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平出 哲也
ヒラデ テツヤ (Tetsuya Hirade)
更新日: 04/01
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産業財産権
産業財産権
13
表示件数
20件
20件
50件
100件
2023-181670 水クラスター、水クラスターの製造方法、及び水クラスターの利用方法
平出 哲也, not registered
2023-035329 核医学診断装置、試料評価方法
平出 哲也, 大鷹 豊*, 島添 健次*, 澁谷 憲悟*
7239921 陽電子消滅特性測定装置
平出 哲也, 山脇 正人*
2020-144002 陽電子消滅特性測定装置
平出 哲也, 山脇 正人*
6964877 陽電子消滅寿命測定装置、放射線計測器の調整方法、放射線計測器
平出 哲也, 安藤 太一, 真鍋 賢介, 上田 大介, not registered
特願2017-239693 陽電子消滅寿命測定装置,放射線計測器の調整方法,放射線計測器
平出哲也, 安藤太一, 真鍋賢介, 上田大介
特許第6029054号 放射性セシウム簡易測定方法及び可搬式放射性セシウム簡易測定
平出 哲也
6029054 放射性セシウム簡易測定方法及び可搬式放射性セシウム簡易測定装置
平出 哲也, not registered
特許5030056 非破壊検査方法及び装置
豊川弘之, 鈴木良一, 大平俊行, 黒田隆之助, 大島永康, 平出哲也, 鬼塚貴志
特願2009-058956 陽電子消滅によるフリーラジカル超微細結合定数測定法
平出 哲也
特願2003-348998 スピン偏極電子を用いた陽電子スピン偏極率の測定法
平出哲也, 熊田高之
第4189836 号 光子誘起による陽電子消滅γ線分光及び短寿命原子核準位の測定法
平出哲也, 豊川弘之, 鈴木良一, 大平俊行, 大垣英明
特願2019-40674 陽電子消滅寿命等測定において試料測定時に装置関数を並行して評価する方法
平出哲也, 山脇正人
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