細川利典 (Toshinori HOSOKAWA) - マイポータル

基本情報

所属: 日本大学生産工学部数理情報工学科教授

J-GLOBAL ID: 200901033724474954
researchmap会員ID: 5000067907

外部リンク: http://vlsicad03.su.cit.nihon-u.ac.jp/~web/

研究キーワード

研究分野

学歴

- 1987年

明治大学, 工学部, 電子通信工学科

委員歴

2009年1月 - 現在

電子情報通信学会, ディペンダブルコンピューティング研究専門委員
2017年1月 - 2019年12月

IEEE Workshop on RTL and High Level Testing, Chair of Steering Comittee
2011年4月 - 2015年3月

情報処理学会, 情報処理学会論文誌TSLDM（Transactions on System LSIDesign Methogology）編集委員
2011年4月 - 2015年3月

情報処理学会, 情報処理学会論文誌TSLDM（Transactions on System LSI,Design Methogology）編集委員
2006年5月 - 2010年5月

電子情報通信学会, 電子情報通信学会和文論文誌D編集委員
2005年4月 - 2008年3月

電子情報通信学会, ディペンダブルコンピューティング研究会幹事

受賞

2020年11月

Best Paper Award (WRTLT'19), A Don’t Care Identification-Filling Co-Optimization Method for Low Capture Power Testing Using Partial MaxSAT, Workshop on RTL and High Level testing

Kenichiro Misawa, Toshinori Hosokawam Hiroshi Yamazaki, Masayoshi Yoshimura, and Masayuki Arai
2015年11月

Best Paper Award, A Scheduling Method for Hierarchical Testability Using Results of Test Environment Generation, IEEE

Jun Nishimaki, Toshinori Hosokawa, Hideo Fujiwara
2015年11月

Best Paper Award, A Scheduling Method for Hierarchical Testability Using Results of Test Environment Generation, IEEE

Jun Nishimaki, Toshinori Hosokawa, and Hideo Fujiwara

主要な論文

103

A Multiple Target Test Generation Method for Gate-Exhaustive Faults to Reduce the Number of Test Patterns Using Partial MaxSAT

Ryuki Asami, Toshinori Hosokawa, Masayoshi Yoshimura, and Masayuki Arai

Proceedings of 33rd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems 1.1 1-6 2020年10月19日査読有り責任著者
A Low Capture Power Oriented X-Identification-Filling Co-Optimization Method

Toshinori HOSOKAWA, Kenichiro MISAWA, Hiroshi YAMAZAKI, Masayoshi YOSHIMURA, and Masayuki ARAI

Proceedings of 26th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design 10.6 1-4 2020年7月13日査読有り筆頭著者責任著者
A Test Sensitization State Compaction Method on Controller Augmentation

Yuki IKEGAYA, Toshinori HOSOKAWA, Yuta ISHIYAMA, and Hiroshi YAMAZAKI

Proceedings of 26th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design 6.3 1-6 2020年7月13日査読有り責任著者
Universal Testing for Linear Feed Forward/Feedback Shift Registers

Hideo Fujiwara, Katsuya Fujiwara, and Toshinori Hosokawa

IEICE Transactions on Information and Systems Vol.E103-D(5) 1023-1030 2020年5月1日査読有り最終著者責任著者

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MISC

A Test Plan Grouping Method to Shorten Test Length for RTL Data Paths under a Test Controller Area Constraint

Toshinori Hosokawa, Hiroshi Date, Masahide Miyazaki, Michiaki Muraoka, and Hideo Fujiwara

IEICE Transaction on Information and Systems E56-D(12) 2674-2683-2683 2003年12月査読有り筆頭著者

書籍等出版物

知識ベース知識の森

細川利典, 他多数 (担当:共著, 範囲:10群1編3章3-7-4) (原著:細川利典,他多数)

電子情報通信学会 2010年1月1日
VLSI Logic Synthesis and Design

Edited by, R.W. DuttonToshinori, Hosokawa, eta (担当:共著) (原著:Edited by R.W. Dutton Toshinori Hosokawa, etal.)

IOS Press, Ohmsha 1991年

講演・口頭発表等

194

論理圧縮を用いた機能修正回路による論理ロック手法

野口葉平・吉村正義(京都産大)・三浦怜・細川利典(日大)

電子情報通信学会VLSI設計技術研究会 2023年3月3日電子情報通信学会
擬似ブール最適化を用いた論理BISTにおけるテスト実行時間最小化のためのシード選択手法

三浦怜・細川利典(日大)・吉村正義(京都産大)

電子情報通信学会VLSI設計技術研究会 2023年3月3日電子情報通信学会
組込み自己テストのための複数ランダムパータンレジスタント遷移故障のシード生成法

徐雁レイ・三浦怜・○細川利典(日大)・吉村正義(京都産大)

電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会 2023年2月28日電子情報通信学会
2パターン並列テストのためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法

徐浩豊・細川利典(日大)・吉村正義(京都産大)・新井雅之(日大)

電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会 2023年2月28日電子情報通信学会
故障診断分解能向上のための複数故障ペア識別パターン生成法

千田祐弥・細川利典(日大)・山崎浩二(明大)

電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会 2023年2月28日電子情報通信学会
組込み自己テストにおける複数ランダムパターンレジスタント縮退故障のシード生成法

三浦怜・細川利典(日大)・吉村正義(京都産大)

電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会（デザインガイア2022) 2022年11月29日電子情報通信学会
RTL故障診断容易化設計に基づくテスト生成法

千田祐弥・細川利典(日大)・山崎浩二(明大)

電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会（デザインガイア2022） 2022年11月29日電子情報通信学会
識別可能ハードウェア要素ペア数最大化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法

大塚裕衣・千田祐弥・徐浩豊・細川利典(日大)・山崎浩二(明大)

電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会（デザインガイア2022） 2022年11月29日電子情報通信学会
並列テストのためのコントローラの制御信号のドントケア割当てアルゴリズム

徐浩豊・細川利典(日大)・吉村正義(京都産大)・新井雅之(日大)

電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会（HotSpa2022) 2022年10月12日電子情報通信学会
フィールドテストのためのk連続状態遷移に基づく状態信号系列を用いたフィールドテスタビリティの評価

豊岡雄大・渡辺悠樹・細川利典(日大)・吉村正義(京都産大)

電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会（SWoPP2022) 2022年7月27日電子情報通信学会
ゲート網羅故障のテスト生成高速化のためのブロック分割手法

溝田桃菜・細川利典(日大)・吉村正義(京都産大)

電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会（SWoPP2022) 2022年7月27日電子情報通信学会
故障励起条件を用いた低消費電力指向テスト生成法の高速化

三浦怜・細川利典(日大)・吉村正義(京都産大)・新井雅之(日大)

電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会(SWoPP2022) 2022年7月27日電子情報通信学会
擬似ブール最適化を用いたFFR出力信号線遷移とWSAの相関に基づく低消費電力指向ドントケア割当て法

徐雁レイ・三浦怜・細川利典(日大)・吉村正義(京都産大)

電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会(SWoPP2022) 2022年7月27日電子情報通信学会
論理故障テスト並列化のための制御信号のドントケア割当て法

徐浩豊・細川利典・山崎紘史・新井雅之(日大)・吉村正義(京都産大)

ETNET2022 2022年3月10日電子情報通信学会、情報処理学会
故障活性化率に基づく診断分解能向上指向テスト生成法

千田祐弥・細川利典(日大)・山崎浩二(明大)

ETNET2022 2022年3月10日電子情報通信学会、情報処理学会
RTLにおけるSFLL-hdに基づいた論理暗号化手法

野口葉平・吉村正義(京都産大)・辻川敦也・細川利典(日大)

電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会 2022年3月1日電子情報通信学会
無効状態を含んだコントローラの遷移故障検出率向上指向状態割当て法

飯塚恭平・細川利典・山崎紘史(日大)・吉村正義(京都産大)

電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会 2022年3月1日電子情報通信学会
レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法の評価

土渕航平・徐浩豊・千田裕弥・細川利典(日大)・山崎浩二(明大)

電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会 2022年3月1日電子情報通信学会
ニューラルネットワークと故障検出情報を用いたマルチサイクルキャプチャテストにおける論理故障に関する欠陥種類推定法

太田菜月・細川利典(日大)・山崎浩二(明大)・新井雅之・山内ゆかり(日大)

電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会 2022年3月1日電子情報通信学会
モンテカルロ木探索を用いた低消費電力指向ドントケア割当て法

平間勇貴, 細川利典(日本大), 吉村正義(京産大)

第84回FTC研究会 2022年1月28日 FTC研究会

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担当経験のある科目(授業)

所属学協会

共同研究・競争的資金等の研究課題

SoCのテスト容易化設計

株式会社ソシオネクスト 2017年10月 - 2019年9月

細川利典、山崎紘史
高位設計からのLSIの非スキャンテスト容易化動作合成及びテスト生成に関する研究

日本学術振興会科学技術研究補助金基盤(C) 基盤研究(C) 2014年4月 - 2017年3月

細川利典

社会貢献活動

IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT) Steering Committee (2017-2019), Chair

その他

IEEE Taiwan, China, India 2017年1月1日 - 2019年12月31日
The 25th Asian Test Symposium, Organizing Committee, Tutorial Chair

その他

IEEE Hiroshima, Japan 2014年8月1日 - 2016年12月31日
IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT) Steering Committee (2014-2016), Vice-Chair

その他

IEEE China, India, Japan 2014年1月1日 - 2016年12月31日