論文

筆頭著者

2018年10月

Defect Detection in Billet Using Plane-Wave and Time-of-Flight Deviation with Transmission Method

Proceedings of 2018 IEEE International Ultrasonics Symposium

Ryusuke Miyamoto
Koichi Mizutani
Naoto Wakatsuki
Tadashi Ebihara

記述言語: 英語
掲載種別: 研究論文（国際会議プロシーディングス）
DOI: 10.1109/ultsym.2018.8579782
出版者・発行元: IEEE

リンク情報

DOI: https://doi.org/10.1109/ultsym.2018.8579782
URL: http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/8556632/8579609/08579782.pdf?arnumber=8579782

ID情報

DOI : 10.1109/ultsym.2018.8579782

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