数MeVの高速軽イオン(H+, He+)が固体表面上で高効率に反射・散乱する現象やkeV程度の低速多価イオン(Neq+, Arq+)(q ≥ 2)が絶縁体表面でガイドされる現象が応用面で注目されている。我々は一対の凹凸ガラス円筒面の隙間（円筒面チャネル）に4 MeVのC4+イオンを入射した際の透過率や透過粒子の運動エネルギーを調べてきた。その結果，イオンビームが幾何学的な開口率を上回る透過率で出射し，かつ，入射時とほぼ等しい運動エネルギーを保つことが分かってきた。しかしながら，これまでの方法では集束効果の有無までは検証できなかった。そこで，本研究では集束効果の検証を目的とし，CR39の照射痕（エッチピット）から透過イオンビームのフルエンス測定を行った。
その結果，透過イオンの面密度は入射時の面密度より大きいこと，凸面側より凹面側の方が大きいことが分かった。