高橋寛 (Hiroshi Takahashi) - マイポータル - researchmap

基本情報

所属: 愛媛大学大学院理工学研究科電子情報工学専攻教授,副学長

学位: 博士（工学）(愛媛大学)

J-GLOBAL ID: 200901007368644970
researchmap会員ID: 1000040195

外部リンク: http://larissa.cs.ehime-u.ac.jp/

研究キーワード

14

研究分野

1

情報通信 / 計算機システム /

経歴

7

2024年4月 - 現在

愛媛大学, 機構長・副学長
2010年10月 - 現在

愛媛大学大学院, 教授
2018年4月 - 2024年3月

愛媛大学, 工学部, 工学部長
2000年4月 - 2010年3月

愛媛大学, 大学院理工学研究科, 准教授
2000年5月 - 2001年3月

米国ウィスコンシン大学, マディソン校, 在外研究員
1997年4月 - 2000年3月

愛媛大学, 工学部情報工学科, 講師
1990年4月 - 1997年3月

愛媛大学, 工学部情報工学科, 助手

学歴

2

1988年4月 - 1990年3月

佐賀大学, 大学院理工学研究科, 修士課程電子工学専攻
1984年4月 - 1988年3月

佐賀大学, 理工学部, 電子工学科

委員歴

10

2024年3月 - 現在

電子情報通信学会, フェロー
2020年4月 - 現在

エレクトロニクス実装学会, マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文委員会委員
2018年8月 - 現在

一般社団法人パワーデバイス・イネーブリング協会半導体テスト技術者検定課題検討委員会
2018年6月 - 現在

日本信頼性学会, 評議員
2009年4月 - 現在

IEEE, アジアテストシンポジウムＳＣ
2020年6月 - 2022年5月

電子情報通信学会, ディペンダブルコンピューティング研究専門委員会委員長
2020年6月 - 2021年6月

情報処理学会四国支部, 幹事
2018年6月 - 2020年6月

電子情報通信学会, ディペンダブルコンピューティング研究専門委員会副委員長
2018年6月 - 2020年6月

情報処理学会, 四国支部長
2015年4月 - 2016年11月

IEEE アジアテストシンポジウム, 実行委員長

受賞

5

2024年3月

フェロー称号, 電子情報通信学会
2020年1月

IEEE CASS 四国チャプタ主催アワード

高橋寛
2018年7月

特別研究員等の書面審査における貢献, 日本学術振興会

高橋寛
2016年5月

高木賞, 日本信頼性学会

高橋寛
2012年5月

電子情報通信学会論文賞, 電子情報通信学会

高松雄三, 佐藤康夫, 高橋寛, 樋上喜信, 山崎浩二

論文

189

Binary Splitting Test Generation for a Pattern Matching Accelerator with In-Memory-Processing Architecture

Ryusuke Yamamoto, Tatsuya Nishikawa, Keisuke Kamita, Senling Wang, Shuichi Kameyama, Hiroshi Takahashi, Hiroshi Kai, Katsumi Inoue

Lecture Notes in Electrical Engineering 51-61 2026年1月23日
A Lightweight and Secure One-time Authentication Protocol for MQTT based on SAS-L2

Ryoya Nakamura, Senling Wang, Hiroshi Kai, Hiroshi Takahashi, Akihiro Shimizu

2025 IEEE/IEIE International Conference on Consumer Electronics-Asia (ICCE-Asia) 1-6 2025年10月27日
A Spatio-Temporal Graph Neural Networks Approach for Predicting Silent Data Corruption inducing Circuit-Level Faults.

Shaoqi Wei, Senling Wang, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Ruijun Ma 0002, Tianming Ni, Xiaoqing Wen, Hiroshi Takahashi

CoRR abs/2509.06289 2025年9月
Selection of Test Patterns and Primary Outputs for Volume Diagnosis

Yoshinobu Higami, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja

2025 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC) 1-6 2025年7月7日
SASL-JTAG+: An Enhanced Lightweight and Secure JTAG Authentication Mechanism for IoT Systems with Diverse Devices

Hisashi Okamoto, Shaoqi Wei, Senling Wang, Hiroshi Kai, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Akihiro Shimizu, Tianming Ni, Xiaoqing Wen

Journal of Communications Just Accepted 2025年4月査読有り
Test Point Selection for Multi-Cycle Logic BIST using Multivariate Temporal-Spatial GCNs

Senling Wang, Shaoqi Wei, Hisashi Okamoto, Tatusya Nishikawa, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroyuki Yotsuyanagi, Ruijun Ma, Tianming Ni, Hiroshi Takahashi …

2024 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia) 1-6 2024年8月18日
Deep-BMNN: Implementing Sparse Binary Neural Networks in Memory-Based Reconfigurable Processor (MRP)

Kenta Sasagawa, Senling Wang, Tetsuya Nishikawa, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Yotsuyanagi, Tianming Ni, Xiaoqing Wen

2024 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC) 1-6 2024年7月2日
3 次元 LSI における貫通シリコンビア(TSV)に対する故障検査法

王森レイ, 高橋寛

日本信頼性学会誌 46(3) 108-115 2024年5月査読有り招待有り
Diagnosis of Double Faults Consisting of a Stuck-at Fault and a Transition Fault

Yoshinobu Higami, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja

2024 INTERNATIONAL TECHNICAL CONFERENCE ON CIRCUITS/SYSTEMS, COMPUTERS, AND COMMUNICATIONS, ITC-CSCC 2024 2024年
Testing and Delay-Monitoring for the High Reliability of Memory-based Programmable Logic Device

Xihong ZHOU, Senling WANG, Yoshinobu HIGAMI, Hiroshi TAKAHASHI

IEICE TRANSACTIONS on Information and Systems E106-D(10) 60-71 2023年10月査読有り責任著者
SASL-JTAG: A Light-Weight Dependable JTAG.

Senling Wang, Shaoqi Wei, Jun Ma, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Akihiro Shimizu, Xiaoqing Wen, Tianming Ni

DFT 1-3 2023年査読有り最終著者
グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法

WEI Shaoqi, 塩谷晃平, WANG Senling, 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛

電子情報通信学会技術研究報告(Web) 122(393(DC2022 82-92)) 27-32 2023年責任著者
ワンタイムパスワードによるJTAGアクセス認証アーキテクチャのFPGA実装と機能検証

馬竣, 岡本悠, 魏少奇, 王森レイ, 甲斐博, 高橋寛, 清水明宏

エレクトロニクス実装学会講演大会講演論文集(CD-ROM) 37th 13A1-2 2023年
Test Point Selection Using Deep Graph Convolutional Networks and Advantage Actor Critic (A2C) Reinforcement Learning

Shaoqi Wei, Kohei Shiotani, Senling Wang, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Gang Wang

2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications, ITC-CSCC 2023 2023年査読有り責任著者
Improving of Fault Diagnosis Ability by Test Point Insertion and Output Compaction

Yoshinobu Higami, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja

2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications, ITC-CSCC 2023 2023年査読有り
QR-Code with Superimposed Text.

Naoya Tahara, Senling Wang, Hiroshi Kai, Hiroshi Takahashi, Masakatu Morii

APNOMS 259-262 2023年査読有り
軽量なワンタイムパスワード認証方式を用いたJTAGアクセス機構のFPGA実装と面積評価

岡本悠, 馬竣, 王森レイ, 甲斐博, 高橋寛, 清水明宏

電子情報通信学会技術報告 DC2022(64) 168-173 2022年11月責任著者
Preliminary Study on Noise-Resilient Artificial Neural Networks for On-Chip Test Generation

Tsutomu Inamoto, Tomoki Nishino, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi

2022年10月査読有り
Test Point Insertion for Multi-Cycle Power-On Self-Test

Senling Wang, Xihong Zhou, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Yoichi Maeda, Jun Matsushima

ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems 28(3) 46-21 2022年9月13日査読有り最終著者責任著者
Machine Learning Based Fault Diagnosis for Stuck-at Faults and Bridging Faults

Yoshinobu Higami, Takaya Yamauchi, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja

2022 37th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) 2022年7月5日査読有り

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MISC

225

エッジデバイスにおけるSAS認証回路の設計と実装

岡本悠, WANG S., 甲斐博, 高橋寛, 清水明宏

電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022 2022年
グラフ構造強化学習を用いたテスト検査点選定法

塩谷晃平, WEI S.Q., WANG S., 甲斐博, 高橋寛

電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022 2022年
マルチサイクルテストによるテストパターン削減

中野潤平, WANG S., 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛

電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022 2022年
RS符号の消失訂正を用いたAesthetic QRコードの生成法

田原直哉, 甲斐博, WANG S., 高橋寛, 森井昌克

電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022 2022年
SAS-Lを用いたJTAG認証システムのアクセスポートロック機能回路の設計と実装

MA J., 岡本悠, WANG S., 甲斐博, 亀山修一, 高橋寛, 清水明宏

電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022 2022年
ローエンドエッジデバイスにおけるSAS認証方式の処理時間の評価

荻田高史郎, 清水健吾, 中西佳菜子, 甲斐博, WANG S., 高橋寛, 清水明宏

電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022 2022年
マルチサイクルの機能動作による故障診断能力の向上について

神崎壽伯, WANG S., 甲斐博, 高橋寛

電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022 2022年
JTAG認証機構の軽量化設計について

馬竣, 岡本悠, 王森レイ, 甲斐博, 亀山修一, 高橋寛, 清水明宏

エレクトロニクス実装学会講演大会講演論文集(CD-ROM) 36th 25A3-3 2022年
機械学習を用いたマルウェアの機能推定に関する研究

中島拓哉, 児玉光平, WANG S., 甲斐博, 高橋寛, 森井昌克

電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021 2021年
機械学習を用いた複数故障モデルの故障診断

山内崇矢, 稲元勉, WANG S., 樋上喜信, 高橋寛

電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021 2021年
Aesthetic QRコードを生成するソフトウェアの実装に関する研究

福田諒也, WANG S., 甲斐博, 高橋寛, 森井昌克

電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021 2021年
マルチサイクルの機能動作による故障診断用パターン生成

神崎壽伯, WANG S., 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛

電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021 2021年
マルチサイクルテストの導入による組込自己診断の故障診断能力評価

WANG Y., Wang S., 樋上喜信, 甲斐博, 高橋寛

電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021 2021年
グラフ畳み込みニューラルネットワークを用いたテストポイント選定について

WEI S.Q., WANG S.L., 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛

電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021 2021年
WebGLによるネットワークトラフィック可視化方法の検討

松浦拓海, WANG S., 甲斐博, 高橋寛, 森井昌克

電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021 2021年
機械学習による踏切遮断かん折損検知に関する考察

志田洋, 志田洋, 白石倫之, 高橋寛

電子情報通信学会技術研究報告(Web) 121(293(DC2021 55-63)) 2021年
マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法

中岡典弘, WANG Senling, 樋上喜信, 高橋寛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋潤

電子情報通信学会技術研究報告(Web) 120(358(DC2020 69-79)) 36-41 2021年責任著者
ハイブリッドテストポイント挿入法のマルチサイクルテストへの適用とその性能評価

中岡典弘, 青野智己, 王森レイ, 高橋寛, 松嶋潤, 岩田浩幸, 前田洋一

2020年電子情報通信学会総合大会 2020年3月最終著者責任著者
メモリベース論理再構成デバイス(MRLD)における劣化状態検知のためのリングオシレータ実装

周細紅, 王森レイ, 樋上喜信, 高橋寛

第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会講演集 34 4C1-02 2020年3月責任著者
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法

青野智己, 中岡典弘, 周細紅, 王森レイ, 樋上喜信, 高橋寛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋潤

電子情報通信学会技術研究報告 119(420) 19-24 2020年2月最終著者責任著者

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書籍等出版物

4

Three-Dimensional Integration of Semiconductors: Processing, Materials, and Applications

Kazuo Kondo, Morihiro Kada, Kenji Takahashi

Springer 2015年12月
はかる×わかる半導体半導体テスト技術者検定3級問題集

浅田邦博, 一般社団法人パワーデバイス, イネーブリング協会

日経BPコンサルティング 2014年12月11日 (ISBN: 4864430713)
LSIテスティングハンドブック

LSIテスティング学会

オーム社 2008年11月 (ISBN: 4274206327)
新版論理設計入門 (情報処理基礎シリーズ)

相原恒博, 高松雄三, 林田行雄, 高橋寛 (担当:共著)

日新出版 2002年10月30日 (ISBN: 4817302070)

講演・口頭発表等

255

愛媛大学大学院理工学研究科計算機・ソフトウェアシステム研究室

王森岭, 甲斐博, 高橋寛

エレクトロニクス実装学会誌 2024年1月1日一般社団法人エレクトロニクス実装学会
深層強化学習によるマルチサイクルBIST向けテストポイント選定法

塩谷晃平, 西川竜矢, WEI Shaoqi, WANG Senling, 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛

電子情報通信学会技術研究報告(Web) 2024年
グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法

WEI Shaoqi, 塩谷晃平, WANG Senling, 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛

電子情報通信学会技術研究報告(Web) 2023年
NS形電気転てつ機のフィールドデータ分析と状態基準保全に関する研究

志田洋, 白石倫之, 高橋寛

電気学会全国大会講演論文集(CD-ROM) 2023年
ワンタイムパスワードによるJTAGアクセス認証アーキテクチャのFPGA実装と機能検証

馬竣, 岡本悠, 魏少奇, 王森レイ, 甲斐博, 高橋寛, 清水明宏

エレクトロニクス実装学会講演大会講演論文集(CD-ROM) 2023年
正課としての課題解決型教育(分野融合型)実施における評価方法の改善と指導方法の明確化—Improvement of Evaluation Method of Problem-based Learning Type Education (Interdisciplinary Fusion Type) as a Regular Curriculum and Clarification of Educational Method

勝田順一, 中原真也, 高橋寛

大学教育実践ジャーナル = Journal of faculty and staff development in higher education 2022年愛媛大学大学教育総合センター
地方大学におけるSociety5.0に向けた新しい技術者リカレント教育の挑戦

高橋寛

産学官連携ジャーナル(Web) 2022年
シングルボードコンピュータ上でのSAS認証方式の計算時間の評価

荻田高史郎, 甲斐博, WANG Seiling, 高橋寛, 清水明宏

電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM) 2022年
エッジデバイスにおけるSAS認証回路の設計と実装

岡本悠, WANG S., 甲斐博, 高橋寛, 清水明宏

電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022年
グラフ構造強化学習を用いたテスト検査点選定法

塩谷晃平, WEI S.Q., WANG S., 甲斐博, 高橋寛

電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022年
マルチサイクルテストによるテストパターン削減

中野潤平, WANG S., 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛

電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022年
RS符号の消失訂正を用いたAesthetic QRコードの生成法

田原直哉, 甲斐博, WANG S., 高橋寛, 森井昌克

電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022年
SAS-Lを用いたJTAG認証システムのアクセスポートロック機能回路の設計と実装

MA J., 岡本悠, WANG S., 甲斐博, 亀山修一, 高橋寛, 清水明宏

電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022年
ローエンドエッジデバイスにおけるSAS認証方式の処理時間の評価

荻田高史郎, 清水健吾, 中西佳菜子, 甲斐博, WANG S., 高橋寛, 清水明宏

電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022年
マルチサイクルの機能動作による故障診断能力の向上について

神崎壽伯, WANG S., 甲斐博, 高橋寛

電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2022年
JTAG認証機構の軽量化設計について

馬竣, 岡本悠, 王森レイ, 甲斐博, 亀山修一, 高橋寛, 清水明宏

エレクトロニクス実装学会講演大会講演論文集(CD-ROM) 2022年
機械学習を用いたマルウェアの機能推定に関する研究

中島拓哉, 児玉光平, WANG S., 甲斐博, 高橋寛, 森井昌克

電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021年
機械学習を用いた複数故障モデルの故障診断

山内崇矢, 稲元勉, WANG S., 樋上喜信, 高橋寛

電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021年
Aesthetic QRコードを生成するソフトウェアの実装に関する研究

福田諒也, WANG S., 甲斐博, 高橋寛, 森井昌克

電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021年
マルチサイクルの機能動作による故障診断用パターン生成

神崎壽伯, WANG S., 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛

電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2021年

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所属学協会

10

Works(作品等)

4

共同研究・競争的資金等の研究課題

24

先端パッケージング集積回路に対するフィールド信頼性強化設計

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 2026年4月 - 2029年3月

高橋寛
チップレットシステムにおける経年劣化に対する信頼性と安全性強化技術について

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 2025年4月 - 2028年3月

王森レイ, 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛, 四柳浩之
構造型情報処理アーキテクチャに対するフィールドテスト法

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 2023年4月 - 2026年3月

高橋寛, 樋上喜信, 王森レイ
メモリ型再構成エッジデバイスにおける高信頼性知的処理機能の設計法に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 基盤研究(C) 2022年4月 - 2025年3月

王森レイ, 樋上喜信, 高橋寛
アダプティブ故障診断における故障診断時間の短縮に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 基盤研究(C) 2019年4月 - 2022年3月

樋上喜信, 稲元勉, 高橋寛, 王森レイ
つながるデバイスのフィールドテストのための信頼性強化設計法の開発

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 基盤研究(C) 2019年4月 - 2022年3月

高橋寛, 樋上喜信, 王森レイ
高精度遅延故障シミュレータを用いた遅延故障に対するテストと診断に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 基盤研究(C) 2016年4月 - 2020年3月

樋上喜信, 高橋寛, 王森レイ
機能安全技術のための組込み自己診断法の開発

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 基盤研究(C) 2016年4月 - 2019年3月

高橋寛, 大竹哲史, 樋上喜信, 王森レイ
機能安全技術のための組込み自己診断法の開発研究課題

学振基盤研究Ｃ 2016年4月 - 2019年3月

高橋寛
プリシリコンテストとポストシリコンテストを併用したタイミング不良診断法の開発

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 基盤研究(C) 2013年4月 - 2017年3月

高橋寛, 樋上喜信, 四柳浩之
プリシリコンテストとポストシリコンテストを併用したタイミング不良診断法の開発

学振基盤研究Ｃ 2013年4月 - 2017年3月

高橋寛
３次元LSIにおけるビア接続不良に対するテストと診断に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 基盤研究(C) 2013年4月 - 2016年3月

樋上喜信, 高橋寛
３次元LSIにおけるビア接続不良に対するテストと診断に関する研究

学振基盤研究Ｃ 2013年4月 - 2016年3月

樋上喜信
超高信頼性チップ製造のためのシグナルインティグリティ不良のモデル化およびその故障検査法

半導体理工学研究センター 2009年4月 - 2012年3月

高橋寛
システム LSI におけるクロック信号線上の故障に対する検査法β診断法の開発

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 基盤研究(C) 2010年 - 2012年

樋上喜信, 高橋寛
故障励起関数に基づく欠陥検出向きテスト生成法に関する研究

学振基盤研究Ｃ 2008年4月 - 2011年3月

高橋寛
故障励起関数に基づく欠陥検出向きテスト生成法に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 基盤研究(C) 2008年 - 2010年

高橋寛
高速VLSIのクロストーク故障に対する高信頼テスト手法に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 基盤研究(C) 2007年 - 2009年

樋上喜信, 高橋寛
故障励起関数に基づく高性能LSIに対する高効率故障検査ツールの開発

科学技術振興機構産学が連携した研究開発成果の展開/研究成果展開事業/地域事業/地域イノベーション創出総合支援事業/シーズ発掘試験 2008年 - 2008年

高橋寛
組み込みシステムに対するソフト/ハード協調テスト法の開発

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 基盤研究(C) 2006年 - 2008年

高松雄三, 高橋寛, 樋上喜信, 阿萬裕久

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産業財産権

4

特許第5103501号故障推定装置及び方法

高松雄三, 高橋寛, 樋上喜信, 中尾教伸, 相京隆, 江守道明, 大前英雄
特開2010-204107 故障推定装置及び方法

高松雄三, 高橋寛, 樋上喜信, 中尾教伸, 相京隆, 江守道明, 大前英雄
特開2009-047645 故障検査装置及び方法

高松雄三, 高橋寛, 樋上喜信, 中尾教伸, 相京隆, 江守道明, 大前英雄
特開2000-215077 アドレス線のテスト方法

大野文男, 亀山修一, 高橋寛