高松 雄三
タカマツ ユウゾウ (Yuzo Takamatsu)
更新日: 2024/12/18
基本情報
研究キーワード
4研究分野
1経歴
1-
1987年
学歴
2-
- 1966年
-
- 1966年
委員歴
1-
1996年 - 1996年
MISC
165-
IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E91D(3) 690-699 2008年3月
-
IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E91D(3) 675-682 2008年3月
-
IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E91D(3) 771-775 2008年3月
-
電子情報通信学会 E91-D(3) 2008年
-
IEEE Computer SocietyProceedings of Asian Test Symposium 271-274 2007年
-
IEEEProc. IEEE Sixteenth Asian Test Symposium 39-44 2007年
-
PROCEEDINGS OF THE 16TH ASIAN TEST SYMPOSIUM 271-274 2007年
-
IEEEProc. IEEE Sixteenth Asian Test Symposium 39-44 2007年
-
DFT 2007: 22ND IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEFECT AND FAULT-TOLERANCE IN VLSI SYSTEMS, PROCEEDINGS 243-251 2007年
-
IEICEIEICE Trans. on Inf. & Syst. E89D(11) 2748-2755 2006年11月
-
IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS E89D(11) 2748-2755 2006年11月
-
米国電気電子学会 349-353 2006年
-
LSIテスティングシンポジウム 187-192 2006年
-
ＬＳＩテスティングシンポジウム２００６ 181-186 2006年
-
米国電気電子学会 354-359 2006年
-
IEEEProc. The 21st IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT06) 401-409 2006年
-
電子情報通信学会電子情報通信学会ＤＩ分冊 J89-D(4) 778-787 2006年
-
IEEEProc. IEEE Fifteenth Asian Test Symposium 349-353 2006年
-
IEEEProc. IEEE Fifteenth Asian Test Symposium 354-359 2006年
-
IEEEProc. The 21st IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT06) 401-409 2006年
書籍等出版物
4-
日新出版 2002年
-
共立出版共立出版 1987年
-
日新出版日新出版 1984年
-
共立出版共立出版 1983年
Works(作品等)
2-
2007年 - 2008年