2003年
Symmetry X system and method dor absolute measurements of reflectance and transmittance of specular samples
APPLIED OPTICS
- 巻
- 42
- 号
- 25
- 開始ページ
- 5064
- 終了ページ
- 5072
- DOI
- 10.1364/AO.42.005064
- リンク情報
- ID情報
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- DOI : 10.1364/AO.42.005064
- ISSN : 0003-6935
- CiNii Articles ID : 80016101352
- PubMed ID : 12962382