石川剛 (Tsuyoshi Ishikawa) - マイポータル

基本情報

所属: 早稲田大学理工学術院客員講師（専任扱い）

学位: 博士（工学）(早稲田大学)

J-GLOBAL ID: 200901041055401787
researchmap会員ID: 5000098478

研究キーワード

研究分野

ナノテク・材料 / 薄膜、表面界面物性 /

経歴

学歴

- 2007年

早稲田大学, 理工学研究科, 物理学及応用物理学専攻
- 2007年

早稲田大学
- 2001年

早稲田大学, 理工学研究科, 物理学及応用物理学専攻
- 2001年

早稲田大学
- 1999年

早稲田大学, 理工学部, 応用物理学科
- 1999年

WASEDA University, Faculty of Science and Engineering

受賞

2000年

Student Award (International Conference on MAS 2000)
2000年

Student Award (International Conference on MAS 2000)

MISC

Direct confirmation of the high coherency of the electron beam from a nanotip

Tsuyoshi Ishikawa, Boklae Cho, Eiji Rokuta, Chuhei Oshima

APPLIED PHYSICS EXPRESS 1(7) 077001 2008年7月
A single-atom electron source in practical gun of an extreme high vacuum

Tomohiro Urata, Tsuyoshi Ishikawa, Boklae Cho, Eiji Rokuta, E. Rokuta, Chuhei Oshima, Ryozo Nonogaki, Hidekazu Saito, Akira Yonezawa

e-Journal of Surface Science and Nanotechnology 6 68-71 2008年2月21日
Fluctuations of field emission currents under extreme high vacuum

B. Cho, T. Ishikawa, C. Oshima

e-Journal of Surface Science and Nanotechnology 6 64-67 2008年2月19日
Fluctuations of electron beams emitted from single-atom electron sources prepared with different techniques

Tsuyoshi Ishikawa, Keisuke Tagawa, Tomohiro Urata, Chuhei Oshima, Boklae Cho, Eiji Rokuta

e-Journal of Surface Science and Nanotechnology 6 11-14 2008年1月18日
Coherent and intense multibeam generation by the apex of sharp nano-objects: Electron half-circular prism

B. Cho, T. Ishikawa, C. Oshima

APPLIED PHYSICS LETTERS 91(16) 163102-163102-3 2007年10月
Measurement of pressures in 10(-10) Pa range from the damping speed of field emission current

B. Cho, T. Itagaki, T. Ishikawa, C. Oshima

APPLIED PHYSICS LETTERS 91(1) 012105 2007年7月
Extreme high vacuum field emission microscope for study on the inherent fluctuation of field emission

B. Cho, T. Itagaki, T. Ishikawa, E. Rokuta, C. Oshima

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B 25(4) 1420-1423 2007年7月
Stabilities in field electron emissions from noble-metal covered W nano-tips: apex structure dependence

T. Itagaki, E. Rokuta, H. -S. Kuo, K. Nomura, T. Ishikawa, B. -L. Cho, L-S. Hwang, T. T. Tsong, C. Oshima

SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 39(4) 299-303 2007年4月
Highly efficient electron gun with a single-atom electron source

Tsuyoshi Ishikawa, Tomohiro Urata, Boklae Cho, Eiji Rokuta, Chuhei Oshima, Yoshinori Terui, Hidekazu Saito, Akira Yonezawa, Tien T. Tsong

APPLIED PHYSICS LETTERS 90(14) 143120 2007年4月
Angle-resolved ultraviolet photoelectron spectroscopy with a large solid angle analyzer

Daisuke Sakai, Daisuke Miura, Akira Maruyama, Tsuyoshi Ishikawa, Chuhei Oshima

Journal of Electron Spectroscoy and Related Phenomena 159 39 2007年
単原子電子源の電子放出特性

六田英治, 石川剛, 趙福夾, H, S. Kuo, I, S. Hwang, T. T. Tsong, 大島忠平

顕微鏡 42(1) 55-57 2007年
Angle-resolved ultraviolet photoelectron spectroscopy with a large solid angle analyzer

Daisuke Sakai, Daisuke Miura, Akira Maruyama, Tsuyoshi Ishikawa, Chuhei Oshima

Journal of Electron Spectroscoy and Related Phenomena 159 39 2007年
Single-atom coherent field electron emitters for practical application to electron microscopy: Buildup controllability, self-repairing function and demountable characteristic

E Rokuta, T Itagaki, T Ishikawa, BL Cho, HS Kuo, TT Tsong, C Oshima

APPLIED SURFACE SCIENCE 252(10) 3686-3691 2006年3月
Construction of an electron analyzer with a wide acceptance solid angle

D Sakai, D Miura, T Nakajima, T Ishikawa, C Oshima, H Iwai, Y Nihei

SURFACE SCIENCE 600(4) L33-L37 2006年2月
Demountable single-atom electron source

Chuhei Oshima, Eiji Rokuta, Takahiro Itagaki, Tsuyosi Ishikawa, Bokurai Cho, Hong-Shi Kuo, Ing-Shouh Hwang, Tien T. Tsong

e-Journal of Surface Science and Nanotechnology 3 412-416 2005年12月9日
Atomic-scale field emitter with self-repairable function and thermodynamically stable structure: FEM study on Pd-covered nanopyramids on W < 1 1 1 > tips

E Rokuta, T Itagaki, D Miura, T Moriyama, T Ishikawa, BL Cho, TY Fu, TT Tsong, C Oshima

APPLIED SURFACE SCIENCE 251(1-4) 205-209 2005年9月
SOC向け大容量 Cu/TaO/Cu MIMキャパシタ

石川剛, 久本大

電子材料 2003年
大立体角電子エネルギー分析器の試作

石川剛, 後藤正博, 中島健, 岩井秀夫, 二瓶好正, 大島忠平

真空 44(12) 1013-1017 2001年

講演・口頭発表等

単原子電子源搭載走査型低速電子顕微鏡

学振マイクロビームアナリシス第141委員会第132回研究会 2008年
コヒーレント低速電子線回折顕微鏡の開発

日本顕微鏡学会第63回学術講演会 2007年
低速電子回折顕微鏡の開発

第68回応用物理学会学術講演会 2007年
Application of a Single-Atom Electron Source to Scanning Electron Microscope

2007年
Application of a Single-Atom Electron Source to Scanning Electron Microscope

9th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures 2007年
単原子電子源を適用した電子銃の作成とその評価

第53回応用物理学関係連合講演会 2006年
実用単原子電子源

学振マイクロビームアナリシス第141委員会第124回研究会 2006年
Highly efficient practical electron gun with a single-atom electron source

2006年
Highly efficient practical electron gun with a single-atom electron source

The Fourth 21COE Symposium 2006年
単原子電子源の電界電子放出特性：3. 空間的コヒーレンス評価

第52回応用物理学関係連合講演会 2005年
Direct evaluation of interface state in a high-k gate stack by 1/f noise measurements

2003年
Direct evaluation of interface state in a high-k gate stack by 1/f noise measurements

2003 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM) 2003年
High-Capacitance Cu/Ta2O5/Cu MIM Structure for SoC Applications Featuring a Single-Mask Add-on Process

2002年
High-Capacitance Cu/Ta2O5/Cu MIM Structure for SoC Applications Featuring a Single-Mask Add-on Process

International Electron Device Meeting (IEDM) 2002 2002年
A new type of electron energy analysis system with a low-energy electron point source

2000年
新しい電子分光器

第19回吸着分子の分光学的研究セミナー 2000年
A new type of electron energy analysis system with a low-energy electron point source

The 2nd International Conference on MAS 2000 2000年

石川剛

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学歴

受賞

MISC

講演・口頭発表等

所属学協会

共同研究・競争的資金等の研究課題

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