寺田 和夫
テラダ カズオ (Terada Kazuo)
更新日: 2024/12/18
基本情報
研究キーワード
4委員歴
4-
2008年5月 - 2013年5月
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2003年5月 - 2012年5月
MISC
69-
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 51(9) 2012年9月
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SOLID-STATE ELECTRONICS 69 62-66 2012年3月
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2012 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONIC TEST STRUCTURES (ICMTS) 73-76 2012年
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Threshold Voltage Variation Extracted from MOSFET C-V Curves by Charge-Based Capacitance Measurement2012 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONIC TEST STRUCTURES (ICMTS) 82-86 2012年
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Proc. Int. Conf. on Microelectronics Test Structure 8-12 2011年
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Proc. Int. Conf. on Microelectronics Test Structure 114-117 2011年
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Proc. 2011 Silicon Nanoelectronics Workshop 2-1 2011年
-
Proc. 2011 Silicon Nanoelectronics Workshop 2-2 2011年
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Proc. IEEE Workshop on Variability Modeling and Characterization at ICCAD P1 2011年
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Proc. Int. Conf. on Microelectronics Test Structure 8-12 2011年
-
Proc. Int. Conf. on Microelectronics Test Structure 114-117 2011年
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Proc. 2011 Silicon Nanoelectronics Workshop 2-1 2011年
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Proc. 2011 Silicon Nanoelectronics Workshop 2-2 2011年
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Proc. IEEE Workshop on Variability Modeling and Characterization at ICCAD P1 2011年
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Proc. Silicon Nanoelectronics Workshop 7-8 2010年
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Proc. Silicon Nanoelectronics Workshop 81-82 2010年
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Dig. Tech Papers, 2010 Symp. on VLSI Technology 97-98 2010年
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Ext. Abs. Conf. SSDM C-4-2 2010年
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Proc. IEEE Workshop on Variability Modeling and Characterization at ICCAD P4 2010年
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2010 INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONIC TEST STRUCTURES, 23RD IEEE ICMTS CONFERENCE PROCEEDINGS 76-79 2010年
書籍等出版物
4-
丸善株式会社 2002年
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大学教育出版 1997年
-
大学教育出版 1997年
共同研究・競争的資金等の研究課題
13-
2010年 - 2011年
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2009年 - 2010年
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2004年 - 2010年
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2008年 - 2009年
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2007年 - 2008年
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2006年 - 2007年
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2005年 - 2006年
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2004年 - 2006年
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1995年 - 2004年
-
1995年 - 2004年
-
1995年