論文

査読有り

2015年10月

Atomic force microscopy identification of Al-sites on ultrathin aluminum oxide film

Nanotechnology

Yan Jun Li
J Brndiar
Y Naitoh
Y Sugawara
I Štich

巻: 26
号
開始ページ: 505704 (1)
終了ページ: 505704 (5)
記述言語: 英語
掲載種別: 研究論文（学術雑誌）
DOI: 10.1088/0957-4484/26/50/505704

リンク情報

DOI: https://doi.org/10.1088/0957-4484/26/50/505704

ID情報

DOI : 10.1088/0957-4484/26/50/505704

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