論文

2016年2月

Distance dependence of atomic-resolution near-field imaging on alpha-Al2O3 (0001) surface with respect to surface photovoltage of silicon probe tip

NANO RESEARCH
  • Junsuke Yamanishi
    • ,
  • Takashi Tokuyama
    • ,
  • Yoshitaka Naitoh
    • ,
  • Yan Jun Li
    • ,
  • Yasuhiro Sugawara
巻
9
号
2
開始ページ
530
終了ページ
536
記述言語
英語
掲載種別
研究論文（学術雑誌）
DOI
10.1007/s12274-015-0934-4
Web of Science ® 被引用回数 : 1
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リンク情報
DOI
https://doi.org/10.1007/s12274-015-0934-4
Web of Science
https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=JSTA_CEL&SrcApp=J_Gate_JST&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=WOS:000371798800025&DestApp=WOS_CPL
ID情報
  • DOI : 10.1007/s12274-015-0934-4
  • ISSN : 1998-0124
  • eISSN : 1998-0000
  • Web of Science ID : WOS:000371798800025
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