この研究では、高感度PPTS法（光熱変換分光法）を用いて光励起キャリアの非発光緩和過程を実験的に調べ、結晶成長方向（膜厚方向）に組成、即ちエネルギーギャップが変化する薄膜半導体光デバイス材料の光吸収スペクトルを厚さ方向の関数として測定解析する新しい実験手法を開発する。