TAKAHASHI Hiroshi

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Name
TAKAHASHI Hiroshi
Affiliation
Ehime University
Section
Graduate School of Science and Engineering Electrical and Electronic Engineering and Computer Science
Job title
Professor,Departmental Dean
Degree
Dr. Eng.(Ehime University)

Published Papers

 
Shuichi Kameyama, Hiroshi Takahashi
Journal of Japan Institute of Electronics Packaging   21 405-410   Jan 2018
亀山修一, 高橋寛
エレクトロニクス実装学会誌   21(1) 57‐61   Jan 2018
Senling Wang,Tomoki Aono,Yoshinobu Higami,Hiroshi Takahashi,Hiroyuki Iwata,Yoichi Maeda,Jun Matsushima
27th IEEE Asian Test Symposium, ATS 2018, Hefei, China, October 15-18, 2018   155-160   2018   [Refereed]
Senling Wang,Yoshinobu Higami,Hiroshi Takahashi,Hiroyuki Iwata,Yoichi Maeda,Jun Matsushima
23rd IEEE European Test Symposium, ETS 2018, Bremen, Germany, May 28 - June 1, 2018   1-2   2018   [Refereed]
S. Wang,Y. Higami,H. Takahashi,Array,Jun Matsushima
IEEE Design & Test   35(3) 39-45   2018   [Refereed]
亀山修一, 亀山修一, WANG Senling, 高橋寛
電子情報通信学会技術研究報告   116(466(DC2016 74-83)) 53‐58   Feb 2017
Yuuya Ohama,Hiroyuki Yotsuyanagi,Masaki Hashizume,Yoshinobu Higami,Hiroshi Takahashi
17th International Symposium on Communications and Information Technologies, ISCIT 2017, Cairns, Australia, September 25-27, 2017   1-5   2017   [Refereed]
Senling Wang,Yoshinobu Higami,Hiroshi Takahashi,Masayuki Sato,Mitsunori Katsu,Shoichi Sekiguchi
26th IEEE Asian Test Symposium, ATS 2017, Taipei City, Taiwan, November 27-30, 2017   17-22   2017   [Refereed]
Hiroyuki Yotsuyanagi,Kotaro Ise,Masaki Hashizume,Yoshinobu Higami,Hiroshi Takahashi
IEICE Transactions   100-A(12) 2842-2850   2017   [Refereed]
Yoshinobu Higami,Senling Wang,Hiroshi Takahashi,Shin-ya Kobayashi,Kewal K. Saluja
IEICE Transactions   100-D(9) 2224-2227   2017   [Refereed]
志田洋, 大串裕郁, 樋上喜信, 阿萬裕久, 高橋寛
電子情報通信学会論文誌 D(Web)   J99-D(5) 539-548   May 2016   [Refereed]
Senling Wang,Hanan T. Al-Awadhi,Soh Hamada,Yoshinobu Higami,Hiroshi Takahashi,Hiroyuki Iwata,Jun Matsushima
25th IEEE Asian Test Symposium, ATS 2016, Hiroshima, Japan, November 21-24, 2016   2016(ATS) 214-214   2016   [Refereed]
Yoshinobu Higami,Senling Wang,Hiroshi Takahashi,Shin-ya Kobayashi,Kewal K. Saluja
IPSJ Trans. System LSI Design Methodology   9 13-20   2016   [Refereed]
A Proposal of Maintenance Cost Model of Track Circuits
HIROSHI SHIDA, HIROFUMI OOGUSHI, YOSHINOBU HIGAMI, HIROHISA AMAN, HIROSHI TAKAHASHI
Proc.MMR2015      Sep 2015   [Refereed]
田中良一, 松本多恵, 金田紀夫, 畠山一実, 松本哲郎, 高橋寛, 林田行雄
CIEC研究会報告集   6 34-37   Mar 2015   [Refereed]
Senling Wang,Yasuo Sato,Seiji Kajihara,Hiroshi Takahashi
J. Low Power Electronics   11(4) 528-540   2015   [Refereed]
Yoshinobu Higami,Senling Wang,Hiroshi Takahashi,Shin-ya Kobayashi,Kewal K. Saluja
2015 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, ISVLSI 2015, Montpellier, France, July 8-10, 2015   07-10-July-2015 503-508   2015   [Refereed]
志田洋, 樋上喜信, 阿萬裕久, 高橋寛, SALUJA Kewal K.
日本信頼性学会誌   36(8) 501-510   Nov 2014   [Refereed]
志田洋, 大串裕郁, 樋上喜信, 阿萬裕久, 高橋寛
日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム発表報文集   27th 77-80   Nov 2014
志田洋, 大串裕郁, 高橋寛
日本信頼性学会誌   36(6) 391-396   Sep 2014   [Refereed]
志田洋, 大串裕郁, 高橋寛
日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム発表報文集   22nd 47-48   Jun 2014
亀山修一, 馬場雅之, 樋上喜信, 高橋寛
電子情報通信学会論文誌 D(Web)   J97-D(4) 887-890 (WEB ONLY)   Apr 2014
Yoshinobu Higami,Hiroshi Takahashi,Shin-ya Kobayashi,Kewal K. Saluja
IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, ISVLSI 2014, Tampa, FL, USA, July 9-11, 2014   320-325   2014   [Refereed]
KAMEYAMA Shuichi, BABA Masayuki, HIGAMI Yoshinobu, TAKAHASHI Hiroshi
Trans Jpn Inst Electron Packag (Web)   7(1) 140-146 (J-STAGE)   2014   [Refereed]
志田洋, 大串裕郁, 高橋寛
日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム発表報文集   26th 67-70   Nov 2013   [Refereed]
KAMEYAMA Shuichi, BABA Masayuki, HIGAMI Yoshinobu, TAKAHASHI Hiroshi
The IEICE transactions on information and systems (Japanese edition)   96(9) 2078-2081   Sep 2013   [Refereed]
電子機器の小型化・高機能化に伴って,実装ボード上のIC間の相互接続をテストするためのバウンダリスキャンテストが必要不可欠となりつつある.本論文では,これまでほとんど論じられることがなかった,バウンダリスキャンテスト実行中のIC内部で起こっている回路の振舞いを分析し,テスト上の課題について言及する.更に,その課題に対する対策を述べる.
OHGURI Hiroto, YOTSUYANAGI Hiroyuki, HASHIZUME Masaki, TSUTSUMI Toshiyuki, YAMAZAKI Kouji, HIGAMI Yoshinobu, TAKAHASHI Hiroshi
IEICE technical report. Dependable computing   112(429) 25-30   Feb 2013
When a resistive open fault occurs, signal delay at the faulty wire may degrade circuit performance However, a resistive open fault is difficult to test since some test patterns do not cause logical errors at the faulty circuit even if the pattern...
Yoshinobu Higami,Hiroshi Takahashi,Shin-ya Kobayashi,Kewal K. Saluja
IEICE Transactions   96-D(6) 1323-1331   2013   [Refereed]
Hiroshi Takahashi
IEICE Transactions   96-D(9) 1905-1906   2013   [Refereed]
Koji Yamazaki,Toshiyuki Tsutsumi,Hiroshi Takahashi,Yoshinobu Higami,Hironobu Yotsuyanagi,Masaki Hashizume,Kewal K. Saluja
22nd Asian Test Symposium, ATS 2013, Yilan County, Taiwan, November 18-21, 2013   79-84   2013   [Refereed]
Yoshinobu Higami,Satoshi Ohno,Hironori Yamaoka,Hiroshi Takahashi,Yoshihiro Shimizu,Takashi Aikyo
IEICE Transactions   95-D(4) 1093-1100   2012   [Refereed]
Yoshinobu Higami,Hiroshi Takahashi,Shin-ya Kobayashi,Kewal K. Saluja
IEEE 18th Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing, PRDC 2012, Niigata, Japan, November 18-19, 2012   135-144   2012   [Refereed]
TAKAMATSU Yuzo, SATO Yasuo, TAKAHASHI Hiroshi, HIGAMI Yoshinobu, YAMAZAKI Koji
The IEICE transactions on information and systems (Japanese edetion)   94(1) 266-279   Jan 2011   [Refereed]
LSIの微細化技術の進展並びに高集積化・高速化に伴い,論理回路の故障診断は,(1)故障原因を調べてテストへフィードバックすることでLSIの品質を向上させること,(2)製造プロセスの歩留りを決めるプロセスの欠陥や設計の不具合を調べ,その対策を施すことで製造歩留りを向上させること,などの手段として近年その重要性を増している.そこで,本論文では,論理回路の故障診断法について概説する.まず,故障診断法の基本概念として,故障モデル及び故障診断法の基本的な方法である原因-結果分析法と結果-原因分析法を...
Yoshinobu Higami,Hiroshi Furutani,Takao Sakai,Shuichi Kameyama,Hiroshi Takahashi
Proceedings of the 20th IEEE Asian Test Symposium, ATS 2011, New Delhi, India, November 20-23, 2011   102-107   2011   [Refereed]
Yoshinobu Higami,Hiroshi Takahashi,Shin-ya Kobayashi,Kewal K. Saluja
Proceedings of the 20th IEEE Asian Test Symposium, ATS 2011, New Delhi, India, November 20-23, 2011   1-6   2011   [Refereed]
Yoshinobu Higami,Hiroshi Takahashi,Shin-ya Kobayashi,Kewal K. Saluja
16th European Test Symposium, ETS 2011, Trondheim, Norway, May 23-27, 2011   216   2011   [Refereed]
IEEEProc. Asian and South Pacific Design Automation Conference   799-805   2011   [Refereed]
山崎浩二, 堤利幸, 高橋寛, 樋上喜信, 相京隆, 四柳浩之, 橋爪正樹, 高松雄三
電子情報通信学会論文誌 D   J93-D(11) 2416-2425   Nov 2010   [Refereed]
IEEEInternational Symposium on Communications and Information Technologies   0(0) 609-614   2010   [Refereed]
相京隆, 高橋寛, 樋上喜信, 大津潤一, 小野恭平, 清水隆治, 高松雄三
電子情報通信学会論文誌 D   J92-D(7) 984-993   Jul 2009   [Refereed]
Yoshinobu Higami,Kewal K. Saluja,Hiroshi Takahashi,Shin-ya Kobayashi,Yuzo Takamatsu
IPSJ T. on System LSI Design Methodology   2 250-262   2009   [Refereed]
Hiroshi Takahashi,Yoshinobu Higami,Yuzo Takamatsu,Koji Yamazaki,Toshiyuki Tsutsumi,Hiroyuki Yotsuyanagi,Masaki Hashizume
Proceedings of the Eighteentgh Asian Test Symposium, ATS 2009, 23-26 November 2009, Taichung, Taiwan   301-306   2009   [Refereed]
Yoshinobu Higami,Kewal K. Saluja,Hiroshi Takahashi,Shin-ya Kobayashi,Yuzo Takamatsu
IEICE Transactions   92-A(12) 3128-3135   2009   [Refereed]
Yoshinobu Higami,Yosuke Kurose,Satoshi Ohno,Hironori Yamaoka,Hiroshi Takahashi,Yoshihiro Shimizu,Takashi Aikyo,Yuzo Takamatsu
2009 IEEE International Test Conference, ITC 2009, Austin, TX, USA, November 1-6, 2009   1-9   2009   [Refereed]
Koji Yamazaki,Toshiyuki Tsutsumi,Hiroshi Takahashi,Yoshinobu Higami,Takashi Aikyo,Yuzo Takamatsu,Hiroyuki Yotsuyanagi,Masaki Hashizume
VLSI Design 2009: Improving Productivity through Higher Abstraction, The 22nd International Conference on VLSI Design, New Delhi, India, 5-9 January 2009   85-90   2009   [Refereed]
Hiroyuki Yotsuyanagi,Masaki Hashizume,Toshiyuki Tsutsumi,Koji Yamazaki,Takashi Aikyo,Yoshinobu Higami,Hiroshi Takahashi,Yuzo Takamatsu
VLSI Design 2009: Improving Productivity through Higher Abstraction, The 22nd International Conference on VLSI Design, New Delhi, India, 5-9 January 2009   91-96   2009   [Refereed]
樋上喜信, 藤尾昇平, 阿萬裕久, 高橋寛, 高松雄三
情報処理学会シンポジウム論文集   2008(9) 151-157   Oct 2008   [Refereed]
Yoshinobu Higami,Kewal K. Saluja,Hiroshi Takahashi,Shin-ya Kobayashi,Yuzo Takamatsu
IEICE Transactions   91-A(12) 3506-3513   2008   [Refereed]
Yoshinobu Higami,Kewal K. Saluja,Hiroshi Takahashi,Shin-ya Kobayashi,Yuzo Takamatsu
17th IEEE Asian Test Symposium, ATS 2008, Sapporo, Japan, November 24-27, 2008   97-102   2008   [Refereed]
IEICEIEICE Transactions on Information and Systems   E91-D(3)    2008   [Refereed]
IEICE Trans. on Information and Systems   E91-D(3) 675--682   2008   [Refereed]
TAKAHASHI Hiroshi, HIGAMI Yoshinobu, KADOYAMA Shuhei, TAKAMATSU Yuzo, YAMAZAKI Koji, AIKYO Takashi, SATO Yasuo
IEICE Trans. on Information and Systems   E91-D(3) 771-775   2008   [Refereed]
Yoshinobu Higami,Kewal K. Saluja,Hiroshi Takahashi,Yuzo Takamatsu
20th International Conference on VLSI Design (VLSI Design 2007), Sixth International Conference on Embedded Systems (ICES 2007), 6-10 January 2007, Bangalore, India   781-786   2007   [Refereed]
IEEE Computer SocietyProceedings of Asian Test Symposium   271-274   2007   [Refereed]
IEEEProc. The 22nd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT07)   0(0) 223-231   2007   [Refereed]
IEEEProc. IEEE Sixteenth Asian Test Symposium   0(0) 39-44   2007   [Refereed]
Test Generation and Diagnostic Test Generation for Open Faults with Considering Adjacent Lines
IEEEProc. The 22nd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT07)   0(0) 243-251   2007   [Refereed]
Yoshinobu Higami,Kewal K. Saluja,Hiroshi Takahashi,Shin-ya Kobayashi,Yuzo Takamatsu
Proceedings of the 2006 Conference on Asia South Pacific Design Automation: ASP-DAC 2006, Yokohama, Japan, January 24-27, 2006   47(6) 659-664   Jun 2006   [Refereed]
Recently, it is getting more important to reduce the cost of test and fault diagnosis. Since the cost of test and fault diagnosis depends on the number of test vectors, test vectors must be compacted. This paper presents methods for compacting of ...
SATO Yuichi, TAKAHASHI Hiroshi, HIGAMI Yoshinobu, TAKAMATSU Yuzo
The IEICE transactions on information and systems (Japanese edetion)   89(4) 778-787   Apr 2006   [Refereed]
微細化技術の進展並びに高集積化・多層化に伴い,配線の接続不良によるオープン故障の診断が不可欠になっている.また,スキャンフリップフロップ数の増加及び組込み自己テスト(BIST)の導入によって,被検査回路の故障を検出するテストごとに誤りを観測する外部出力及びスキャンフリップフロップの位置を知ることが困難になっている.本論文では,検出/非検出情報に基づく分岐元信号線の単一オープン故障の診断法を述べる.検出/非検出情報は,テスタから得られる,被検査回路の故障を検出するテスト(フェイルテスト)の集...
Diagnosis of Transistor Shorts in Logic Test Environment
IEEEProc. IEEE Fifteenth Asian Test Symposium   1-10   2006   [Refereed]
IEEEProc. The 21st IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT06)   401-409   2006   [Refereed]
TAKAHASHI Hiroshi, YAMAMOTO Yukihiro, HIGAMI Yoshinobu, TAKAMATSU Yuzo
The transactions of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers. D-I   88(6) 1029-1038   Jun 2005   [Refereed]
組込み自己テスト(BIST)環境においては, 検査結果として得られる出力署名が高圧縮であるため, 被検査回路の故障を検出するテスト(検出テスト)の集合として識別された検出テスト候補の集合に被検査回路の故障を検出しないテスト(非検出テスト)が誤って含まれてしまう場合がある. したがって, BIST環境で識別された検出テスト候補の集合は不確かな検出テスト集合となる. また, BIST環境では, どの外部出力において誤りを観測したかを知ることが困難である. そこで, 本論文では, BIST環境に...
T. Seiyama,Hiroshi Takahashi,Yoshinobu Higami,Kazuo Yamazaki,Yuzo Takamatsu
International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2005), 23-26 May 2005, Kobe, Japan   2987-2990   2005   [Refereed]
Post-BIST Fault Diangosis for Multiple Stuck-at Faults
IEEEProc. IEEE International Silicon Debug and Diaganosis   4-4, pp.1-6   2005
IEEEIEEE International Symposium on Circuits and System ISCAS2005   2987-2990   2005   [Refereed]
TAKAHASHI H, KELLER K J, LE K T, SALUJA K K, TAKAMATSU Y
IEEE Trans. on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems   24(2) 252-263   2005   [Refereed]
Hiroshi Takahashi,Yukihiro Yamamoto,Yoshinobu Higami,Yuzo Takamatsu
13th Asian Test Symposium (ATS 2004), 15-17 November 2004, Kenting, Taiwan   216-221   2004   [Refereed]
Failure Analysis of Open Faults by Using Detecting/Un-detecting Information on Tests
Proc. IEEE 13th Asian Test Sympo.   222-227   2004   [Refereed]
IEEEProc. IEEE Int. Sympo. Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems   89-96   2003   [Refereed]
Hiroshi Takahashi,Kwame Osei Boateng,Kewal K. Saluja,Yuzo Takamatsu
IEEE Trans. on CAD of Integrated Circuits and Systems   21(3) 362-368   2002   [Refereed]
Keith J. Keller,Hiroshi Takahashi,Kim T. Le,Kewal K. Saluja,Yuzo Takamatsu
11th Asian Test Symposium (ATS 2002), 18-20 November 2002, Guam, USA   242-247   2002   [Refereed]
Jiang Brandon Liu,Andreas G. Veneris,Hiroshi Takahashi
Proceedings IEEE International Test Conference 2002, Baltimore, MD, USA, October 7-10, 2002   1085-1092   2002   [Refereed]
Hiroshi Takahashi,Kewal K. Saluja,Yuzo Takamatsu
9th Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 2002), 16-18 December 2002, Tsukuba-City, Ibarski, Japan   275-282   2002   [Refereed]
Diagnosing Crosstalk Faults in Sequential Circuits Using Fault Simulation
IEICE Trans. Information and Systems   (E85-D(10)) 1515-1525   2002
Keith J. Keller,Hiroshi Takahashi,Kewal K. Saluja,Yuzo Takamatsu
Proceedings IEEE International Test Conference 2001, Baltimore, MD, USA, 30 October - 1 November 2001   568-577   2001   [Refereed]
Efficient Signature-Based Fault Diagnosis Using Variable Size Windows
Proc. 14th International Conference on VLSI Design   391-396   2001   [Refereed]
Design Error Diagnosis Using Backward Path-tracing and Logic Simulation
Proc. The International Technical Conference on Circuits/Systems, Computer and Communications   426-429   2001   [Refereed]
Simulation-based Diagnosis for Crosstalk Faults in Sequential Circuits
Proc. IEEE 10th Asian Test Symposium   63-68   2001   [Refereed]
BOATENG Kwame Osei, TAKAHASHI Hiroshi, TAKAMATSU Yuzo
IEICE transactions on information and systems   83(10) 1868-1878   Oct 2000   [Refereed]
In this paper, we consider the design for testability of multiplier based on the modified Booth Algorithm. First, we present a basic array implementation of the multiplier. Next, we introduce testability considerations to derive two C-testable des...
Kwame Osei Boateng,Hiroshi Takahashi,Yuzo Takamatsu
18th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2000), 30 April - 4 May 2000, Montreal, Canada   171-178   2000   [Refereed]
Design of C-Testable Modified-Booth Multiplier
IEICE Transactions on Information and Systems   E83-D(10) 1879-1889   2000   [Refereed]
BOATENG Kwame Osei, TAKAHASHI Hiroshi, TAKAMATSU Yuzo
IEICE transactions on information and systems   82(12) 1563-1571   Dec 1999   [Refereed]
In our previous paper [9] we presented a pathtracing method of multiple gate delay fault diagnosis in combinational circuits. In this paper, we propose an improved method that uses the ambiguous delay model. This delay model makes provision for pa...
TAKAHASHI Hiroshi, BOATENG Kwame Osei, TAKAMATSU Yuzo
IEICE transactions on information and systems   82(11) 1466-1473   Nov 1999   [Refereed]
A. Chatterjee et al. proposed tests with linearity property for gate delay faults to determine, at a required clock speed, whether a circuit under test is a marginal chip or not [1]. The latest transition time at the primary output is changed line...
Takahashi Hiroshi, Boateng Kwame Osei, Takamatsu Yuzo
The transactions of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers. D-I   82(7) 925-932   Jul 1999   [Refereed]
ゲート遅延故障シミュレーションを用いた組合せ回路の単一ゲート遅延故障に対する一診断法を提案する. 本論文では, 一つ以上の外部出力で誤り出力を観測する誤りテスト及びすべての外部出力で正常出力を観測する正常テストを用いる。誤りテストによるゲート遅延故障シミュレーションを用いた診断法では, 誤り出力に基づいて被疑故障を推定し, また, 正常出力に基づいて存在しないと推定される故障を指摘する. 更に, 正常テストによるゲート遅延故障シミュレーションを用いて存在しないと推定される故障を指摘し, 存...
Hiroshi Takahashi,Kwame Osei Boateng,Yuzo Takamatsu
17th IEEE VLSI Test Symposium (VTS '99), 25-30 April 1999, San Diego, CA, USA   64-69   1999   [Refereed]
A New Method for Diagnosing Mutiple Stuck-at Faults using Multiple and Single Fault Simulations(共著)
Proc. of 17th IEEE VLSI Test Symposium   64-69   1999   [Refereed]
Multiple Fault Diagnosis in Logic Circuits using EB Tester and Multiple/Single Fault Simulators
Proc. of ATS '99   341-346   1999   [Refereed]
BOATENG Kwame Osei, TAKAHASHI Hiroshi, TAKAMATSU Yuzo
IEICE transactions on information and systems   81(7) 706-715   Jul 1998   [Refereed]
Testing for delay faults is very important in the verification of the timing behavior of digital circuits. When a circuit which is unable to operate at the desired clock speed is identified, it is necessary to locate the delay fault(s)affecting th...
Electron Beam Tester Aided Fault Diagnosis for Logic Circuits Based on Sensitized Paths
Proc. of IEEE ATS'98   237-241   1998   [Refereed]
Diagnosis of Single Gate Delay Faults in Combinational Circuits using Delay Fault Simulation
Proc. of IEEE ATS'98   108-112   1998   [Refereed]
Multiple Gate Delay Fault Diagnosis Using Test-Pairs for Marginal Delays
IEICE Transactions on Information and Systems   E81-D(7) 706-715   1998   [Refereed]
Hiroshi Takahashi,Takashi Watanabe,Toshiyuki Matsunaga,Yuzo Takamatsu
Systems and Computers in Japan   28(6) 68-76   1997   [Refereed]
Kwame Osei Boateng,Hiroshi Takahashi,Yuzo Takamatsu
6th Asian Test Symposium (ATS '97), 17-18 November 1997, Akita, Japan   42-47   1997   [Refereed]
Hiroshi Takahashi,Kwame Osei Boateng,Yuzo Takamatsu,Toshiyuki Matsunaga
6th Asian Test Symposium (ATS '97), 17-18 November 1997, Akita, Japan   320-325   1997   [Refereed]
A Method of Generating Tests for Marginal Delays and Delay Faults in Combinational Circuits
Proc. IEEE ATS'97   320-325   1997   [Refereed]
A Method of Multiple Fault Diagnosis in Sequential Circuits by Sensitizing Sequence Pairs
IEICE Transactions on Informations and Systems   E80-D(1) 28-37   1997   [Refereed]
TAKAHASHI Hiroshi, YANAGIDA Nobuhiro, TAKAMATSU Yuzo
The transactions of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers   J79-D-1(12) 1131-1140   Dec 1996
一般に回路を構成するゲートはある遅延時間を有するので,その回路内部の信号線および回路の外部出力の信号値はある信号伝搬時間の後に安定する.そこで本論文では,従来の縮退故障に対する診断法においては利用されていない信号伝搬時間を利用した多重縮退故障の診断法を考察する.本論文では,各ゲートに一定の遅延を仮定した組合せ回路のもとで,ある信号線に生起された信号変化がいずれかの外部出力の信号変化の最終変化時刻を決定するような入力対を診断用テストとして提案し,その診断用テストを用いた診断法を述べる.本論文...
TAKAHASHI Hiroshi, WATANABE Takashi, MATSUNAGA Toshiyuki, TAKAMATSU Yuzo
The transactions of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers   J79(NO.6) 361-370   Jun 1996   [Refereed]
各ゲートに一定の遅延を仮定した組合せ回路を考える. 本論文では, この回路の一つの目標信号線における微小なゲート遅延故障を検出するテストを提案し, その生成法を述べる. ここで, 微小なゲート遅延故障とは目標の信号線に付加した1単位付加遅延であり, 提案するテスト(SD (Small gate Delay fault)テストと呼ぶ)は, 回路の各ゲートに仮定した遅延のもとでその1単位付加遅延を検出することができる. 次に, 変化信号値の伝搬遅延時間を導入した時間付き7値演算を用いて, 目標...
Nobuhiro Yanagida,Hiroshi Takahashi,Yuzo Takamatsu
Digest of Papers: FTCS-26, The Twenty-Sixth Annual International Symposium on Fault-Tolerant Computing, Sendai, Japan, June 25-27, 1996   86-95   1996   [Refereed]

Misc

 
松田優大, WANG S., 樋上喜信, 高橋寛
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2017 ROMBUNNO.10‐7   Sep 2017
青萩正俊, 増成紳介, WANG S., 高橋寛
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2017 ROMBUNNO.10‐6   Sep 2017
中浦大貴, 渡邊大貴, 増成紳介, 矢野良典, 河野靖, 木下浩二, 二宮崇, 田村晃裕, 高橋寛, WANG S., 樋上喜信, 藤田欣裕, 二宮宏
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2017 ROMBUNNO.17‐3   Sep 2017
片山知拓, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2017 ROMBUNNO.10‐3   Sep 2017
小川達也, WANG S., 高橋寛, 佐藤正幸
情報科学技術フォーラム講演論文集   16th 237‐238   Sep 2017
志田洋, 志田洋, 武市徹, 大串裕郁, 二宮崇, 高橋寛
日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム発表報文集   25th 45‐46   May 2017
香川敬祐, 矢野郁也, WANG Senling, 樋上喜信, 高橋寛, 大竹哲史
電子情報通信学会技術研究報告   116(466(DC2016 74-83)) 11‐16   Feb 2017
志田洋, 比澤庸平, 大串裕郁, 高橋寛
日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム発表報文集   29th 93‐96   Nov 2016
伊勢幸太郎, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2016 ROMBUNNO.10‐1   Sep 2016
矢野郁也, WANG S., 樋上喜信, 高橋寛
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2016 ROMBUNNO.10‐9   Sep 2016
高原圭太, WANG S., 樋上喜信, 高橋寛
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2016 ROMBUNNO.10‐7   Sep 2016
和田祐介, 樋上喜信, WANG S., 高橋寛, 小林真也
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2016 ROMBUNNO.10‐6   Sep 2016
香川敬祐, WANG S., 亀山修一, 樋上喜信, 高橋寛
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2016 ROMBUNNO.10‐5   Sep 2016
濱田宗, WANG S., 樋上喜信, 高橋寛, 岩田浩幸, 松嶋潤
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   2016 ROMBUNNO.10‐8   Sep 2016
志田洋, 大串裕郁, 高橋寛
日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム発表報文集   24th 65‐66   May 2016
門田一樹, 濱田宗, WANG S., 樋上喜信, 高橋寛, 岩田浩幸, 松嶋潤
電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM)   2016 ROMBUNNO.D‐10‐2   Mar 2016
WANG Senling, 香川敬祐, 亀山修一, 亀山修一, 樋上喜信, 高橋寛
電子情報通信学会技術研究報告   115(449(DC2015 86-96)) 49‐54   Feb 2016
藤谷和依, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛
電子情報通信学会技術研究報告   115(449(DC2015 86-96)) 13‐18   Feb 2016
志田洋, 大串裕郁, 高橋寛
信頼性・保全性シンポジウム(CD-ROM)   46th ROMBUNNO.Session11‐1   2016
伊勢幸太郎, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛
電子情報通信学会技術研究報告   115(338(VLD2015 38-76)) 31‐36   Nov 2015

Conference Activities & Talks

 
矢野良典, 青野智己, WANG S., 樋上喜信, 高橋寛
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   15 Sep 2018   
ZHOU X., WANG S., 高橋寛
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   15 Sep 2018   
柴田駿介, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   15 Sep 2018   
増成紳介, 青萩正俊, WANG S., 樋上喜信, 高橋寛, 四柳浩之, 橋爪正樹
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   15 Sep 2018   
青野智己, 矢野良典, WANG S., 樋上喜信, 高橋寛
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   15 Sep 2018   
志田洋, 志田洋, 田村晃裕, 二宮崇, 高橋寛
日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム発表報文集   4 Jun 2018   
亀山修一, 高橋寛
エレクトロニクス実装学会講演大会講演論文集(CD-ROM)   6 Mar 2018   
江篭平紀子, 永吉裕子, 飯森俊介, 永井直美, 木原信吾, 永井康徳, 甲斐博, 高橋寛
日本在宅医学会大会抄録集   2018   
志田洋, 志田洋, 二宮崇, 高橋寛
日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム発表報文集   27 Nov 2017   
野口敬輔, 小川達也, 安保良佑, 高原圭太, 河野靖, 木下浩二, 二宮崇, 田村晃裕, 高橋寛, WANG S., 樋上喜信, 藤田欣裕, 二宮宏
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)   16 Sep 2017   

Research Grants & Projects

 
Design and Test for Digital System
Project Year: 2003 - 2005