弘津禎彦 (Yoshihiko Hirotsu) - マイポータル - researchmap

基本情報

所属: 旧所属大阪大学産業科学研究所（ISIR）教授

学位: 工学博士(東京工業大学)

J-GLOBAL ID: 200901087173093434
researchmap会員ID: 1000185969

研究キーワード

2

研究分野

4

経歴

10

1991年 - 1994年

長岡技術科学大学工学部教授
1991年 - 1994年

Professor, Nagaoka University of Technology
1994年

- 大阪大学産業科学研究所教授
1994年

- Professor, Institute of Scientific and Industrial
1980年 - 1991年

長岡技術科学大学工学部助教授
1980年 - 1991年

Associate Professor, Nagaoka University of
1969年 - 1980年

東京工業大学工学部助手
1969年 - 1980年

Research Assistant, Tokyo Institute of
Research, Osaka University
Technology

学歴

4

委員歴

2

1992年 - 1994年

日本電子顕微鏡学会, 評議員,理事,学会誌編集委員長
1992年 - 1994年

日本金属学会, 理事

受賞

3

MISC

83

Determination of order parameter of L1(0)-FePd nanoparticles by electron diffraction

K Sato, Y Hirotsu, H Mori, ZG Wang, T Hirayama

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 97(8) 2005年4月
Electron field emission from GaN nanorod films grown on Si substrates with native silicon oxides

T. Yamashita, S. Hasegawa, S. Nishida, M. Ishimaru, Y. Hirotsu, H. Asahi

Applied Physics Letters 86(8) 1-3 2005年2月21日
Electron field emission from GaN nanorod films grown on Si substrates with native silicon oxides

T Yamashita, S Hasegawa, S Nishida, M Ishimaru, Y Hirotsu, H Asahi

APPLIED PHYSICS LETTERS 86(8) 2005年2月
Nanostructures of binary and ternary Fe-B based glasses studied by HREM and electron diffraction

Archives of Materials Science Vol.26 No.1-2 pp.25-29 2005年
Nanostructures of binary and ternary Fe-B based glasses studied by HREM and electron diffraction

Archives of Materials Science Vol.26 No.1-2 pp.25-29 2005年
アモルファス合金の電子線構造解析

大久保忠勝, 弘津禎彦

まてりあ 44巻1号(1) 24-31 2005年
Growth and atomic ordering of hard magnetic L1o-FePt, FePd and CoPt alloy nanoparticles studied by transmission electron microscopy:alloy system and particle size dependence

Journal of Ceramic Processing Research 2005年
Order parameter analysis of L1o-FePd particles by nano-beam electron diffraction

Archives of Materials Science 2005年
Two-dimensionally dispersed Fe/FePd nanocomposite particles synthesized by electron beam deposition

Mater. Sci. Forum 2005年
Structural relaxation of amorphous silicon-germanium alloys: Molecular-dynamics study

M Ishimaru, M Yamaguchi, Y Hirotsu

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS 43(12) 7966-7970 2004年12月
Glass-forming ability and crystallization behavior of Nd60Al10Ni10Cu20-xFex (x=0, 2, 4) bulk metallic glass with distinct glass transition

Z Zhang, WH Wang, Y Hirotsu

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A-STRUCTURAL MATERIALS PROPERTIES MICROSTRUCTURE AND PROCESSING 385(1-2) 38-43 2004年11月
Local structural change of amorphous Ge-Sb-Te thin film on annealing

M Naito, M Ishimaru, Y Hirotsu, M Takashima

JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS 345 112-115 2004年10月
Nanoscale phase separation in metallic glasses studied by advanced electron microscopy techniques

Y Hirotsu, T Hanada, T Ohkubo, A Makino, Y Yoshizawa, TG Nieh

INTERMETALLICS 12(10-11) 1081-1088 2004年10月
Fabrication of exchange-coupled alpha-Fe/L1(0)-FePd nanocomposite isolated particles

J Kawamura, K Sato, Y Hirotsu

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 96(7) 3906-3911 2004年10月
Nanoscale phase separation in metallic glasses studied by advanced electron microscopy techniques

Y Hirotsu, T Hanada, T Ohkubo, A Makino, Y Yoshizawa, TG Nieh

INTERMETALLICS 12(10-11) 1081-1088 2004年10月
Solid phase epitaxy of amorphous silicon carbide: Ion fluence dependence

IT Bae, M Ishimaru, Y Hirotsu, KE Sickafus

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 96(3) 1451-1457 2004年8月
Solid phase epitaxy of amorphous silicon carbide: Ion fluence dependence

IT Bae, M Ishimaru, Y Hirotsu, KE Sickafus

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 96(3) 1451-1457 2004年8月
The investigation of multiply twinned Ll(0)-type FePt nanoparticles by transmission electron microscopy

A Kovacs, K Sato, G Safran, PB Barna, A Hirotsu

PHILOSOPHICAL MAGAZINE 84(20) 2075-2081 2004年7月
Local structure analysis of Ge-Sb-Te phase change materials using high-resolution electron microscopy and nanobeam diffraction

M Naito, M Ishimaru, Y Hirotsu, M Takashima

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 95(12) 8130-8135 2004年6月
Local structure analysis of Ge-Sb-Te phase change materials using high-resolution electron microscopy and nanobeam diffraction

M Naito, M Ishimaru, Y Hirotsu, M Takashima

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 95(12) 8130-8135 2004年6月

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所属学協会

3

Works(作品等)

6

共同研究・競争的資金等の研究課題

6