MISC

2018年6月20日

低速陽電子ビームによるシリカプラズマ重合膜のサブナノ細孔解析

アイソトープ・放射線研究発表会要旨集
  • 吉本茂
  • ,
  • 吉本茂
  • ,
  • 伊藤賢志
  • ,
  • 熊谷和博
  • ,
  • 細見博之
  • ,
  • 竹田正明
  • ,
  • 都留稔了

55th
開始ページ
64
終了ページ
記述言語
日本語
掲載種別

リンク情報
J-GLOBAL
https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201802283585904425
ID情報
  • J-Global ID : 201802283585904425

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