2019年4月
Study on application of a monolithic SOI pixel detector to residual stress measurement using X-rays
Nuclear Inst. and Methods in Physics Research
- 巻
- 924
- 号
- 924
- 開始ページ
- 452
- 終了ページ
- 456
- 記述言語
- 掲載種別
- 研究論文（学術雑誌）
- DOI
- 10.1016/j.nima.2018.07.084
- ID情報
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- DOI : 10.1016/j.nima.2018.07.084
- ISSN : 0168-9002