層電荷密度の異なる各種の粘土鉱物について配向膜を作製し,メチレンブルーを包接して,その配向性・会合状態を偏光可視紫外分光と粉末X線回折によって調べた.層電荷密度の減少に伴い,層間でのメチレンブルーの分子の量が減少し,会合体形成が抑制され,モノマーの割合が増加した.その結果,底面間隔の減少を導いた.