhisa Tochigi, Ken Miyauchi, Tohru Takeda, Hidetake Sugo, Fan Shao, Shigetoshi Sugawa
ITE Transactions on Media Technology and Applications   4(2) 149-154   2016年4月   [査読有り]
Satoshi Nasuno, Shunichi Wakashima, Fumiaki Kusuhara, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
ITE Transactions on Media Technology and Applications   4(2) 116-122   2016年4月   [査読有り]
Rihito Kuroda, Takahiro Akutsu, Yasumasa Koda, Kenji Takubo, Hideki Tominaga, Ryuta Hirose, Tomohiro Karasawa, Shigetoshi Sugawa
ITE Transactions on Media Technology and Applications   4(2) 109-115   2016年4月   [査読有り]
Shunichi Wakashima, Fumiaki Kusuhara, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
ITE Transactions on Media Technology and Applications   4(2) 99-108   2016年4月   [査読有り]
Fumiaki Kusuhara, Shunichi Wakashima, Satoshi Nasuno, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
ITE Transactions on Media Technology and Applications   4(2) 91-98   2016年4月   [査読有り]
Rihito Kuroda, Akinobu Teramoto and Shigetoshi Sugawa
29th IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures   46-51   2016年3月   [査読有り][招待有り]
Yusuke Takeuchi, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
Japanese Journal of Applied Physics   55(4S) 04EF07-1-04EF07-5   2016年3月   [査読有り]
Kiichi Furukawa, Akinobu Teramoto, Rihito Kuroda, Tomoyuki Suwa, Keiichi Hashimoto, Takashi Kojiri and Shigetoshi Sugawa
Japanese Journal of Applied Physics   55(4S) 04ED12-1-04ED12-7   2016年3月   [査読有り]
Wide dynamic range LOFIC CMOS image sensors: principle, achievements and extendibility
Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
International Forum on Detectors for Photon Science   9   2016年2月   [査読有り][招待有り]
Tetsuya Gotoa, Rihito Kuroda, Naoya Akagawa, Tomoyuki Suwa, Akinobu Teramoto, Xiang Li, Toshiki Obara, Daiki Kimoto, Shigetoshi Sugawa, Yutaka Kamata, Yuki Kumagai and Katsuhiko Shibusawa
ECS Journal of Solid State Science and Technology   5(2) P67-P72   2015年11月   [査読有り]
Yhang Ricardo Sipauba Carvalho da Silva, Yasumasa Koda, Satoshi Nasuno, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
IEEE Sensors   1847-1850   2015年11月   [査読有り]
Analysis and reduction of leakage current of 2kV monolithic isolator with wide trench spiral isolation structure
Yusuke Takeuchi, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
Extended Abstracts of the 2015 International Conference on Solid State Devices and Materials   804-805   2015年9月   [査読有り]
Proposal of Tunneling and Diffusion Current Hybrid MOSFET
Kiichi Furukawa, Rihito Kuroda, Tomoyuki Suwa, Keiichi Hashimoto, Akinobu Teramoto, and Shigetoshi Sugawa
Extended Abstracts of the 2015 International Conference on Solid State Devices and Materials   86-87   2015年9月   [査読有り]
Shunichi Wakashima, Fumiaki Kusuhara, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
2015 Symposium on VLSI Circuits, Technical Digests   C88-C89   2015年6月   [査読有り]
Satoshi Nasuno, Shunichi Wakashima, Fumiaki Kusuhara, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
Proceedings of 2015 International Image Sensor Workshop   312-315   2015年6月   [査読有り]
Shigetoshi Sugawa, Rihito Kuroda, Tohru Takeda, Fan Shao, Ken Miyauchi and Yasuhisa Tochigi
Proceedings of 2015 International Image Sensor Workshop   166-169   2015年6月   [査読有り]
Fumiaki Kusuhara, Shunichi Wakashima, Satoshi Nasuno, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
Proceedings of 2015 International Image Sensor Workshop   120-123   2015年6月   [査読有り]
Rihito Kuroda, Takahiro Akutsu, Yasumasa Koda, Kenji Takubo, Hideki Tominaga, Ryuuta Hirose, Tomohiro Karasawa and Shigetoshi Sugawa
Proceedings of 2015 International Image Sensor Workshop   78-81   2015年6月   [査読有り]
Hisaya Sugita, Yasukasa Koda, Tomoyuki Suwa, Rihito Kuroda, Tetsuya Goto, Hidekazu Ishii, Satoru Yamashita, Akinobu Teramoto, Shigetoshi Sugawa, and Tadahiro Ohmi
227th Meeting of The Electrochemical Society   1399   2015年5月   [査読有り]
H. Sugita, Y. Koda, T. Suwa, R. Kuroda, T. Goto, H. Ishii, S. Yamashita, A. Teramoto, S. Sugawa, and T. Ohmi
ECS Transactions   66(4) 305-314   2015年5月   [査読有り]
Tetsuya Goto, Rihito Kuroda, Tomoyuki Suwa, Akinobu Teramoto, Naoya Akagawa, Daiki Kimoto, Shigetoshi Sugawa, Tadahiro Ohmi, Yutaka Kamata, Yuki Kumagai and Katsuhiko Shibusawa
227th Meeting of The Electrochemical Society   1354   2015年5月   [査読有り]
T. Goto, R. Kuroda, T. Suwa, A. Teramoto, N. Akagawa, D. Kimoto, S. Sugawa, T. Ohmi, Y. Kamata, Y. Kumagai, and K. Shibusawa
ECS Transactions   66(5) 285-292   2015年5月   [査読有り]
Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
2015 SPIE Sensing Technology + Applications   9481 948108-1-948108-8   2015年4月   [査読有り][招待有り]
Kaori Komoda, Masashi Sakuma, Masakazu Yata, Yoshio Yamazaki, Fuminobu Imaizumi, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING   28(3) 289-296   2015年4月   [査読有り]
Shunichi Wakashima, Fumiaki Kusuhara, Rihito Kuroda, Shigetoshi Suagawa
SPIE-IS&T Electronic Imaging 2015   9403 94030E-1-94030E-10   2015年2月   [査読有り]
Yusuke Takeuchi, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
Japanese Journal of Applied Physics   54(4S) 04DB01-1-04DB01-5   2015年2月   [査読有り]
Tetsuya Goto, Rihito Kuroda, Naoya Akagawa, Tomoyuki Suwa, Akinobu Teramoto, Xiang Li, Toshiki Obara, Daiki Kimoto, Shigetoshi Sugawa, Tadahiro Ohmi, Yutaka Kamata, Yuki Kumagai, and Katsuhiro Shibusawa
Japanese Journal of Applied Physics   54(4S) 04DA04-1-04DA04-7   2015年2月   [査読有り]
Wide spectral response and highly robust Si image sensor technology
Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
2nd Asian Image Sensor and Imaging System Symposium   7-8   2014年12月   [査読有り][招待有り]
Analysis of the breakdown voltage of an area surrounded by the multi-trench gaps
Yusuke Takeuchi, Rihito Kuroda Shigetoshi Sugawa
Extended Abstracts of the 2014 International Conference on Solid State Devices and Materials   732-733   2014年9月   [査読有り]
Atomically Flattening of Si Surface of SOI and Isolation-patterned Wafers
T. Goto, R. Kuroda, N. Akagawa, T. Suwa, A. Teramoto, X. Li, S. Sugawa, T. Ohmi, Y. Kumagai, Y. Kamata, and T. Shibusawa
Extended Abstracts of the 2014 International Conference on Solid State Devices and Materials   670-671   2014年9月   [査読有り]
Toshiki Obara, Akinobu Teramoto, Akihiro Yonezawa, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa, and Tadahiro Ohmi
IEEE International Reliability Physics Symposium   4A.6.1-4A.6.7   2014年6月   [査読有り]
A. Teramoto, T. Inatsuka, T. Obara, N. Akagawa, R. Kuroda, S. Sugawa, T. Ohmi
IEEE International Reliability Physics Symposium   GD.1.1-GD.1.5   2014年6月   [査読有り]
Rihito Kuroda, Fan Shao, Daiki Kimoto, Kiichi Furukawa, Hidetake Sugo, Tohru Takeda, Ken Miyauchi, Yasuhisa Tochigi, Akinobu Teramoto and Shigetoshi Sugawa
IEEE International Reliability Physics Symposium   3F.3.1-3F.3.4   2014年6月   [査読有り]
High Selectivity in a Dry Etching of Silicon Nitride over Si Using a Novel Hydrofluorocarbon Etch Gas in a Microwave Excited Plasma for FinFET
Yukihisa Nakao, Takatoshi Matsuo, Akinobu Teramoto, Hidetoshi Utsumi, Keiichi Hashimoto, Rihito Kuroda, Yasuyuki Shirai, Shigetoshi Sugawa, and Tadahiro Ohmi
225th Meeting of The Electrochemical Society   1441   2014年5月   [査読有り]
Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
IEICE Electronics Express   11(10) 1-16   2014年5月   [査読有り][招待有り]
Y. Nakao, T. Matsuo, A. Teramoto, H. Utsumi, K. Hashimoto, R. Kuroda, Y. Shirai, S. Sugawa, and T. Ohmi
ECS Transactions   61(3) 29-37   2014年5月   [査読有り]
Rihito Kuroda, Shun Kawada, Satoshi Nasuno, Taiki Nakazawa, Yasumasa Koda, Katsuhiko Hanzawa and Shigetoshi Sugawa
ITE Transactions on Media Technology and Applications   2(2) 123-130   2014年4月   [査読有り]
Tsung-Ling Li, Shunichi Wakashima, Yasuyuki Goda, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
Japanese Journal of Applied Physics   53(4S) 04EE14-1-04EE14-6   2014年3月   [査読有り]
Satoshi Nasuno, Shun Kawada, Yasumasa Koda, Taiki Nakazawa, Katsuhiko Hanzawa, Rihito Kuroda, and Shigetoshi Sugawa
Japanese Journal of Applied Physics   53(4S) 04EE07-1-04EE07-4   2014年3月   [査読有り]
Toshiki Obara, Akihiro Yonezawa, Akinobu Teramoto, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa, and Tadahiro Ohmi
Japanese Journal of Applied Physics   53(4S) 04EC19-1-04EC19-7   2014年3月   [査読有り]
Rihito Kuroda, Yukihisa Nakao, Akinobu Teramoto, Shigetoshi Sugawa, and Tadahiro Ohmi
Japanese Journal of Applied Physics   53(4S) 04EC04-1-04EC04-7   2014年2月   [査読有り]
Takahiro Akutsu, Shun Kawada, Yasumasa Koda, Taiki Nakazawa, Rihito Kuroda, and Shigetoshi Sugawa
Proc. of SPIE-IS&T   9022 90220L-1-90220L-8   2014年2月   [査読有り]
A Statistical evaluation of effective time constants of random telegraph noise with various operation timings of in-pixel source follower transistors
A. Yonezawa, R. Kuroda, A. Teramoto, T. Obara, S. Sugawa
Proc. of SPIE-IS&T   9022 90220F-1-90220F-9   2014年2月   [査読有り]
F. Shao, D. Kimoto, K. Furukawa, H. Sugo, T. Takeda, K. Miyauchi, Y. Tochigi, R. Kuroda and S. Sugawa
Proc. of SPIE-IS&T   9022 902205-1-902205-9   2014年2月   [査読有り]
Ken Miyauchi, Tohru Takeda, Katsuhiko Hanzawa, Yasuhisa Tochigi, Rihito Kuroda, Hideki Tominaga, Ryuta Hirose, Kenji Takubo, Yasushi Kondo, Shigetoshi Sugawa,
Proceeding of SPIE-IS&T   9022 902203-1-902203-12   2014年2月   [査読有り]
Highly UV-light sensitive and highly robust CMOS image sensor with 97dB wide dynaamic range and 200-1100 nm spectral sensitivity
Satoshi Nasuno, Shun Kawada, Yasumasa Koda, Rihito Kuroda, and Shigetoshi Sugawa
Asian Symposium on Advanced Image Sensors and Imaging Systems   15-16   2013年10月
Rihito Kuroda, Akihiro Yonezawa, Akinobu Teramoto, Tsung-Ling Li, Yasuhisa Tochigi, and Shigetoshi Sugawa
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES   60(10) 3555-3561   2013年10月   [査読有り]
A Wide Dynamic Range CMOS Image Sensor with 200-1100 nm Spectral Sensitivity and High Robustness to Ultraviolet Light Exposure
Satoshi Nasuno, Shun Kawada, Yasumasa Koda, Taiki Nakazawa, Katsuhiko Hanzawa, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
Extended Abstracts of the 2013 International Conference on Solid State Devices and Materials   878-879   2013年9月   [査読有り]
Carrier Mobility on (100), (110), and (551) Oriented Atomically Flattened Si Surfaces for Multi-gate MOSFETs Device Design
Rihito Kuroda, Yukihisa Nakao, Akinobu Teramoto, Shigetoshi Sugawa and Tadahiro Ohmi
Extended Abstracts of the 2013 International Conference on Solid State Devices and Materials   702-703   2013年9月   [査読有り]
A CMOS Image Sensor Using Column-Parallel Forward Noise-Canceling Circuitry
Tsung-Ling Li, Shunichi Wakashima, Yasuyuki Goda, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
Extended Abstracts of the 2013 International Conference on Solid State Devices and Materials   874-875   2013年9月   [査読有り]
Ultra-high Speed Image Sensors for Scientific Imaging
Rihito Kuroda, Yasuhisa Tochigi, Ken Miyauchi, Tohru Takeda, Ryuta Hirose, Hideki Tominaga, Kenji Takubo, Yasushi Kondo, and Shigetoshi Sugawa
Extended Abstracts of the 2013 International Conference on Solid State Devices and Materials   872-873   2013年9月   [査読有り][招待有り]
Extraction of Time Constants Ratio over Nine Orders of Magnitude for Understanding Random Telegraph Noise in MOSFETs
T. Obara, A. Yonezawa, A. Teramoto, R. Kuroda, S. Sugawa, and T. Ohmi
Extended Abstracts of the 2013 International Conference on Solid State Devices and Materials   722-723   2013年9月   [査読有り]
Takuya Inatsuka, Yuki Kumagai, Rihito Kuroda, Akinobu Teramoto, Tomoyuki Suwa, Shigetoshi Sugawa, and Tadahiro Ohmi
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing   26(3) 288-295   2013年8月   [査読有り]
Impact of Injected Carrier Types to Stress Induced Leakage Current Using Substrate Hot Carrier Injection Stress
H. W. Park, A. Teramoto, T. Inatsuka, R. Kuroda, S. Sugawa, and T. Ohmi
2013 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Application of Advanced Semiconductor Devices (AWAD 2013)   75-78   2013年6月   [査読有り]
Stress induced leakage current generated by hot-hole injection
A. Teramoto, H.W. Park, T. Inatsuka, R. Kuroda, S. Sugawa, T. Ohmi
18th Conference of “Insulating Films on Semiconductors” (infos2013) Book of Abstracts   156-157   2013年6月   [査読有り]
A FSI CMOS Image Sensor with 200-1000 nm Spectral Response
Rihito Kuroda, Shun Kawada, Satoshi Nasuno, Taiki Nakazawa, Yasumasa Koda, Katsuhiko Hanzawa and Shigetoshi Sugawa
2013 International Image Sensor Workshop   61-64   2013年6月   [査読有り]
Tsung-Ling Li, Shin Sakai, Shun Kawada, Yasuyuki Goda, Shunichi Wakashima, Rihito Kuroda, and Shigetoshi Sugawa
Japanese Journal of Applied Physics   52(4) 04CE04-1-04CE04-7   2013年4月   [査読有り]
Takuya Inatsuka, Rihito Kuroda, Akinobu Teramoto, Yuki Kumagai, Shigetoshi Sugawa, and Tadahiro Ohmi
IEEE International Reliability Physics Symposium 2013   GD.5.1   2013年4月   [査読有り]
A. Yonezawa, A. Teramoto, T. Obara, R. Kuroda, S. Sugawa and T. Ohmi
IEEE International Reliability Physics Symposium 2013   XT.11.1   2013年4月   [査読有り]
Akinobu Teramoto, Hyeonwoo Park, Takuya Inatsuka, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa, Tadahiro Ohmi
Microelectronic Engineering   109 298-301   2013年3月   [査読有り]
Y. Koda, R. Kuroda, T. Nakazwa, Y. Nakao, S. Sugawa
IS&T/SPIE Electronic Imaging 2013   8659 86590J-1-86590J-6   2013年2月   [査読有り]
S. Wakashima, Y. Goda, T. L. Li, R. Kuroda, S. Sugawa
IS&T/SPIE Electronic Imaging 2013   8659 86590I-1-86590I-9   2013年2月   [査読有り]

Misc

 
浜本隆之,大高俊徳,池辺将之,樽木久征,小林昌弘,黒田理人,小室孝,徳田崇,船津良平,近藤亨,廣瀬裕,藤澤大介,山本洋夫
映像情報メディア学会誌   72(4) 537(63)-550(76)   2018年7月   [依頼有り]
三次元積層を用いた先進CMOSイメージセンサ技術―イメージセンサ技術のさらなる進化―
黒田 理人
日本工業出版, 光アライアンス 特集:生体イメージングを推める光デバイス   28(1) 12-16   2017年12月   [査読有り]
須川成利,大竹 浩,池辺将之,佐藤俊明,小林昌弘,黒田理人,浜本隆之,小室 孝,顴 田 崇,山下誉行,綱井史郎,廣瀬 裕,赤井大輔,山本洋夫
映像情報メディア学会誌   70(4) 609-622   2016年7月
黒田理人
電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティNEWS LETTER   (161) 24-24   2015年7月
須川成利,高柳 功,高橋秀和,黒田理人,池辺将之,浜本隆之,小室 孝,香川景一郎,大竹 浩,赤井大輔,鈴木秀征
映像情報メディア学会誌   67(11) 972-982   2013年11月

書籍等出版物

 
Kinko Tsuji, Werner Lauterborn, Thomas Kurz, Guillaume Lajoinie, Nico de Jong, Michel Versluis,Takeharu G. Etoh, Quang A. Nguyen, Rihito Kuroda, and Shigetoshi Sugawa, Harald Kleine, Kazuyoshi Takayama, François Hild, Amine Bouterf, Pascal Forquin, Stéphane Roux, Christian Freitag, Thomas Arnold, Meiko Boley, Sebastian Faas, Florian Fetzer, Christian Hagenlocher, Andreas Heider, Michael Jarwitz, Rudolf Weber, Thomas Graf, Alexander Rack, Margie Olbinado, Mario Scheel, Benjamin Jodar, John Morse, Marcus Aldén, Mattias Richter, Nobuyuki Kawahara, Alexander Stolz, Malte von Ramin, Daniel Schmitt, Hartmut Hieronymus, Kenneth R, Langley, Er Q. Li, Sigurdur T. Thoroddsen, Stefan C. Müller, Valeria Garbin (担当:共著, 範囲:Part III Cameras with CCD/CMOS Sensors, Cameras with On-chip Memory CMOS Image Sensors)
Springer International Publishing   2017年9月   ISBN:978-3-319-61491-5
黒田 理人
野辺 継男、黒田 理人、蚊野 浩、木股 雅章、田村 哲雄、小川 新平、大橋 洋二、青柳 靖、桑原 義彦、亀井 利久、政田 元太、木津 巧一、平尾 朋三、篠塚 哲、馬路 徹、佐藤 智和、緒方 健人、橋本 雅文、西田 健、石沢 千佳子、佐藤 淳、柴田 啓司、加藤 ジェーン、内村 圭一、山口 順一、山口 弘純、渡邊 直幸、片山 硬、伊東 敏夫、花泉 弘、川西 康友、秋田 時彦、山下 隆義、ポンサトーン ラクシンチャラーンサク、山田 啓一、金澤 靖、高取 祐介、小山 善文、小野口 一則、原 孝介、木下 航一、森島 繁生、佐藤 優伍、宇野 新太郎、佐藤 健哉、藤本 暢宏、大柴 小枝子、倉地 亮、齊藤 智明、味岡 恒夫、駒田 隆彦、中山 幸二、 (担当:共著, 範囲:第2章 車載用カメラ、レーダーの開発動向と高精度、高感度化技術 第1節 CMOSイメージセンサの広ダイナミックレンジ化技術)
(株)技術情報協会   2017年5月   ISBN:978-4-86104-658-2

講演・口頭発表等

 
【IEDM 報告会】 Optoelectronics, Display, and Imagers
黒田 理人
IEEE EDS Japan Chapter 総会および IEDM 報告会   2018年2月2日   
高速化・高感度化技術の今後 [招待有り]
黒田 理人
次世代画像入力ビジョンシステム部会・映像情報メディア学会共催公開講演会『イメージセンサ30年の進歩と更なる発展』   2018年1月11日   
撮像速度1000万コマ/秒を超える高速度CMOSイメージセンサ技術の進展
高速度イメージングとフォトニクスに関する総合シンポジウム2017   2017年11月15日   
画素SFで発生するランダムテレグラフノイズの統計的解析 ~ トランジスタ形状・時定数・遷移数の影響 ~
映像情報メディア学会技術報告・情報センシング研究会   2017年9月25日   
Impact of Random Telegraph Noise with Various Time Constants and Number of States in CMOS Image Sensors
International Image Sensor Workshop   2017年5月30日   
撮像速度1000万コマ/秒を超える高速度CMOSイメージセンサの高感度化・多記録枚数化
次世代画像入力ビジョンシステム部会第171回定例会   2017年3月27日   
急峻pn接合Siダイオード技術を用いた高感度・高速性能低加速電圧電子線検出器
映像情報メディア学会技術報告・情報センシング研究会   2017年3月10日   
【IEDM 報告会】 Optoelectronics, Display, and Imagers
IEEE EDS Japan Chapter 総会および IEDM 報告会   2017年2月15日   
[パネル討論会] 「次世代イメージセンサと新技術の展開」
佐藤宏(日産),大池裕輔(ソニー),大竹浩(NHK技術研究所),徐珉雄(静岡大学)
次世代画像入力ビジョンシステム部会第170回定例会「次世代イメージセンサと新技術の展開」   2017年1月23日   
広光波長帯域イメージセンサ技術と分光イメージングへの展開
次世代画像入力ビジョンシステム部会第170回定例会「次世代イメージセンサと新技術の展開」   2017年1月23日   
画素毎の接続を有する3次元積層を用いた先進グローバルシャッタCMOSイメージセンサ技術
SEMICON Japan2016 TechSTAGE [STS 先端デバイス・プロセスセッション(2)]   2016年12月16日   
A Dead-time free global shutter stacked CMOS image sensor with in-pixel LOFIC and ADC using pixel-wise connections
3rd International Workshop on Image Sensors and Imaging Systems   2016年11月17日   
Panel Discussion “Expansion and Fusion of the High-speed Imaging World" -From Attosecond Pump&Probe Imaging to 10-fps AFM Imaging of Stepping Myosin-"
Takaki Hatsui (SACLA), Baoli Yao (Xi’an Institute of Photonics), Shngo Kagami (Tohoku University), Urich Trunk (DESY), T. Goji Etoh (Osaka University)
The 31st International Congress on High-speed Imaging and Photonics   2016年11月9日   
A High Sensitivity 20Mfps CMOS Image Sensor with Readout speed of 1Tpixel/sec for Visualization of Ultra-high Speed Phenomena
The 31st International Congress on High-speed Imaging and Photonics   2016年11月9日   
画素毎の接続を用いた画素内に横型オーバーフロー蓄積容量およびAD変換器を有する露光時間途切れのないグローバルシャッタ積層型CMOSイメージセンサ
映像情報メディア学会 情報センシング研究会   2016年9月26日   
A Dead-time Free Global Shutter CMOS Image Sensor with in-pixel LOFIC and ADC using Pixel-wise Connections"
IEEE SSCS Kansai Chapterで技術セミナー Symposium on VLSI Circuits 2016報告会とDL講演会   2016年6月24日   
Random Telegraph Noise Measurement and Analysis based on Arrayed Test Circuit toward High S/N CMOS Image Sensors
29th IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures   2016年3月29日   
Wide dynamic range LOFIC CMOS image sensors: principle, achievements and extendibility
International Forum on Detectors for Photon Science   2016年2月28日   
CMOSイメージセンサの高速化・高感度化・広光波長帯域化技術
第191回研究集会 シリコンテクノロジー分科会ナノ・接合技術研究会「接合技術の新展開」   2016年2月27日   
Advanced CMOS Image Sensor Development
Tohoku Univ. - imec Seminar 2015 Sendai Symposium on Analytical Science 2015 Joint Seminar on "Unobtrusive Sensing & Daily Health Screening"   2015年11月13日   
A 80% QE High Readout Speed 1024 Pixel Linear Photodiode Array for UV-VIS-NIR Spectroscopy
2015 International Image Sensor Workshop   2015年6月8日   
ゲート絶縁膜/Si界面の原子オーダー平坦化によるランダムテレグラフノイズ低減効果
映像情報メディア学会 情報センシング研究会   2015年5月8日   
UV/VIS/NIR imaging technologies: challenges and opportunities
2015 SPIE Sensing Technology + Applications   2015年4月20日   
Wide spectral response and highly robust Si image sensor technology
2nd Asian Image Sensor and Imaging System Symposium   2014年12月1日   
高機能CMOSイメージセンサ技術
プラナリゼーションCMPとその応用技術専門委員会 第136回研究会【イメージセンサー/3次元集積回路の最前線と加工技術   2014年10月10日   
最高1000万コマ/秒の超高速動画撮像を用いた酸化膜破壊現象の動的観測と解析
2014 International Reliability Physcis Symposium報告会   2014年10月3日   
極限性能を追求する高速,高感度CMOSイメージセンサ技術
須川 成利
映像情報メディア学会 情報センシング研究会   2014年7月4日   
極限イメージングの現在とその将来動向
須川成利(東北大),新井康夫(高エネ研),香川景一郎(静岡大),土屋敏章(島根大)
映像情報メディア学会 情報センシング研究会   2014年7月3日   
A Novel Analysis of Oxide Breakdown Based on Dynamic Observation using Ultra-High Speed Video Capturing Up to 10,000,000 Frames Per Second
2014 IEEE International Reliability Physics Symposium   2014年6月3日   
1光子レベルの精度にせまる高S/Nイメージセンサの研究開発動向
映像情報メディア学会 情報センシング研究会   2014年6月2日   
ランダムテレグラフノイズ時定数の動作条件依存性の統計的解析
映像情報メディア学会 情報センシング研究会   2014年3月14日   
Si表面の原子レベル平坦化技術を用いた紫外光高感度・高信頼性イメージセンサ
日本学術振興会 産学協力研究委員会 半導体界面制御技術第154委員会第89回研究会   2013年11月21日   
Advanced CMOS Image Sensor Research and Development for Scientific and Consumer-use Imaging
Tohoku University – IMEC Seminar   2013年11月8日   
原子レベル平坦化Si表面のキャリアモビリティ特性に基づくマルチゲートMOSFETの構造設計
シリコン材料・デバイス(電子情報通信学会)   2013年10月17日   
200-1000nmの広光波長帯域に感度を有する高紫外光照射耐性CMOSイメージセンサ
映像情報メディア学会 情報センシング研究会   2013年9月30日   
Ultra-high Speed Image Sensors for Scientific Imaging
2013 International Conference on Solid State Devices and Materials   2013年9月25日   
Carrier Mobility on (100), (110), and (551) Oriented Atomically Flattened Si Surfaces for Multi-gate MOSFETs Device Design
2013 International Conference on Solid State Devices and Materials   2013年9月25日   
A CMOS Image Sensor Using Column-Parallel Forward Noise-Canceling Circuitry
2013 International Conference on Solid State Devices and Materials   2013年9月25日   
A FSI CMOS Image Sensor with 200-1000 nm Spectral Response and High Robustness to Ultraviolet Light Exposure
2013 International Image Sensor Workshop   2013年6月12日   
画素ソースフォロワ相当の埋め込み・表面チャネルトランジスタのランダム・テレグラフ・ノイズ統計的解析
映像情報メディア学会 情報センシング研究会   2013年3月22日   
A statistical evaluation of low-frequency noise of in-pixel source follower-equivalent transistors with various channel types and body bias
IS&T/SPIE Electronic Imaging   2013年2月3日   
Si Surface Atomic Order Flattening Technology and its Application to Highly Reliable Ultraviolet Light Sensor
第24回マイクロエレクトロニクス研究会   2012年11月10日   
A Novel Chemically, Thermally and Electrically Robust Cu Interconnect Structure with an Organic Non-porous Ultralow-k Dielectric Fluorocarbon (k=2.2)
2012 Symposium on VLSI Technology   2012年6月12日   
原子レベル平坦化Si表面を用いた紫外光高感度・高信頼性フォトダイオード
映像情報メディア学会 情報センシング研究会   2011年11月18日   
Development of Direct-polish Process of CMP and Post-CMP Clean for Next Generation Advanced Cu Interconnects
International Conference on Planarization&CMP   2011年11月9日   
ラジカル反応ベース絶縁膜形成技術における界面平坦化効果と絶縁膜破壊特性との関係
シリコン材料・デバイス(電子情報通信学会)   2011年10月20日   
On the Si Surface Flattening Effect and Gate Insulator Breakdown Characteristic of Radical Reaction Based Insulator Formation Technology
2011 International Conference on SOLID STATE DEVICES AND MATERIALS   2011年9月28日   
Highly Ultraviolet Light Sensitive and Highly Reliable Photodiode with Atomically Flat Si Surface
2011 International Image Sensor Workshop   2011年6月8日   
デュアルシリサイドを用いた低直列抵抗CMOS ソース/ドレイン電極形成技術
電気学会電子デバイス研究会「グリーンITにおける化合物半導体電子デバイス」調査専門委員会   2011年3月1日   
Ultra-low Series Resistance W/ErSi2/n+-Si and W/Pd2Si/p+-Si S/D Electrodes for Advanced CMOS Platform
2010 IEEE International electron device meeting   2010年12月6日   
Impact of Channel Direction Dependent Low Field Hole Mobility on Si(100)
2010 International Conference on SOLID STATE DEVICES AND MATERIALS   2010年9月22日   
Impact of Very Low Series Resistance due to Raised Metal S/D Structure with Very Low Contact Resistance Silicide for sub-100-nm nMOSFET
2009 International Conference on SOLID STATE DEVICES AND MATERIALS   2009年10月   
3-step room temperature wet cleaning process for silicon substrate
9th International Symposium on Ultra Clean Processing of Semiconductor Surfaces   2008年9月   
CMOSFET Featuring Atomically Flat Gate Insulator Film/Silicon Interface on (100) Orientation Surface
2008 International Conference on SOLID STATE DEVICES AND MATERIALS   2008年9月   
Atomically Flat Gate Insulator/Silicon (100) Interface Formation Introducing High Mobility, Ultra-low Noise, and Small Characteristics Variation CMOSFET
38th European Solid-State Device Research Conference   2008年9月   
Characterization of MOSFETs Intrinsic Performance using In-Wafer Advanced Kelvin-Contact Device Structure for High Performance CMOS LSIs
IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures   2008年3月   
ノーマリオフAccumulation-Mode SOI nMOSFETにおけるHot Carrier Instabilityのメカニズム
ゲートスタック研究会-材料・プロセス・評価の物理-第12回研究会   2008年1月   
Technologies for High Performance CMISFETs
第19回マイクロエレクトロ二クス研究会   2007年11月   
Modeling and Implementation of Subthreshold Characteristics of Accumulation-Mode MOSFETs for Various SOI Layer Thickness and Impurity Concentrations
2007 IEEE International SOI Conference   2007年10月   
Performance Comparison of Ultra-thin FD-SOI Inversion-, Intrinsic-and Accumulation- Mode MOSFETs
2007 International Conference on SOLID STATE DEVICES AND MATERIALS   2007年9月   
Hot Carrier Instability Mechanism in Accumulation-Mode Normally-off SOI nMOSFETs and Their Reliability Advantage
211th Electrochemical Society Meeting   2007年5月   
Accurate Circuit Performance Prediction Model and Lifetime Prediction Method for NBT Stressed Devices for Highly Reliable ULSI Circuits
IEEE International Conference on IC Design & Technology   2006年5月   
Accurate Circuit Performance Prediction Model and Lifetime Prediction Method for NBT Stressed Devices for Highly Reliable ULSI Circuits
IEEE International Electron Device Meeting   2005年12月   
LC共振法による極薄ゲート絶縁膜の電気的膜厚測定法
電子情報通信学会シリコン材料・デバイス研究会   2005年10月   
NEW LIFETIME PREDICTION METHOD FOR PMOSFETS WITH ULTRA THIN GATE FILMS
The 3rd Student-organizing International Mini-Conference on Information Electronics   2005年10月   
New NBTI Lifetime Prediction Method for Ultra Thin SiO2 Films
208th Electrochemical Society Meeting   2005年10月   

社会貢献活動

 
出張講義(長野県屋代高等学校)
【その他】  2016年9月10日
長野県屋代高等学校の平成28年度「屋代ミニ大学」において、高校2年生向けに「豊かで安全安心な社会を支える極限知能デバイス」と題した講義を行った
出張講義(秋田県立横手高等学校)
【その他】  2014年9月3日
秋田県立横手高等学校において「豊かで安全安心な社会を支える極限知能デバイス」と題した出張講義を行った。
Ultraviolet light sensor for wearable devices in the IoT era
【出演, 寄稿】  Tohoku University  2017年4月17日
Mass production technology for silicon based ultraviolet (UV) light sensors, suitable for smartphones and wearable devices in the Internet of Things (IoT) era, has been jointly developed by a research team at Tohoku University and SII Semiconducto...
ウェアラブル端末・IoT向け紫外線(UV)センサを開発~エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社と共同で、シリコンを使ったUVセンサ用フォトダイオードの量産化技術を開発~
【出演, 寄稿】  東北大学  2017年3月27日
東北大学大学院工学研究科技術社会システム専攻 須川成利教授・黒田理人准教授の研究グループは、セイコーインスツル株式会社(社長:村上 斉、本社:千葉県千葉市)の子会社で、半導体の製造・販売を行うエスアイアイ・セミコンダクタ株式会社(社長:石合 信正、本社:千葉県千葉市)との共同で、UV-AからUV-Bまでの紫外線領域を検知するシリコンを使った紫外線(UV)センサの量産化技術を開発しました。
Quicker Camera Chips Coming
【情報提供】  IEEE SPECTRUM  2016年12月16日
If you want to capture a super-slo-mo film of the nanosecond dynamics of a bullet impact, or see a football replay in fanatical detail and rich color, researchers are working on an image sensor for you. Last week at the IEEE International Electron...