特許権 顕微分光測定装置 独立行政法人科学技術振興機構, 独立行政法人産業技術総合研究所 小平 哲也, 井上 俊一 出願番号 特願2004-151127 出願日 2004年5月21日 公開番号 特開2005-331419 公開日 2005年12月2日 特許番号/登録番号 特許第4336847号 登録日 発行日 2009年7月10日 リンク情報 J-GLOBALhttps://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201103028587413995URLhttp://jglobal.jst.go.jp/public/201103028587413995 ID情報 J-Global ID : 201103028587413995
