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吉田 一朗
ヨシダ イチロウ (Ichiro YOSHIDA)
更新日: 01/26
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産業財産権
産業財産権
13
表示件数
20件
20件
50件
100件
未審査請求によるみなし取下 樹脂成形品の内部の残留応力を評価する方法
野渡 透一,野渡 潤也,三宅 茂夫,渡辺 光朝,梶原 優介,木村 文信,吉田 一朗,高橋 理央
特許第7079396号 表面性状解析方法、表面性状比較評価方法、及び表面形状測定システム
吉田一朗
特願2021-160278 表面形状測定方法及び表面形状測定装置
吉田 一朗,中谷 暖
特願2020-217148 切削円周面測定装置および被切削物測定方法
吉田 一朗, 北風絢子, 野口賢次, 中谷尊一, 三宮一彦
特許第6791788号 形状測定装置
吉田一朗, 村上 洋, 浜野康雄, 本田 裕, 青陰雅昭
特開2020-169914 精密測定装置及び移動型精密計測ロボット
吉田一朗, 田中一秀
特願2020-173600 円周面測定装置および円周面測定方法
吉田 一朗, 北風絢子, 野口賢次, 中谷尊一, 三宮一彦
特許第6034009号 表面粗さ測定装置
奥山栄樹,吉田一朗
特許第5950545号 表面形状の特徴形状抽出演算方法、及び表面形状補正演算方法
吉田一朗
特許第5829884号 触針式測定装置
吉田一朗
特開2014-077692 触針式測定装置及び触針式測定装置による高さ測定方法
吉田一朗
特許第5399934号 複合表面粗さ標準片
吉田一朗,本田裕,宮本紘三,岡崎 祐一
特開2013-043787 ガラススクライブ方法及びガラススクライブ装置
吉田一朗
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