AlにAu, Re, Wを微量ドープした試料をアーク溶解により作製し、STEMのビームスキャン速度やビーム強度を変えた実験を行い、ドーパントのジャンプ頻度に関する系統的な実験を行った。その結果、原子ジャンプはAu>Re>Wの順に活発であること、また、その頻度は明らかに電子ビームのスキャン速度やビーム強度に依存することが判明した。Auはジャンプが速すぎ、Wはあまりジャンプ頻度が高くないので、ジャンプ頻度の追跡にはReドープ材を用いることとした。[100]入射でSTEM像をスキャン毎ごとに取り込み、Re原子位置を示す各輝点の位置変化をスキャン像ごとに丁寧に追跡した。