尾張真則 (Masanori Owari) - マイポータル - researchmap

基本情報

所属: 東京大学環境安全研究センター教授

学位: 工学博士(東京大学)

J-GLOBAL ID: 200901085546875516
researchmap会員ID: 1000012780

研究キーワード

2

研究分野

3

MISC

34

Improvement of a method for reconstructing the three-dimensional atom probe (3DAP) data

T. Chiba, M. Nojima, M. Owari

SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 38(12-13) 1751-1755 2006年12月
A novel sample pretreatment method using supercritical fluids for the analysis of atmospheric environmental samples by means of time-of-flight secondary ion mass spectrometry

T Sakamoto, A Yamamoto, M Owari, Y Nihei

SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 38(4) 317-321 2006年4月
Importance of automobile exhaust catalyst emissions for the depostion of platinum, palladium, and rhodium in the Northern Hemisphere

S Rauch, HF Hemond, C Barbante, M Owari, GM Morrison, B Peucker-Ehrenbrink, U Wass

ENVIRONMENTAL SCIENCE & TECHNOLOGY 39(21) 8156-8162 2005年11月
自動車排ガス浄化触媒を起源とする大気環境希少微粒子の迅速検出法の開発

津崎希, 大崎真由子, 冨安文武乃進, 尾張真則, 二瓶好正

分析化学 54(10) 991-996 2005年
Surface structural analysis of h-BN/Ni(111) by x-ray photoelectron diffraction excited by Al-Kα line and Cr-Lα line

Proceedings of the 5th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices 421 2005年
TOF-SIMS measurement for the complex particulate matter in urban air environment

B Tomiyasu, K Suzuki, T Gotoh, M Owari, Y Nihei

APPLIED SURFACE SCIENCE 231 515-519 2004年6月
Nano－dimensional analysis for practical materials using the nano-beam SIMS aparatus

e-Journal of Surface Science and Nanotechnology 2 131-135 2004年
ナノビーム二次イオン質量分析装置の試作と評価

野島雅, 神田雄介, 戸井雅之, 冨安文武乃進, 坂本哲夫, 尾張真則, 二瓶好正

分析化学 = Japan analyst 52(3) 179-185 2003年3月5日
Development of a chemically assisted micro-beam etching system for three-dimensional microanalysis

Appl.Surf. Sci. 203/204 205-208 2003年
ToF-SIMS mapping of dialkylphthalate and bisphenol-A adsorbed on small particles

Surf. Interf. Analysis 34, 302-305 2002年
ナノスケールFIB SIMS装置の試作

野島雅, 冨安文武乃進, 柴田俊男, 尾張真則, 二瓶好正

表面科学 21(8) 511-516 2000年8月10日
ガリウム収束イオンビーム励起オージェ電子を用いる微小領域の元素マッピング

程朝暉, 坂本哲夫, 高橋正典, 倉本靖之, 尾張真則, 二瓶好正

分析化学 47(6) 321-327 1998年
イオン・電子デュアル収束ビームを用いる三次元局所分析法の開発

坂本哲夫, 程朝暉, 高橋正典, 倉本靖之, 尾張真則, 二瓶好正

分析化学 47(6) 313-319 1998年
Depth Profiling of the Doped Phosphorous in a Silicon Dioxide Micro Particle by Gallium Focused Ion Beam SIMS

Proc. International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '97 323-326 1998年
High Spatial Resolution 3D Analysis of Materials using Gallium Focused Ion Beam Secondary Ion Mass Spectrometry (FIB SIMS)

Nucl Instrum. Methods. Phys. Res. B 136-138, 1028-1033 1998年
Microanalysis by focused ion beam secondary ion mass spectrometry (FIB-SIMS)

Y Nihei, B Tomiyasu, T Sakamoto, M Owari

JOURNAL OF TRACE AND MICROPROBE TECHNIQUES 15(4) 593-599 1997年
Behavior of Gallium Secondary Ion Intensity on Gallium Focused Ion Beam Secondary Ion Mass Spectrometry

Japanese Journal of Applied Physics 36(3A) 1287-1291 1997年
サブミクロン二次イオン質量分析装置を用いるチタン添加極低炭素鋼中の非金属介在物粒子のキャラクタリゼーション

冨安文武乃進, 柴田達也, 尾張真則, 二瓶好正

分析化学 45(6) 485-492 1996年
電子プローブマイクロアナリシス法及び二次イオン質量分析法による大気浮遊粒子状物質の同一粒子分析

坂本哲夫, 冨安文武乃進, 神宮信康, 尾張真則, 二瓶好正

分析科学 45(6) 479-484 1996年
Site-Specific Characteristic of the Kikuche-Like Bands High-Angular-Resolution X-Ray Photoelectron Diffraction (共著)

Japanese Journal of Applied Physics 35(5A) L587-L590 1996年

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書籍等出版物

16

Elemental Imaging of Cross-Sectioned Individual Particles by Ga+ Focused Ion Beam SIMS

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS XI 1998年
Ion and Electron Dual Focused Beam Apparatus for Three-Dimensional Microanalysis

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS XI 1998年
Depth Profiling of the Doped Element in a Micro Particle by Ga+ Focused Ion Beam SIMS

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS XI 1998年
Ion and Electron Dual Focused Beam Apparatus for Three-Dimensional Microanalysis

ECASIA 97 7th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis 1997年
Individual Particle Analysis of Suspended Particulate Matter by Ga⁺ Focused Ion Beam and Electron Probe Microanalysis

John Wiley & Sons. Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS X 1997年
Individual Particle Analysis of Nonmetallic Inclusion in Steel by Ga⁺ Focused Ion Beam SIMS

John Wiley & Sons. Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS X 1997年
Comparison between Suspended Particulate Matter of Urban Sites in Jakarta and Tokyo Using Portable Sampler and Electron Probe Microanalysis

European Conference on Application of Surface and Interface Analysis ECASIA 95 1996年
Simulation of Erosion of a Particle by Ion Bombardment

European Conference on Application of Surface and Interface Analysis ECASIA 95 1996年
Three Dimensional Analysis by Focused Ion Beam Secondary Ion Mass Spectrometry (FIB SIMS)

Japan Society for Promotion of Science Proc. 1st China-Japan Joint Symposium on Microbeam Analysis 1995年
Determination of Carbon in Inorganic Micro Particles by Gallium Focused Ion Beam SIMS

John Wiley and Sons Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IX 1994年
Electron Probe Micro Analysis (EDS-EPMA) and Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) of Finger Nail Melanonychia

John Wiley and Sons Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IX 1994年
Micro Cross-Sectioning and Quantitative Estimation of Internal Vacancy of Inorganic Microcapsules by Gallium Focused Ion Beam SIMS

John Wiley and Sons Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IX 1994年
Measurements and Model Calculation of Ambient Oxygen Effect on Secondary Ion Enhancement in Gallium Focused Ion Beam SIMS

John Wiley and Sons Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IX 1994年
Micro Cross-Sectioning and Multielement Parallel Mapping of Microstructures by Gallium Focused Ion Beam SIMS

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS VIII 1992年
Energy-Angle Multidetection-Type Electron Spectrometer for X-Ray Photoelectron Diffraction Studies

The Structure of Surfaces III 1991年
Structural Analysis of a Thin CaO Layer Formed by Electron Bombardment Heating on CaF₂(111) by Means of Chemical-State Discriminated XPED

The Structure of Surfaces III 1991年

所属学協会

7

共同研究・競争的資金等の研究課題

6

環境微粒子の化学計測に関する研究

経常研究 1990年
Study on Chemical Analysis of Environmental Small Particles

Ordinary Research 1990年
微小領域分析法の研究

経常研究 1985年
Study on Small Area Analysis

Ordinary Research 1985年
固体表面の分析

経常研究 1978年
Analysis of Solid Surfaces

Ordinary Research 1978年