論文

2019年1月1日

Atomic-scale elastic property probed by atomic force microscopy

Comprehensive Nanoscience and Nanotechnology
  • Yoshitaka Naitoh
  • ,
  • Yan Jun Li
  • ,
  • Yasuhiro Sugawara

1-5
開始ページ
33
終了ページ
52
記述言語
英語
掲載種別
論文集(書籍)内論文
DOI
10.1016/B978-0-12-803581-8.10438-2
出版者・発行元
Elsevier

リンク情報
DOI
https://doi.org/10.1016/B978-0-12-803581-8.10438-2
ID情報
  • DOI : 10.1016/B978-0-12-803581-8.10438-2
  • SCOPUS ID : 85078650029

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