甲藤久郎 (Hisao Katto) - マイポータル

基本情報

所属: 諏訪東京理科大学システム工学部電子システム工学科諏訪東京理科大学システム工学部電子システム工学科教授

学位: 工学博士(東京大学)

J-GLOBAL ID: 200901080359803747
researchmap会員ID: 5000019149

研究キーワード

研究分野

ものづくり技術（機械・電気電子・化学工学） / 電子デバイス、電子機器 /

経歴

2002年 - 2007年

諏訪東京理科大学教授
1996年 - 2002年

東京理科大学諏訪短期大学教授
1996年 - 2002年

Professor, Science Univ. of Tokyo, Suwa
1996年 - 2002年

Professor, Science Univ. of Tokyo, Suwa College
1989年 - 2002年

Senior Researcher, Device Development Center, Hitachi Ltd.
1989年 - 1996年

日立製作所デバイス開発センター研究員
1978年 - 1989年

日立製作所武蔵工場主任研究員
1978年 - 1989年

Senior Researcher, Musashi Works, Hitachi Ltd.
1967年 - 1978年

日立製作所中央研究所研究員
1967年 - 1978年

Researcher, Central Res. Lab., Hitachi, Ltd.

学歴

MISC

MOSFET I-V characteristics at small and large drain biases in the linear region

Hisao Katto

SOLID-STATE ELECTRONICS 51(6) 905-912 2007年6月
A compact and accurate MOSFET model with simple expressions for linear, saturation and sub-threshold regions

H Katto

SOLID-STATE ELECTRONICS 50(3) 301-308 2006年3月
H. Katto, M. Miyauchi and Y. Higuchi, ''Effect of Reverse Measurement on the HC Instability Evaluation of MOSFETs''

H. Katto, M. Miyauchi, Y. Higuchi

2003 Int'l Integrated Reliability Workshop, Final Report 124-127 2003年
Analytical model for extrinsic time-dependent dielectric breakdown of thin gate oxide

H Katto

SOLID-STATE ELECTRONICS 46(9) 1265-1272 2002年9月
Positive/negative BT instability in scaled N/P-MOSFETs and MOSCs

H Katto

2001 IEEE INTERNATIONAL INTEGRATED RELIABILITY WORKSHOP FINAL REPORT 54-59 2001年
Physical parameters of the quantum mechanical interference method for the determination of oxide thickness in MOS devices

H Katto

SOLID-STATE ELECTRONICS 45(1) 101-105 2001年1月
Device parameters extracted in the linear region of MOSFET by comparing with the exact gradual channel model

H Katto

SOLID-STATE ELECTRONICS 44(6) 969-976 2000年6月
LSF technique to analyze intrinsic TDDB failures of gate oxides

H Katto

2000 IEEE INTERNATIONAL INTEGRATED RELIABILITY WORKSHOP FINAL REPORT 129-132 2000年
Breakdown voltage distribution and extrinsic TDDB failures of MOS gate oxides

H. Katto

Int'l Integrated Reliability Workshop, Final Report 85-91 1999年
Device parameter extraction in the linear region of MOSFET's

H Katto

IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS 18(9) 408-410 1997年9月
Acceleration factors of PMOS hot carrier degradation

H Katto

1997 IEEE INTERNATIONAL INTEGRATED RELIABILITY WORKSHOP FINAL REPORT 16-21 1997年
Temperature-constant BT tests of parasitic MOSFETs

H Katto

1996 INTERNATIONAL INTEGRATED RELIABILITY WORKSHOP FINAL REPORT 87-93 1996年
A New Approach for Predicting AC Hot-Carrier Lifetime

H. Katto

1995 Int'l Integrated Reliability Workshop, Final Report 130-135 1995年
Improved Electromigration Test Techniques of Layered Metal Structures at Wafer Level

H. Katto

1994 Int'l Integrated Reliability Workshop(Poster),Final Report 149 1994年
E. Takeda, K. Ikuzaki, H. Katto, Y. Ohji, K. Hinode, A. Hamada, T. Sakuta, T. Funabiki, & T. Sasaki, "VLSI Reliability Challenges: From Device Physics to Wafer Scale Systems (Invited Paper),"

E. Takeda, K. Ikuzaki, H. Katto, Y. Ohji, K. Hinode, A. Hamada, T. Sakuta, T. Funabiki, T. Sasaki

Proc. IEEE 81(5) 653-674 1993年
Considerations on Oxide Reliability QC

H. Katto

1993 Int'l Intergrated Reliability Workshop, Final Report 52-58 1993年
Wafer Level Joule-Heated J-Constant EM Test of AlCuSi and AlCuSi/MoSi2 Wiring

M. Harada, H. Katto

1992 VMIC 404-406 1992年
WAFER-LEVEL JRAMP AND J-CONSTANT ELECTROMIGRATION TESTING OF CONVENTIONAL AND SWEAT PATTERNS ASSISTED BY A THERMAL AND ELECTRICAL SIMULATOR

H KATTO, M HARADA, Y HIGUCHI

29TH ANNUAL PROCEEDINGS : RELIABILITY PHYSICS 1991 298-305 1991年
Wafer-Level EM Test Methods Assisted by a Simulator

H. Katto

1991 Wafer Level Reliability Workshop, Final Report 101-110 1991年
Influence of N2 Inclusion in AlSi

H. Katto

1990 Wafer Level Reliability Workshop, Final Report 107-114 1990年

もっとみる

書籍等出版物

H. Katto, "Studies on MOS Surface States and MOS Field-Effect Transistors"

Thesis, University of Tokyo 1976年

甲藤久郎

基本情報

研究キーワード

研究分野

経歴

学歴

MISC

書籍等出版物

共同研究・競争的資金等の研究課題

メニュー