特許権 汚れの影響を受けにくいひずみ分布測定方法とそのプログラム 国立研究開発法人産業技術総合研究所 王 慶華, 李 志遠, 津田 浩 出願番号 特願2017-193334 出願日 2017年10月3日 公開番号 特開2019-066369 公開日 2019年4月25日 リンク情報 J-GLOBALhttps://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201903020326567357 ID情報 J-Global ID : 201903020326567357