産業財産権

特許権

多重放射線分析装置、多重放射線分析方法

大島 真澄
  • 大島 真澄
  • ,
  • 小泉 光生
  • ,
  • 藤 暢輔
  • ,
  • 村上 幸弘*

出願番号
2008-271475
出願日
2008年10月22日
公開番号
2010-101663
公開日
2010年5月6日