MISC

2003年

Symmetry X system and method dor absolute measurements of reflectance and transmittance of specular samples

APPLIED OPTICS

KAWATE E

巻: 42
号: 25
開始ページ: 5064
終了ページ: 5072
DOI: 10.1364/AO.42.005064

リンク情報

DOI: https://doi.org/10.1364/AO.42.005064
CiNii Articles: http://ci.nii.ac.jp/naid/80016101352
PubMed: https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/12962382

ID情報

DOI : 10.1364/AO.42.005064
ISSN : 0003-6935
CiNii Articles ID : 80016101352
PubMed ID : 12962382

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