加藤健太郎 (Kentaroh KATOH) - マイポータル

基本情報

所属: 福岡大学工学部電子情報工学科

学位: 博士（工学）(千葉大学大学院)

J-GLOBAL ID: 201301022108231062
researchmap会員ID: B000233082

研究キーワード

研究分野

委員歴

2024年4月 - 現在

情報処理学会システムとLSIの設計技術研究運営委員会, 運営委員
2012年10月 - 2018年10月

電子情報通信学会機能集積情報システム研究会, 専門委員

論文

A Fine Delay Measurement Using Forward and Backward Phase Shift for Online Failure Prediction and Analysis

Kentaroh Katoh, Toru Nakura, Xiaoqing Wen, Haruo Kobayashi

Journal of Technology and Social Science (JTSS) 8(1) 12-22 2024年7月査読有り筆頭著者責任著者
Low distortion sine wave generator with simple harmonics cancellation circuit and filter for analog device testing

Shogo Katayama, Takayuki Nakatani, Daisuke Iimori, Misaki Takagi, Yujie Zhao, Anna Kuwana, Keno Sato, Takashi Ishida, Toshiyuki Okamoto, Tamotsu Ichikawa …

IEICE Electronics Express 20(1) 20220470-20220470 2023年1月10日査読有り
Metallic Ratio Equivalent-Time Sampling and Application to TDC Linearity Calibration

Shuhei Yamamoto, Yuto Sasaki, Yujie Zhao, Anna Kuwana, Kentaroh Katoh, Zheming Zhang, Jianglin Wei, Tri Minh Tran, Shogo Katayama, Keno Sato …

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 22(2) 142-153 2022年6月査読有り
Revisit to Histogram Method for ADC Linearity Test: Examination of Input Signal and Ratio of Input and Sampling Frequencies

Yujie Zhao, Kentaroh Katoh, Anna Kuwana, Shogo Katayama, Jianglin Wei, Haruo Kobayashi, Takayuki Nakatani, Kazumi Hatayama, Keno Sato, Takashi Ishida …

Journal of Electronic Testing 38(1) 21-38 2022年2月査読有り
An Analysis of Time Domain Reed Solomon Decoder with FPGA Implementation

Kentaro KATO, Somsak CHOOMCHUAY

IEICE Transactions on Information and Systems E100.D(12) 2953-2961 2017年査読有り筆頭著者責任著者
Time-to-Digital Converter-Based Maximum Delay Sensor for On-Line Timing Error Detection in Logic Block of Very Large Scale Integration Circuits

加藤健太郎

Journal of Sensors and Materials, Vol.27,No.10 pp.933-943 27(10) 933-943 2015年査読有り筆頭著者責任著者
A Small Chip Area Stochastic Calibration for TDC Using Ring Oscillator

Journal of Electric Testing Vol.30-No.6 30(6) 653-663 2014年12月査読有り筆頭著者責任著者
Analog/mixed-signal circuit design in nano CMOS era

Haruo Kobayashi, Hitoshi Aoki, Kentaroh Katoh, Congbing Li

IEICE Electronics Express 11(3) 20142001-20142001 2014年査読有り
An On-Chip Delay Measurement Technique Using Signature Registers for Small-Delay Defect Detection

加藤健太郎

IEEE Transactions on Very Large Scale Integration Systems, Vol. 20, No. 5, pp. 804-817 20(5) 804-817 2012年5月査読有り筆頭著者責任著者
Area Reduction Techniques for Embedded Delay Measurement Using Signature Registers

加藤健太郎

鶴岡工業高等専門学校研究紀要,第46号 pp.61～66 2012年2月査読有り
差分によるVLSI回路の遅延測定

加藤健太郎

電子情報通信学会論文誌 D, Vol.J93-D, No.4 93(4) 460-468 2010年4月査読有り
高集積化システムＬＳＩのためのスキャンテスト設計法

加藤健太郎

千葉大学 2009年3月筆頭著者責任著者
Design for Delay Fault Testability of Dual Circuits Using Master and Slave Scan Paths

加藤健太郎

IEICE Trans. Inf. & Syst., Vol. E92-D, No.3 E92D(3) 433-442 2009年3月査読有り筆頭著者責任著者
Design for Delay Fault Testability of 2-Rail Logic Circuits

加藤健太郎

IEICE Trans. Inf. & Syst., Vol. E92-D, No. 2 E92D(2) 336-341 2009年2月査読有り筆頭著者責任著者
Two-Stage Stuck-at Fault Test Data Compression Using Scan Flip-Flops with Delay Fault Testability

加藤健太郎

IPSJ Trans. Syst. LSI Des, Method, Vol.1 pp. 91-103 1 91-103 2008年8月査読有り筆頭著者責任著者
環境との相互作用を用いた自律移動ロボットの識別能力の進化的獲得

加藤健太郎

名古屋大学 1997年3月筆頭著者責任著者

MISC

Toward Unification of Digital Error Correction Algorithms for ADCs with Redundancy

Haruo Kobayashi, Tomohiko Ogawa, Yutaro Kobayashi, Kentaroh Katoh, Jiangling Wei

IEEE 17th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology 2024年10月招待有り
Renaissance of ADC Testing Fundamentals

Haruo Kobayashi, Keno Sato, Takayuki Nakatani, Shuhei Yamamoto, Anna Kuwana, Yujie Zhao, Jianglin Wei, Kentaroh Katoh

IEEE 6th International Conference on Circuits and Systems 2024年9月招待有り最終著者
Error Correction and Self-Calibration of Analogue- Digital Mixed-Signal Integrated Circuits

Haruo Kobayashi, Kentatoh Katoh

International Summit on Semiconductors, Optoelectronics and Nanostructures (ISSON2024), 2024年5月査読有り招待有り
A Fine On-Chip Online Delay Measurement Using a MUX Chain for Failure Prediction and Analysis

Kentaroh Katoh, Toru Nakura, Xiaoqing Wen, Haruo Kobayashi

the 7th International Conference on Technology and Social Science ICTSS 2023 2023年12月査読有り招待有り筆頭著者責任著者
Low Distortion Sinusoidal Signal Generator with Harmonics Cancellation Using Two Types of Digital Predistortion

Keno Sato, Takayuki Nakatani, Takeshi Ishida, Toshiyuki Okamoto, Tamotsu Ichikawa, Shogo Katayama, Daisuke Iimori, Misaki Takagi, Yujie, Zhao, Shuhei Yamamoto …

IEEE Int. Test Conf., Oct. 2023, to appaear 2023年10月査読有り
A Physically Unclonable Function Using Time-to-Digital Converter with Linearity Self-Calibration and its FPGA Implementation

Kentaroh Katoh, Shuhei Yamamoto, Zheming Zhao, Yujie Zhao, Shogo Katayama, Anna Kuwana, Takayuki Nakatani, Kazumi Hatayama, Haruo Kobayashi, Keno Sato …

7th IEEE Int. Test Conf. in Asia, Shimane, Japan, Oct. 2023, to appear 2023年9月査読有り筆頭著者責任著者
Inductor ESR Compensation for LC Analog Filters

Misaki Takagi, T. Nakatani, S. Katayama, D. Iimori, G. Ogihara, Y. Zhao, S. Yamamoto, Kobayashi

32nd International Workshop on Post-Binary ULSI Systems (ULSIWS) Matsue, Shimane, Japan 2023年5月査読有り
Design Consideration for LC Analog Filters: Inductor ESR Compensation, Mutual Inductance Effect and Variable Center Frequency

Misaki Takagi, Takayuki Nakatani, Shogo Katayama, Daisuke Iimori, Gaku Ogihara, Yujie Zhao, Anna Kuwana, Keno Sato, Takashi Ishida, Toshiyuki Okamoto …

8th International Congress on Information and Communication Technology (ICICT 2023) 2023年2月査読有り
SAR Time-to-Digital Converter with 1 ps Resolution for LSI Test System

D. Iimori, T. Nakatani, S. Katayama, M. Takagi, Y. Zhao, A. Kuwana, K. Katoh, K. Hatayama, H. Kobayashi, K. Sato …

8th International Congress on Information and Communication Technology (ICICT 2023) 2023年2月査読有り
Signal Estimation by Prony's Method for Application to ADC Testing

Siwei Li, Anna Kuwana, Yuki Yanadori, Shogo Katayama, Keno Sato, Takashi Ishida, Toshiyuki Okamoto, Tamotsu Ichikawa, Kentaroh Katoh, Takayuki Nakatanii …

2022年12月査読有り
Effect of the Delay Elements Variation on Time-to-Digital Converter Linearity

Zhang Zheming, Anna Kuwana, Shogo Katayama, Shuhei Yamamoto, Kentaroh Katoh, Keno Sato, Takashi Ishida, Toshiyuki Okamoto, Tamotsu Ichikawa, Takayuki Nakatani …

the 11th International∙Science, Social Sciences, Engineering and Energy Conference I-SEEC 2022, the 6th International Conference on Technology and Social Science ICTSS 2022 2022年12月査読有り
Time-to-Digital Converter Linearity Calibration with Metallic Ratio Sampling

Shuhei Yamamoto, Kentaroh Katoh, Zheming Zhao, Yujie Zhao, Shogo Katayama, Anna Kuwana, Keno Sato, Takashi Ishida, Toshiyuki Okamoto, Tamotsu Ichikawa …

the Joint International Conferences of the 11th International∙Science, Social Sciences, Engineering and Energy Conference I-SEEC 2022, the 6th International Conference on Technology and Social Science ICTSS 2022 2022年12月査読有り
A Physical Unclonable Function Using Time-to-Digital Converter

Kentaroh Katoh, Shuhei Yamamoto, Zheming Zhao, Yujie Zhao, Shogo Katayama, Anna Kuwana, Keno Sato, Takashi Ishida, Toshiyuki Okamoto, Tamotsu Ichikawa …

the Joint International Conferences of the 11th International∙Science, Social Sciences, Engineering and Energy Conference I-SEEC 2022, the 6th International Conference on Technology and Social Science ICTSS 2022 2022年12月査読有り筆頭著者責任著者
High Precision Voltage Measurement System Utilizing Low-End ATE Resource and BOST

Keno Sato, Takayuki Nakatani, Shogo Katayama, Daisuke Iimori, Gaku Ogihara, Takashi Ishida, Toshiyuki Okamoto, Tamotsu Ichikawa, Yujie Zhao, Kentaroh Katoh …

2022 IEEE 31st Asian Test Symposium (ATS) 2022年11月査読有り
Evaluation of Code Selective Histogram Algorithm For ADC Linearity Test

Yujie Zhao, Kentaroh Katoh, Anna Kuwana, Shogo Katayama, Daisuke Iimori, Yuki Ozawa, Takayuki Nakatani, Kazumi Hatayama, Haruo Kobayashi, Keno Sato …

2022 IEEE International Conference on Consumer Electronics-Asia (ICCE-Asia) 2022年10月26日査読有り
Challenges for Waveform Sampling and Related Technologies

Haruo Kobayashi, Kentaroh Katoh, Shuhei Yamamoto, Yujie Zhao, Shogo Katayama, Jianglin Wei, Yonglun Yan, Dan Yao, Xueyan Bai, Anna Kuwana

2022 IEEE 16th International Conference on Solid-State & Integrated Circuit Technology (ICSICT) 2022年10月25日査読有り
Recent Innovation of Waveform Acquisition Methods: Residue Sampling and Metallic Ratio Sampling

Haruo Kobayashi, Anna Kuwana, Shogo Katayama, Shuhei Yamamoto, Yujie Zhao, Kentaroh Katoh, Yonglun Yan, Koji Asami, Masahiro Ishida

11th IEEE International Conference on Communications, Circuits and Systems 2022年5月査読有り
Innovative Practices Track: Innovative Analog Circuit Testing Technologies

Chris Mangelsdorf, Manasa Madhvaraj, Salvador Mir, Manuel Barragan, Daisuke Iimori, Takayuki Nakatani, Shogo Katayama, Gaku Ogihara, Yujie Zhao, Jianglin Wei …

2022 IEEE 40th VLSI Test Symposium (VTS) 2022年4月25日査読有り
Deterministic Path Delay Measurement Using Short Cycle Test Pattern

Kentaro Kato

2017 IEEE 26th Asian Test Symposium (ATS) 2017年11月査読有り筆頭著者責任著者
A low area calibration technique of TDC using variable clock generator for accurate on-line delay measurement

Kentaroh Katoh, Kazuteru Namba

Sixteenth International Symposium on Quality Electronic Design 2015年3月査読有り

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所属学協会

2024年4月 - 現在

情報処理学会
2004年7月 - 現在

米国電気学会
2002年6月 - 現在

電子情報通信学会

共同研究・競争的資金等の研究課題

動的命令コード符号化を用いたハッキング検出可能車載向けセキュアプロセッサの開発

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 2018年4月 - 2021年3月

加藤健太郎
PRAMの書き込み時間削減に適した符号

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 2015年4月 - 2018年3月

難波一輝, 加藤健太郎

加藤健太郎

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