堀口順弘 (Nobuhiro Horiguchi) - マイポータル

基本情報

学位: 博士（工学）(東北大学)

J-GLOBAL ID: 200901037866141362
researchmap会員ID: 5000016719

研究分野

ナノテク・材料 / 薄膜、表面界面物性 /

学歴

論文

Optimized measurement probe of the localized surface plasmon microscope by using radially polarized illumination

Kouyou Watanabe, Nobuhiro Horiguchi, Hiroshi Kano

APPLIED OPTICS 46(22) 4985-4990 2007年8月査読有り
Optimized measurement probe of the localized surface plasmon microscope by using radially polarized illumination

Kouyou Watanabe, Nobuhiro Horiguchi, Hiroshi Kano

Appl. Opt. 46(24) 4985-4990 2007年8月査読有り
Gold clusters deposited on highly oriented pyrolytic graphite by pulse laser ablation and liquid metal ion source

CW Hu, A Kasuya, A Wawro, N Horiguchi, R Czajka, Y Nishina, Y Saito, H Fujita

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A-STRUCTURAL MATERIALS PROPERTIES MICROSTRUCTURE AND PROCESSING 217 103-107 1996年10月査読有り
STRUCTURE AND STABILITY OF MICROCLUSTER LATTICE SYSTEMS

A KASUYA, R CZAJKA, N HORIGUCHI, B ABMAYR, Y NISHINA

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY 19(1-2) 44-47 1993年4月査読有り

MISC

Si(111)表面におけるSTM時分割光応答像とトンネル電流の時間変化

第７１回応用物理学会学術講演会予稿集 2010年
Local Barrier Height imaging by Simultaneous Modulation of Tip-sample Distance and Sample Bias Voltage

13th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques P.416 2005年
探針_試料間距離とバイス電圧を変調したSTM測定

2005年
Local Barrier Height imaging by Simultaneous Modulation of Tip-sample Distance and Sample Bias Voltage

13th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques P.416 2005年
低温STMによるSi(111)7×7初期酸化表面の局所状態密度像

2004年
Low temperature measurement of local density of states images of oxygen adsorbed sites on Si(111) 7x7 surfaces

12th International colloquium on Scanning Probe Microscopy 2004年
初期酸化Si(111)-7_7表面の電子構造

2004年
Low temperature measurement of local density of states images of oxygen adsorbed sites on Si(111) 7x7 surfaces

12th International colloquium on Scanning Probe Microscopy 2004年
Si(111)表面真空トンネル電流の光応答機構

2003年
Sample bias voltage dependence of local density of states image of a defect induced by oxidation of Si(111) surface

11th International colloquium on Scanning Probe Microscopy 2003年
Sample bias voltage dependence of local density of states image of a defect induced by oxidation of Si(111) surface

11th International colloquium on Scanning Probe Microscopy 2003年
Si（111）7_{7表面の・/SUB>化反応による電子状態変化}

2002年
局所トンネル障壁のバイアス電圧依存性

2002年
STM observation of surface state carrier modulated by the photo-exitation

10th International colloquium on Scanning Probe Microscopy 2002年
STM observation of surface state carrier modulated by the photo-exitation

10th International colloquium on Scanning Probe Microscopy 2002年
Si（111）表面酸化生成ディフェクトの局所状態密度像

2001年
local density of states image measurement of oxidation induced defects on Si Surface

9th International colloquium on Scanning Probe Microscopy 2001年
Local electronic structure of individual defect sites measured by local density of states image by using STM

The 8th International Conference on the Formation of Semiconductor Interfaces 2001年
local density of states image measurement of oxidation induced defects on Si Surface

9th International colloquium on Scanning Probe Microscopy 2001年
Local electronic structure of individual defect sites measured by local density of states image by using STM

The 8th International Conference on the Formation of Semiconductor Interfaces 2001年

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講演・口頭発表等

Photo-response image measurement on Si(111) surfaces by using STM

堀口順弘

ICSPM27 2019年12月5日
Photo-response Imaging of Defect Sites on Si(111) 7x7 Surfaces by Using STM

堀口順弘

ACSIN-14 & ICSPM26 2018年10月21日
Photo-response imaging on Si(111) 7x7 surfaces by using STM

堀口順弘

ICSPM23 2015年12月10日

所属学協会

共同研究・競争的資金等の研究課題

負の電子親和力状態表面の微視的構造の研究

日本学術振興会科学研究費助成事業一般研究(C) 1995年 - 1995年

宮尾正大, 堀口順弘

堀口順弘

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