MISC

1991年

Crystalline latlice for metrological applications and positioning control by a dual tunneling-unit scanning tunneling microscope

Journal of Vacuum Science and Technology

9
2 Pt 2
開始ページ
651
終了ページ
654
DOI
10.1116/1.585479

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DOI
https://doi.org/10.1116/1.585479
CiNii Articles
http://ci.nii.ac.jp/naid/30020317203
ID情報
  • DOI : 10.1116/1.585479
  • ISSN : 0734-211X
  • CiNii Articles ID : 30020317203

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