MISC

2014年4月17日

招待講演 10nm技術世代マルチゲートFinFETデバイス・回路技術 (集積回路)

電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
  • 昌原 明植
  • ,
  • 遠藤 和彦
  • ,
  • 大内 真一
  • ,
  • 松川 貴
  • ,
  • 柳 永〓
  • ,
  • 右田 真司
  • ,
  • 水林 亘
  • ,
  • 森田 行則
  • ,
  • 太田 裕之

114
13
開始ページ
77
終了ページ
82
記述言語
日本語
掲載種別
出版者・発行元
一般社団法人電子情報通信学会

20nm技術世代以降の集積回路における最大の課題は,トランジスタ微細化に伴う待機時消費電力の増大と,顕在化する特性ばらつきを如何に抑え込むか,である.FinFETを代表とする立体チャネルマルチゲートトランジスタは,それら双方の課題を解決し得る素子として注目を浴びている.本稿では,10nm以降の技術世代での集積回路実現に向け開発された新規なFinFETデバイス技術と回路技術について論じる.

リンク情報
CiNii Articles
http://ci.nii.ac.jp/naid/110009875081
CiNii Books
http://ci.nii.ac.jp/ncid/AN10013276
URL
http://id.ndl.go.jp/bib/025447934
ID情報
  • ISSN : 0913-5685
  • CiNii Articles ID : 110009875081
  • CiNii Books ID : AN10013276

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