2020年10月
Raman Spectroscopy for Determination of Silicon Oxyfluoride Structure in Fluoride Melts
Journal of Fluorine Chemistry
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- 巻
- 238
- 号
- 開始ページ
- 109616
- 終了ページ
- 109616
- 記述言語
- 英語
- 掲載種別
- 研究論文（学術雑誌）
- DOI
- 10.1016/j.jfluchem.2020.109616
- 出版者・発行元
- Elsevier BV
- ID情報
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- DOI : 10.1016/j.jfluchem.2020.109616
- ISSN : 0022-1139