論文

査読有り
2017年1月

Efficient Circuit Failure Probability Calculation Along Product Lifetime Considering Device Aging

ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC)
  • H. Awano
    • ,
  • M. Hiromoto
    • ,
  • T. Sato
開始ページ
93
終了ページ
98
記述言語
英語
掲載種別
研究論文（国際会議プロシーディングス）
DOI
10.1109/ASPDAC.2017.7858302
リンク情報
DOI
https://doi.org/10.1109/ASPDAC.2017.7858302
Web of Science
https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=JSTA_CEL&SrcApp=J_Gate_JST&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=WOS:000403609600029&DestApp=WOS_CPL
ID情報
  • DOI : 10.1109/ASPDAC.2017.7858302
  • ISSN : 2153-6961
  • Web of Science ID : WOS:000403609600029
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