細川 利典
ホソカワ トシノリ (Toshinori HOSOKAWA)
更新日: 02/02
論文
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2022 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) 4.3 1-6 2022年10月19日 査読有り最終著者責任著者
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An Additional State Transition Insertion Method to Improve Transition Fault Coverage for ControllersDigest of Papers of 22nd Workshop on RTL and High Level Testing 3.2 1-6 2021年11月26日 査読有り責任著者
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Digest of Papers of 22nd Workshop on RTL and High Level Testing 1.2 1-6 2021年11月25日 査読有り責任著者
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Digest of Papers of 22nd Workshop on RTL and High Level Testing 1.3 1-6 2021年11月25日 査読有り責任著者
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Digest of papers of THE 21ST WORKSHOP ON RTL AND HIGH LEVEL TESTING 1.3 1-6 2020年11月26日 査読有り最終著者責任著者
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Proceedings of 33rd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems 1.1 1-6 2020年10月19日 査読有り責任著者
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Proceedings of 26th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design 10.6 1-4 2020年7月13日 査読有り筆頭著者責任著者
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Proceedings of 26th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design 6.3 1-6 2020年7月13日 査読有り責任著者
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IEICE Transactions on Information and Systems Vol.E103-D(5) 1023-1030 2020年5月1日 査読有り最終著者責任著者
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Digest of papers of the 20th Workshop on RTL and High-Level Testing (WRTLT’19) ID2 1-6 2019年12月2日 査読有り責任著者
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Proceedings of IEEE the 22nd International Symposium Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems P4 1-4 2019年10月3日 査読有り責任著者
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Proceedings of IEEE the 22nd International Symposium Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems S2-4 1-6 2019年10月2日 査読有り筆頭著者
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Proceedings of the 25th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design 293-298 2019年7月3日 査読有り責任著者
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Proceedings of the 25th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design 40-43 2019年7月3日 査読有り責任著者
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Proceedings of the 25th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design 232-235 2019年7月2日 査読有り責任著者
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Digest of Papers of the Nineteenth Workshop on RTL and High Level Testing 2018年10月18日 査読有り
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Digest of Papers of the Nineteenth Workshop on RTL and High Level Testing 2018年10月18日 査読有り
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電子情報通信学会論文誌 Vol.J101-D(8) 1165-1175 2018年8月1日 査読有り
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Proceedings of the 24th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design 195-200 2018年7月4日 査読有り
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Proceedings of the IEEE 24th International Symposium on On-Line Testing And Robust System Design 228-231 2018年7月3日 査読有り筆頭著者