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佐藤 高史
Takashi Sato
更新日: 03/11
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VLSI Design and Test for Systems Dependability
Takashi Sato (担当:分担執筆, 範囲:Chapter 6, Time-Dependent Degradation in Device Characteristics and Countermeasures by Design)
Springer 2019年4月 (ISBN: 9784431565925)
Circuit Design for Reliability
Reis, Cao, Wir (担当:分担執筆, 範囲:Chapter 5)
Springer 2014年11月 (ISBN: 9781461440772)
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits
Grasser, Tibor (担当:分担執筆, 範囲:Chapter 19 and 20, pp.719-782,)
Springer 2013年12月
動画像からのロバストな心拍数推定
佐藤高史 (担当:分担執筆)
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