論文

査読有り
2016年9月

Development of low temperature atomic force microscopy with an optical beam deflection system capable of simultaneously detecting the lateral and vertical forces

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
  • Eiji Arima
    • ,
  • Huanfei Wen
    • ,
  • Yoshitaka Naitoh
    • ,
  • Yan Jun Li
    • ,
  • Yasuhiro Sugawara
巻
87
号
9
記述言語
英語
掲載種別
研究論文（学術雑誌）
DOI
10.1063/1.4962865
Web of Science ® 被引用回数 : 18
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リンク情報
DOI
https://doi.org/10.1063/1.4962865
Web of Science
https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=JSTA_CEL&SrcApp=J_Gate_JST&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=WOS:000385634500014&DestApp=WOS_CPL
ID情報
  • DOI : 10.1063/1.4962865
  • ISSN : 0034-6748
  • eISSN : 1089-7623
  • Web of Science ID : WOS:000385634500014
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