2018年6月20日 低速陽電子ビームによるシリカプラズマ重合膜のサブナノ細孔解析 アイソトープ・放射線研究発表会要旨集 吉本茂, 吉本茂, 伊藤賢志, 熊谷和博, 細見博之, 竹田正明, 都留稔了 巻 55th 号 開始ページ 64 終了ページ 記述言語 日本語 掲載種別 リンク情報 J-GLOBALhttps://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201802283585904425 ID情報 J-Global ID : 201802283585904425 エクスポート BibTeX RIS