内藤賀公 (Yoshitaka Naitoh) - マイポータル

基本情報

所属: 大阪大学工学研究科物理学系専攻助教

学位: 博士(理学)(2000年3月東京工業大学)

J-GLOBAL ID: 200901099157108977
researchmap会員ID: 5000052950

研究キーワード

表面・界面

研究分野

ナノテク・材料 / 薄膜、表面界面物性 /

経歴

2001年 - 2002年

オーフス大学（デンマーク）博士研究員
2000年 - 2001年

科学技術振興事業団戦略的基礎研究推進事業「量子効果等の物理現象」博士研究員

学歴

論文

Photoinduced force microscopy imaging using heterodyne-FM technique

Junsuke Yamanishi, Masaaki Tsujii, Yoshitaka Naitoh, Yanjun Li, Yasuhiro Sugawara

Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering 10712 2018年査読有り
Separation of atomic-scale spin contrast on NiO(001) by magnetic resonance force microscopy

Eiji Arima, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

JOURNAL OF PHYSICS-CONDENSED MATTER 29(40) 404001 2017年10月査読有り
Subatomic-scale force vector mapping above a Ge(001) dimer using bimodal atomic force microscopy

Yoshitaka Naitoh, Robert Turansky, Jan Brndiar, Yan Jun Li, Ivan Stich, Yasuhiro Sugawara

NATURE PHYSICS 13(7) 663-+ 2017年7月査読有り
Heterodyne technique in photoinduced force microscopy with photothermal effect

J. Yamanishi, Y. Naitoh, Y. J. Li, Y. Sugawara

APPLIED PHYSICS LETTERS 110(12) 123102 2017年3月査読有り
Investigation of tunneling current and local contact potential difference on the TiO2(110) surface by AFM/KPFM at 78 K

Huan Fei Wen, Yan Jun Li, Eiji Arima, Yoshitaka Naitoh, Yasuhiro Sugawara, Rui Xu, Zhi Hai Cheng

Nanotechnology 28(10) 105704 2017年2月6日査読有り
Investigation of the surface potential of TiO2 (110) by frequency-modulation Kelvin probe force microscopy

Lili Kou, Yan Jun Li, Takeshi Kamijyo, Yoshitaka Naitoh, Yasuhiro Sugawara

NANOTECHNOLOGY 27(50) 2016年12月査読有り
Promoting Atoms into Delocalized Long-Living Magnetically Modified State Using Atomic Force Microscopy

Y. Kinoshita, R. Turansky, J. Brndiar, Y. Naitoh, Y. J. Li, L. Kantorovich, Y. Sugawara, I. Stich

NANO LETTERS 16(12) 7490-7494 2016年12月
Development of low temperature atomic force microscopy with an optical beam deflection system capable of simultaneously detecting the lateral and vertical forces

Eiji Arima, Huanfei Wen, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS 87(9) 2016年9月査読有り
Growth models of coexistingp(2 × 1) andc(6 × 2) phases on an oxygen-terminated Cu(110) surface studied by noncontact atomic force microscopy at 78 K

Yan Jun Li, Seung Hwan Lee, Yukinori Kinoshita, Zong Min Ma, Huanfei Wen, Hikaru Nomura, Yoshitaka Naitoh, Yasuhiro Sugawara

Nanotechnology 27(20) 205702-205702 2016年5月20日査読有り
Magnetic force microscopy using tip magnetization modulated by ferromagnetic resonance

Eiji Arima, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Satoru Yoshimura, Hitoshi Saito, Hikaru Nomura, Ryoichi Nakatani, Yasuhiro Sugawara

Nanotechnology 26 125701 2015年4月査読有り
Vertical atomic manipulation with dynamic atomic-force microscopy without tip change via a multi-step mechanism

J. Bamidele, S. H. Lee, Y. Kinoshita, R. Turansky, Y. Naitoh, Y. J. Li, Y. Sugawara, I. Stich, L. Kantorovich

NATURE COMMUNICATIONS 5 4476 2014年7月査読有り
Image formation and contrast inversion in noncontact atomic force microscopy imaging of oxidized Cu(110) surfaces

J. Bamidele, Y. Kinoshita, R. Turansky, S. H. Lee, Y. Naitoh, Y. J. Li, Y. Sugawara, I. Stich, L. Kantorovich

PHYSICAL REVIEW B 90(3) 035410 2014年7月査読有り
The stray capacitance effect in Kelvin probe force microscopy using FM, AM and heterodyne AM modes

Zong Min Ma, Lili Kou, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

NANOTECHNOLOGY 24(22) 225701 2013年6月査読有り
Quantification of Atomic-Scale Elasticity on Ge(001)-c(4 x 2) Surfaces via Noncontact Atomic Force Microscopy with a Tungsten-Coated Tip

Y. Naitoh, T. Kamijo, Y. J. Li, Y. Sugawara

PHYSICAL REVIEW LETTERS 109(21) 215501 2012年11月査読有り
Chemical tip fingerprinting in scanning probe microscopy of an oxidized Cu(110) surface

J. Bamidele, Y. Kinoshita, R. Turansky, S. H. Lee, Y. Naitoh, Y. J. Li, Y. Sugawara, I. Stich, L. Kantorovich

PHYSICAL REVIEW B 86(15) 155422 2012年10月査読有り
Complex design of dissipation signals in non-contact atomic force microscopy

J. Bamidele, Y. J. Li, S. Jarvis, Y. Naitoh, Y. Sugawara, L. Kantorovich

PHYSICAL CHEMISTRY CHEMICAL PHYSICS 14(47) 16250-16257 2012年査読有り
Fabrication of sharp tungsten-coated tip for atomic force microscopy by ion-beam sputter deposition

Yukinori Kinoshita, Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Yasuhiro Sugawara

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS 82(11) 2011年11月査読有り
Effect of Surface Stress around the SA Step of Si(001) on the Dimer Structure Determined by Noncontact Atomic Force Microscopy at 5 K

Yoshitaka Naitoh, Yan Jun Li, Hikaru Nomura, Masami Kageshima, Yasuhiro Sugawara

JOURNAL OF THE PHYSICAL SOCIETY OF JAPAN 79(1) 2010年1月査読有り

所属学協会

日本物理学会

共同研究・競争的資金等の研究課題

極低温磁場中AFMによる鉄酸化膜の表面ナノ磁性に関する研究

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